铁电薄膜研究中的几个重要问题 |
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引用本文: | 肖定全.铁电薄膜研究中的几个重要问题[J].功能材料,2003,34(5):479-481. |
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作者姓名: | 肖定全 |
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作者单位: | 四川大学,材料科学系,四川,成都,610064 |
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基金项目: | 国家自然科学基金重点资助项目(50132020);国家基础研究资助项目(Z06) |
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摘 要: | 近十多年来,铁电薄膜及集成铁电器件一直是材料科学工作者和电介质物理工作者关注和研究的热点之一。要使集成铁电器件得到更广泛的应用,还应针对铁电薄膜本身和铁电薄膜异质结构开展更深入的研究。本文针对铁电薄膜的疲劳、老化和电压漂移、电阻等特性退变,以及薄膜异质结构的表面和界面等问题,结合作者的研究工作。进行比较概括的分析,并提出一些解决问题的方法。
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关 键 词: | 铁电薄膜 集成铁电器件 铁电材料 疲劳 异质结构 老化 电压漂移 电阻 |
文章编号: | 1001-9731(2003)05-0479-03 |
修稿时间: | 2002年10月23 |
Investigation on some important aspects in ferroelectric thin film researches |
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Abstract: | |
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Keywords: | ferroelectric thin films integrated ferroelectric device ferroelectrics fatigue |
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