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光点与会聚测试系统的设备需求与配置
引用本文:杨晓伟,李晓华,陈福朝,王琦龙.光点与会聚测试系统的设备需求与配置[J].真空科学与技术学报,2003,23(1):53-56.
作者姓名:杨晓伟  李晓华  陈福朝  王琦龙
作者单位:1. 东南大学电子工程系,南京,210018
2. LG.Philips Display Netherlands B.V
摘    要:光点测试和会聚测试是验证CPT电子枪偏转线圈性能的重要手段之一。本文提出基于合理的测试方法、有效适当的测试设备 ,建立最佳的测试系统。针对光点测试和会聚测试系统中的各种设备 ,介绍它们的应用原理及应用效果 ,从而了解在测试CPT光点质量和会聚误差过程中测试系统的设计原理及设备配置原理

关 键 词:光点  会聚  配置  优化设计
文章编号:0253-9748(2003)01-0053-04
修稿时间:2002年8月2日

Optical Spot and Convergence Measurements: Instrumentation and Technical Requirement
Gerard van Veldhoven.Optical Spot and Convergence Measurements: Instrumentation and Technical Requirement[J].JOurnal of Vacuum Science and Technology,2003,23(1):53-56.
Authors:Gerard van Veldhoven
Abstract:Both the optical spot measurement and the convergence measurements play a key role in evaluating the performance of the electron gun and the deflection coil in fabricating color picture tubes (CPT).Various aspects of the existing equipment for optical spot and convergence measurement ,including their operating principles,their strengths and weaknesses in application,were analyzed to provide CPT designer with adequate information on measurement technique,equipment selection and measurement skills.
Keywords:Spot  Convergence  Configuration  Optimization design  
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