| 一种高性能多重峰值检测VLSI结构 |
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| 引用本文： | 孙华杰,邸志雄,陈迪贝,向乾尹,郑宗良,冯全源.一种高性能多重峰值检测VLSI结构[J].微电子学,2018,48(1):28-31, 36. |
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| 作者姓名： | 孙华杰 邸志雄 陈迪贝 向乾尹 郑宗良 冯全源 |
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| 作者单位： | 西南交通大学 信息科学与技术学院, 成都 611756,西南交通大学 信息科学与技术学院, 成都 611756;西南交通大学 微电子研究所, 成都 611756,西南交通大学 信息科学与技术学院, 成都 611756,西南交通大学 信息科学与技术学院, 成都 611756;西南交通大学 微电子研究所, 成都 611756,西南交通大学 信息科学与技术学院, 成都 611756;西南交通大学 微电子研究所, 成都 611756,西南交通大学 信息科学与技术学院, 成都 611756;西南交通大学 微电子研究所, 成都 611756 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金青年基金资助项目(61504110,61401375)；国家自然科学基金重点资助项目(61531016)；四川省科技支撑计划重点资助项目(2016GZ0059,2017GZ0110) |
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| 摘 要： | 现有的大部分峰值检测VLSI都是基于基-2的树结构,性能较低,还会消耗大量的芯片资源。针对此不足,提出一种高性能多重峰值检测VLSI。该峰值检测VLSI可在大量数据中找到N个峰值,并输出峰值的坐标。采用了控制电路同构化和数据通道“Push-Pull”机制,达到简化控制电路、压缩数据通路逻辑延迟的目的。基于TSMC 90 nm CMOS工艺,对电路进行了性能评估。结果表明,在不同极值个数下,该VLSI最高频率可达1 GHz,最大面积仅为42 205 μm2。
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| 关 键 词： | 峰值检测 VLSI 排序 |
| 收稿时间： | 2017/8/30 0:00:00 |
A High Performance VLSI Structure for Multiple-Peak Value Detection |
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| SUN Huajie,DI Zhixiong,CHEN Dibei,XIANG Qianyin,ZHENG Zongliang and FENG Quanyuan.A High Performance VLSI Structure for Multiple-Peak Value Detection[J].Microelectronics,2018,48(1):28-31, 36. |
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| Authors: | SUN Huajie DI Zhixiong CHEN Dibei XIANG Qianyin ZHENG Zongliang and FENG Quanyuan |
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| Affiliation: | School of Information Science and Technology, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China,School of Information Science and Technology, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China;Institute of Microelectronics, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China,School of Information Science and Technology, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China,School of Information Science and Technology, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China;Institute of Microelectronics, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China,School of Information Science and Technology, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China;Institute of Microelectronics, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China and School of Information Science and Technology, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China;Institute of Microelectronics, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756, P.R.China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | peak detection VLSI sorting |
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