首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

ITO薄膜直流反应磁控溅射制备及性能研究
引用本文:夏冬林,杨晟,王树林,赵修建. ITO薄膜直流反应磁控溅射制备及性能研究[J]. 材料导报, 2005, 19(11): 113-114,117
作者姓名:夏冬林  杨晟  王树林  赵修建
作者单位:武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室,武汉,430070;武汉工程大学材料科学与工程学院,武汉,430073
基金项目:武汉理工大学校科研和教改项目
摘    要:以90wt%In和10wt%Sn铟锡合金为靶材,采用直流磁控反应溅射法在玻璃基片制备ITO透明导电薄膜.用紫外-可见光分光光度计、四探针电阻仪、XRD和SEM分别测试了ITO薄膜的紫外-可见光透射光谱、方块电阻、薄膜的结构和表面形貌.研究了氧分压对ITO薄膜性能的影响.实验结果表明,ITO薄膜随着氧分压的增加,薄膜紫外透射光谱的吸收截止边带向短波长方向漂移.随着氧分压的增大,ITO薄膜的方块电阻增加,结晶程度变好,晶粒尺寸变大.

关 键 词:直流磁控反应溅射法  ITO  薄膜  光电性能

Growth and Properties of ITO Thin Films by DC Reactive Magnetron Sputtering
XIA Donglin,YANG Sheng,WANG Shulin,ZHAO Xiujian. Growth and Properties of ITO Thin Films by DC Reactive Magnetron Sputtering[J]. Materials Review, 2005, 19(11): 113-114,117
Authors:XIA Donglin  YANG Sheng  WANG Shulin  ZHAO Xiujian
Affiliation:1 Key Laboratory for Silicate Materials Science and Engineering, Ministry of Education, Wuhan University of Technology, Wuhan 430070~2 School of Materials Science and Engineering, Wuhan Institute of Technology, Wuhan 430073
Abstract:
Keywords:ITO
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号