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伪邻近点法分析薄膜磁致伸缩测试中异常数据
引用本文:唐军,杨仕清,张万里,蒋洪川,彭斌,陈志川.伪邻近点法分析薄膜磁致伸缩测试中异常数据[J].计量学报,2007,28(1):74-76.
作者姓名:唐军  杨仕清  张万里  蒋洪川  彭斌  陈志川
作者单位:电子科技大学微电子与固体电子学院,四川,成都 610054;电子科技大学微电子与固体电子学院,四川,成都 610054;电子科技大学微电子与固体电子学院,四川,成都 610054;电子科技大学微电子与固体电子学院,四川,成都 610054;电子科技大学微电子与固体电子学院,四川,成都 610054;电子科技大学微电子与固体电子学院,四川,成都 610054
摘    要:采用伪邻近点法,对薄膜磁致伸缩系数测试试验中得到的不同性质的测试数据分别进行处理,发现它们具有确定性的特征,从而可得测试中异常状态基本由系统本身引起,这样通过调节及改进测试系统就能减小其影响,得到较为可靠的光点位移数据。

关 键 词:计量学  磁致伸缩  伪邻近点法  自噪声  延时重构  嵌入维数
文章编号:1000-1158(2007)01-0074-03
修稿时间:2005年7月19日

Analysis of Abnormal Data in the Measurement of Film Magnetostriction by False Neighbor Method
TANG Jun,YANG Shi-qing,ZHANG Wan-li,JIANG Hong-chuan,PENG Bin,CHEN Zhi-chuan.Analysis of Abnormal Data in the Measurement of Film Magnetostriction by False Neighbor Method[J].Acta Metrologica Sinica,2007,28(1):74-76.
Authors:TANG Jun  YANG Shi-qing  ZHANG Wan-li  JIANG Hong-chuan  PENG Bin  CHEN Zhi-chuan
Abstract:The false neighbor method is used to analysis different kinds of test data of film magnetostriction.The analysis results show that all the abnormal data have the similar characteristic,which implies they are resulted from the measurement system itself.So credible data can be obtained by adjusting and improving the measurement system.
Keywords:Metrology  Magnetostriction  False neighbors method  White noise  Delay reconstruction  Embedding dimension
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