双层腔体屏蔽效能随孔缝位置与数量变化规律研究 |
| |
作者姓名: | 张岩 田铮 王川川 杨清熙 王思飞 |
| |
作者单位: | 河北科技大学电气工程学院 石家庄 050018;陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应国家级重点实验室 石家庄 050003;河北科技大学电气工程学院 石家庄 050018;电子信息系统复杂电磁环境效应国家重点实验室 洛阳 471003;陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应国家级重点实验室 石家庄 050003 |
| |
基金项目: | 国家自然科学基金(61801480);;河北省自然科学基金(E2019208443);;河北省高等学校科学技术研究项目(ZD2021202); |
| |
摘 要: | 孔缝位置及数量会影响电磁波衍射,进而对双层腔体屏蔽效能产生重要影响。以中心位置携带单孔缝的双层腔体为研究对象,基于Robinson等效电路法与电磁拓扑理论,推导得到计算平面波辐照下双层腔体屏蔽效能的Baum-Liu-Tesche(BLT)方程。通过将偏心系数Cm与Robinson孔阵阻抗引入BLT方程,使修正后的BLT方程能计算含有任意孔缝位置与数量的双层腔体屏蔽效能。结果表明,双层腔体屏蔽效能随着内外层孔缝重合面积的减小而升高;当面积一定时,屏蔽效能随孔缝数量的增多而提高,然而,孔缝长度与波长相等时,屏蔽效能降低至极小值。BLT方程计算结果与CST仿真结果基本一致,并且计算时间极大幅度降低,证明修正后的BLT方程具有可靠性与快速性,为计算双层腔体屏蔽效能提供了一种有效且快速的方法。
|
关 键 词: | 等效电路法 电磁拓扑理论 双层屏蔽腔体 BLT方程 屏蔽效能 |
本文献已被 万方数据 等数据库收录! |