电子探针分析方法及其在电接触材料研究中的应用 |
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引用本文: | 吴春萍,;王鸿宇,;翁桅,;李素华,;周孑民,;易丹青,;徐国富.电子探针分析方法及其在电接触材料研究中的应用[J].电工材料,2014(4):33-37. |
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作者姓名: | 吴春萍 ;王鸿宇 ;翁桅 ;李素华 ;周孑民 ;易丹青 ;徐国富 |
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作者单位: | [1]中南大学材料科学与工程学院有色金属材料科学与工程教育部重点实验室,长沙410083; [2]福达合金材料股份有限公司,浙江温州325025; [3]中南大学能源科学与工程学院,长沙410083 |
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基金项目: | 湖南省自然科学杰出青年基金资助项目(14JJ3014); 中国博士后科学基金项目(2012M521542); 浙江省博士后科研择优资助项目(Bsh1202); 中央高校基本科研业务专项基金资助(2012QNT003); 国家科技支撑计划课题(2014BAC03B05) |
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摘 要: | 电子探针是在电子光学和X射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。为了使材料研究者更好地了解电子探针的分析功能和利用电子探针进行材料的研究与分析,本文介绍了JXA-8230型电子探针工作原理和主要分析方法,并采用电子探针对AgNi触头材料进行了定性、定量和元素面扫描分析。结果表明,AgNi触头中除了含有Ag和Ni元素外,还含有少量的C和W元素,其中W元素主要分布在Ni相中。
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关 键 词: | 电子探针 工作原理 电接触材料 |
Analysis Method Micro-Analyzer in and Application AgNi Electrical of Eletron Probe Contact Materials |
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Affiliation: | WU Chun-ping, WANG Hong-yu, WENG Wei, LI Su-hua, ZHOU Jie-min, YI Dan-qing, XU Guo-fu (1. Key Laboratory for Nonferrous Metal Materials of the Ministry of Education, School of Materials Science and Engineering, Central South University, Changsha 410083, China; 2. Fuda Alloy Materials Co., Ltd., Zhejiang Wenzhou 325025, China; 3.School of Energy Science and Engineering, Central South University, Changsha 410083, China) |
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Abstract: | Electron probe micro-analyzer is a kind of high efficient analysis instrument, and it develops based on the principle of electron optical and X-ray spectroscopy. In order to make the material researchers have a better understanding on the analysis function of electron probe micro-analyzer and a better use of electron probe micro-analyzer for analyzing materials, this paper introduces the working principle and main analysis methods of the Japanese electronic JXA-8230 type electron probe micro-analyzer. In addition, quality analysis, quant analysis and mapping analysis of AgNi electrical contact materials are carried on by electrical probe micro-analyzer. Results show that AgNi electrical contact materials contain not only Ag and Ni, but also C and W. |
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Keywords: | EPMA working principle electrical contact materials |
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