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差分放大器中的不匹配效应及消除方法
引用本文:朱小瑜,李津. 差分放大器中的不匹配效应及消除方法[J]. 现代电子技术, 2009, 32(16): 25-27,31
作者姓名:朱小瑜  李津
作者单位:1. 西安工程大学,陕西,西安,710048;河南工程学院,河南,郑州,450007
2. 河南工程学院,河南,郑州,450007
摘    要:叙述模拟集成电路设计中关于MOS管不匹配特性的一些基本概念,以及随着加工尺寸的不断减小,MOS管所引起的一系列短沟道效应,进而描述整个MOS管模型的发展历史,以此说明一个精确模型对模拟电路设计的重要意义.然后进一步阐述因MOS管失配而引起电路性能变差,尤其是对整个D/A转换器性能的影响;进而采用改进技术,并对其进行了进一步验证.针对放大器引起的失调,介绍通过版图设计消除失配的原理,并且运用电路设计方法进行消除,采用TSMC0.25μm标准CMOS工艺参数对其进行仿真验证.针对D/A的电流源失配引起的电路性能变差,采用了电流源自校准技术,并对这种方法进行了仿真验证,取得了不错的成果.

关 键 词:不匹配  模型  MOS放大器  工艺参数

Method to Eliminate Mismatch of Differential Amplifier
ZHU Xiaoyu,LI Jin. Method to Eliminate Mismatch of Differential Amplifier[J]. Modern Electronic Technique, 2009, 32(16): 25-27,31
Authors:ZHU Xiaoyu  LI Jin
Abstract:
Keywords:
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