双层腔体屏蔽效能随孔缝位置与数量变化规律研究

孔缝位置及数量会影响电磁波衍射，进而对双层腔体屏蔽效能产生重要影响。以中心位置携带单孔缝的双层腔体为研究对象，基于Robinson等效电路法与电磁拓扑理论，推导得到计算平面波辐照下双层腔体屏蔽效能的Baum-Liu-Tesche(BLT)方程。通过将偏心系数Cm与Robinson孔阵阻抗引入BLT方程，使修正后的BLT方程能计算含有任意孔缝位置与数量的双层腔体屏蔽效能。结果表明，双层腔体屏蔽效能随着内外层孔缝重合面积的减小而升高；当面积一定时，屏蔽效能随孔缝数量的增多而提高，然而，孔缝长度与波长相等时，屏蔽效能降低至极小值。BLT方程计算结果与CST仿真结果基本一致，并且计算时间极大幅度降低，证明修正后的BLT方程具有可靠性与快速性，为计算双层腔体屏蔽效能提供了一种有效且快速的方法。