| 基于非线性插值的IC芯片检测算法 |
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| 引用本文： | 柯晓丹,盛文蔚,王石刚.基于非线性插值的IC芯片检测算法[J].计算机测量与控制,2003,11(8):627-629. |
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| 作者姓名： | 柯晓丹 盛文蔚 王石刚 |
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| 作者单位： | 上海交通大学,机械与动力工程学院,上海,200030 |
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| 摘 要： | 提出把Jensen非线性插值算法用于对IC芯片引脚的长、宽及脚间距等尺寸的计算机视觉检测中，同时结合划分子区域检测策略，能使检测精度达到子象素级，检测速度达到在线检测的要求。实验证明了这种方法的可行性。
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| 关 键 词： | IC芯片检测算法 非线性插值 计算机视觉 表面组装技术 集成电路 电子元器件 |
| 文章编号： | 1671-4598(2003)08-0627-03 |
| 修稿时间： | 2003年3月2日 |
IC Device Inspection Based on Nonlinear Interpolation Algorithm |
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| KE Xiao-dan,SHENG Wen-wei,WANG Shi-gang.IC Device Inspection Based on Nonlinear Interpolation Algorithm[J].Computer Measurement & Control,2003,11(8):627-629. |
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| Authors: | KE Xiao-dan SHENG Wen-wei WANG Shi-gang |
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| Abstract: | Nonlinear interpolation algorithm is proposed in IC device dimension inspection. Combining with the strategy of dividing sub-regions, experiments have verified that the result resolution is in sub-pixel level and the speed also meets the requirements of on-line IC device inspection by this method. |
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| Keywords: | computer vision nonlinear interpolation IC device inspection |
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