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| 内置自测试结构加速混合信号IC的测试 | |
| 作者姓名： | 理 |
| 摘 要： | 今天强调的系统芯片和有关测试问题趋向于把它们安排在不断增加的混合信号设计的数字部分。尽管数字部分经常被视为SoC电路的一小部分，但是从测试开发和测试执行两者的观点看来，却是问题最多的地方。在决定混合信号系统芯片测试策略时，实际上有四种选择。第一种方法是通过混合信号自动测试设备（ATE)加入功能化数字和模拟测试激励来验证设计的功能性。这种方法的优点是能非常全面地检测部件的性能，但是要花费比功能芯片设计时间更多的开发时间。生产测试的时间可能很长，表示测试费用会超过实际的硅成本。因而，目前更多的讨论着重于… |
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