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Micromachining by Focused Ion Beam (FIB) for Materials Characterization
Authors:P.&#x  P. Jud,P.&#x  M. Nellen,U. Sennhauser
Affiliation:P. P. Jud,P. M. Nellen,U. Sennhauser
Abstract:
Keywords:Focused ion beam (FIB)  Micromachining  Microscopy
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