| 少数载流子寿命测试系统研究 |
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| 引用本文： | 赵毅强,翟文生,王健,刘铁臣.少数载流子寿命测试系统研究[J].红外与激光工程,2001,30(3):226-229. |
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| 作者姓名： | 赵毅强 翟文生 王健 刘铁臣 |
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| 作者单位： | 航天机电集团第三研究院第八三五八研究所, |
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| 摘 要： | 少数载流子寿命是衡量半导体材料性能的关键参数之一 ,文中介绍了光电导衰退法少数载流子寿命测试系统。阐述了光电导衰退法测试原理 ,分析了测试系统构成 ,以及光脉冲下降沿时间、微弱信号放大处理、前放带宽、精密定位等关键技术 ,其主要性能指标是 :少数载流子寿命测试范围 :1× 10 - 7～ 6× 10 - 6s ;可测样品尺寸 :小于 2 0mm ;单色光光点大小 :Φ 0 .3mm ;测试数据稳定度优于 10 %。
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| 关 键 词： | 少数载流子寿命 光电导衰退法 测试系统 |
| 文章编号： | 1007-2276(2001)03-0226-04 |
| 修稿时间： | 2000年11月9日 |
Study on measuring system for minority carrier lifetime |
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| ZHAO Yi-qiang,ZHAI Wen-sheng,WANG Jian,LIU Tie-chen.Study on measuring system for minority carrier lifetime[J].Infrared and Laser Engineering,2001,30(3):226-229. |
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| Authors: | ZHAO Yi-qiang ZHAI Wen-sheng WANG Jian LIU Tie-chen |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Minority carrier lifetime Method of photoconductive decay (PCD) Measuring system |
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