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一种快速精确的GaAs MESFET寄生参数提取方法
引用本文:刘桂云,张义门,张玉明. 一种快速精确的GaAs MESFET寄生参数提取方法[J]. 半导体学报, 2005, 26(4): 760-763
作者姓名:刘桂云  张义门  张玉明
作者单位:西安电子科技大学微电子所,西安,710071;西安电子科技大学微电子所,西安,710071;西安电子科技大学微电子所,西安,710071
摘    要:提出了一种快速精确地提取GaAs MESFET寄生参数方法.这种方法以两组S参数为基础,应用解析表达式直接确定GaAs MESFET的九个寄生参数.该方法适用范围广.以一个0.3μm×280μm商用器件的一组寄生参数为基础,对该方法进行了验证.

关 键 词:GaAs MESFET  寄生参数  提取参数
文章编号:0253-4177(2005)04-0760-04
修稿时间:2004-04-18

Fast and Accurate Extraction of Parasitic Parameters for GaAs MESFET Device Models
Liu Guiyun,Zhang Yimen,Zhang Yuming. Fast and Accurate Extraction of Parasitic Parameters for GaAs MESFET Device Models[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2005, 26(4): 760-763
Authors:Liu Guiyun  Zhang Yimen  Zhang Yuming
Abstract:
Keywords:GaAs MESFET  parasitic parameter  extracting parameter
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