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存储示波表中常用电气参数测量设计
引用本文:宋跃 周明辉 雷瑞庭 谭爱群. 存储示波表中常用电气参数测量设计[J]. 微计算机信息, 2005, 11(31): 114-116
作者姓名:宋跃 周明辉 雷瑞庭 谭爱群
作者单位:宋跃(523808,广东,东莞,东莞理工学院电子工程系)      周明辉(411201,湖南,湘潭湖南科技大学信息与电气工程学院)      雷瑞庭(411201,湖南,湘潭湖南科技大学信息与电气工程学院)      谭爱群(523808,广东,东莞,东莞理工学院电子工程系)
基金项目:湖南省自然科学基金项目(02JJY5011)、省科技攻关项目(03GKY3046)及东莞理工学院科研项目.
摘    要:在基于ARM&MCU的存储示波表设计中,为满足高精度多元电气参数测量,选用了ADS1211 24位的AD转换芯片实现了5位半的万用表测量,运用等精度和闸门计数技术在FPGA中实现通用计数器参数测量,实验表明该设计是行之有效的.本文讨论了系统设计方案,重点给出了ADS1211应用、FPGA的设计思想和实现方法.

关 键 词:电气参数测量  ADS1211  万用表  通用计数器  FPGA
文章编号:1008-0570(2005)11-1-0114-03
修稿时间:2005-03-29

Design of Measurement of Common Electric Parameters in Memory Oscillograph
Abstract:
Keywords:
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