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| 框架式断路器的触头超程公差仿真分析技术 | |
| 作者姓名： | 刘爱强 王华章 张金泉 候东旭 |
| 作者单位： | 江苏大全集团凯帆电器股份有限公司;南京航空航天大学; |
| 摘 要： | 基于产品设计中的尺寸管理思想,结合计算机仿真分析软件VSA和分析技术,以框架式断路器为例对断路器的触头超程理论值进行公差分析。通过预测和控制制造偏差、优化设计来提高产品尺寸质量和降低产品生产成本与开发周期。 |
| 关 键 词： | 框架式断路器 公差分析 公差值 仿真分析 超程 贡献因子 动静触头 正态分布 分析技术 动触头 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |