| 基于紫外成像技术的劣化绝缘子放电动态特性分析 |
| |
| 引用本文： | 林瑞聪,缪希仁,郭谋发,陈彬.基于紫外成像技术的劣化绝缘子放电动态特性分析[J].绝缘材料,2014(5). |
| |
| 作者姓名： | 林瑞聪 缪希仁 郭谋发 陈彬 |
| |
| 作者单位： | 1. 福州大学 电气工程与自动化学院,福州,350108
2. 福建省电力科学研究院,福州,350007 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金项目(51377023)；福建高校产学合作科技重大项目 |
| |
| 摘 要： | 针对绝缘子状态检测技术的特点及其局限性，分析紫外成像技术的研究现状，确定以紫外光斑面积作为放电过程特征参量的可行性，利用3次傅里叶函数对500 kV绝缘子紫外图像数据加以拟合处理，表明劣化绝缘子的放电过程具有周期性闪烁特点。提出对放电过程连续视频图像特征量量化特性参数进行统计分析，将有助于提高紫外成像法在绝缘子劣化检测及其故障类型辨识中的应用。
|
| 关 键 词： | 紫外成像 绝缘子 放电过程 动态特性 视频图像 特征参数 |
Analysis on Discharge Dynamic Characteristics of Faulty Insulator Based on UV Imaging Technology |
| |
| Lin Ruicong,Miao Xiren,Guo Moufa,Chen Bin.Analysis on Discharge Dynamic Characteristics of Faulty Insulator Based on UV Imaging Technology[J].Insulating Materials,2014(5). |
| |
| Authors: | Lin Ruicong Miao Xiren Guo Moufa Chen Bin |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | UV imaging insulator discharge process dynamic characteristics video image characteristic parameters |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
