嵌入式P端口SRAM的端口间故障测试

为了有效地测试嵌入式P端口静态随机存取存储器(SRAM)端口间的故障,提高电子系统的安全性,提出一种基于结构故障模型的故障测试算法.首先对March C-算法扩展得到w-r算法,即让一个端口执行March C-算法的同时另一个端口于偏移量为±2的地址并行执行伪读操作,并考虑存储器的规则结构给出了其简化算法;然后提出w-w算法,通过2个端口向存储器单元并行写(不同的地址),可有效地激发2个写端口之间的各种故障,使之适用于不同物理布局的存储器,在保证时间复杂度合理的前提下提高了端口间的故障覆盖率.将故障注入64×8位的双端口SRAM中进行仿真实验,得出了故障检测表,验证了其时间复杂度低,表明文中算法具有100%的端口间故障覆盖率.     

针对嵌入式Cache的内建自测试算法

通过分析嵌入式Cache存储器中使用的双端口字定向静态存储器(SRAM)和内容可寻址存储器(CAM)的功能故障模型,提出了有效地针对嵌入式应用的DS-MarchC E和DC—March CE测试算法,解决了以往算法用于嵌入式系统时故障覆盖率低或测试时间长导致测试效率低的问题．利用March CE算法并结合Cache系统的电路结构特点,设计并实现了一套集中管理的内建自测试测试方案．此方案可以并行测试Cache系统中不同容量、不同端口类型的存储器,并且能够测试地址变换表(TLB)的特殊结构,测试部分面积不到整个Cache系统的2％．     

深亚微米SoC芯片的可测试性设计

深亚微米工艺使SoC芯片集成越来越复杂的功能,测试开发的难度也不断提高。由各种电路结构以及设计风格组成的异构系统使测试复杂度大大提高,增加了测试时间以及测试成本。描述了一款通讯基带SoC芯片的DFT实现,这款混合信号基带芯片包含模拟和数字子系统,IP核以及片上嵌入式存储器,为了满足测试需求,通过片上测试控制单元,控制SoC各种测试模式,支持传统的扫描测试以及专门针对深亚微米工艺的,操作在不同时钟频率和时钟域的基于扫描的延迟测试模式,可配置的片上存储器的BIST操作以及其它一些特定测试模式。     

基于典型集成电路的自动测试演示验证研究

当前国产超大规模集成电路测试设备由于技术指标、工作可靠性、制造成本等诸多因素,在国内尚未得到大规模的市场应用;从集成电路的测试需求出发,给出了自研超大规模集成电路测试系统的总体架构组成,重点开展了基于典型集成电路的自动测试演示验证方法研究,并以国产某型超大规模静态存储器芯片作为演示验证的对象,利用自研测试系统完成了基于静态存储器芯片的自动测试演示验证试验;试验结果表明基于典型集成电路的自动测试演示验证方法和过程合理可行,能够为国产新研超大规模集成电路测试系统推广前的自动测试演示验证提供参考,同时可结合不同类型集成电路的测试需求深入应用到各类集成电路的测试过程。     

嵌入式系统软件可靠性设计与测试方法

通过设计与初始化ARM s3c2410内部的存储器保护系统MPU来保护睡眠任务的存储空间不受当前运行任务的非法访问,有效增强了嵌入式系统软件的可靠性.并利用LDRA Testbed测试套件对项目中的代码进行了静态分析、复杂度分析、图形化分析,得出了各项测试结果,准确地评估了所设计出的系统的可靠性,并给出了优化建议.     

SMARTWATCH的控制和应用

本文从硬件,软件两个方面概述了对Smartwatch芯片的时间寄存器和不破坏RAM存储器正确读写的控制和应用过程,并经静态测试和动态调试取得成功。     

基于同步有向图的同步测试序列生成方法

使用多测试单元的测试系统可以对多端口协议实现进行一致性测试，但是在进行这种一致性测试时，测试系统各个端口之间可能会出现同步问题，现在，解决同步问题常用的办法是在测试单元相应端口之间增加同步连接，然后通过此同步连接相互发送同步消息来进行同步，多端口协议和其它类型的分布式系统可以用有限状态机模型来描述，目前，同步问题被分为双端口同步问题，多端口同步问题，紧同步问题等多种类型，该文考虑两种有限状态机测试问题，第一种是面向端口的测试，不考虑有限状态机测试单元之间的通信问题，第二种面向组的测试，有限状态机中的各个端口被分成互不相关的多个组，属于不同组中的测试单元之间互不通信，该文提出了一种基于同步有向图的同步测试序列生成方法，这种生成方法适用于Pair同步，Port同步和组同步问题，并且，这种方法也可以用来判断如何在非同步测试序列中增加同步通信，将非同步测试序列转化为同步测试序列。     

基于LabWindows存储器模块测试系统的架构及软件设计

随着以计算机为核心的测量技术理念不断创新,设计了一个软硬件协同的存储器模块自动化测试系统,实现了对多类型存储器模块,包括符合某航空标准总线的存储器模块以及非标准类型的专用双口通信模块、串行存储器接口模块、并行存储器接口模块等多种类型的存储器模块的功能和性能测试;该测试系统的硬件基于NI公司的高速波形发生器板卡,在软件的控制下产生测试信号并对存储器模块的响应进行收集分析;软件基于LabWindows平台,设计了三层多线程软件架构,提供数据库支持,提高了测试系统自动化程度;在长时间硬件和软件测试后该系统已投入应用,结果表明系统运行稳定可靠;文章重点讨论了该测试系统的架构和软件的设计及实现。     

基于边界扫描的SRAM测试技术的研究与实现北大核心

静态随机存储器(SRAM)应用广泛,必须充分测试以保证其高可靠性;应用边界扫描的虚拟探针技术实现SRAM测试,分析SRAM功能结构并建立测试模型;以HY6264SRAM存储器为被测对象进行DEMO板可测性设计,应用TCL语言描述其测试信息;实验证明,该方法可完成对SRAM外围线(包括控制线、数据线和地址线)和存储单元的测试与故障诊断,结果正确且诊断定位具体,具有较好的应用前景。     

扩展D-矩阵分割在测试序列生成中的应用

D-矩阵是系统装备测试与诊断的基础,为克服一般D-矩阵信息的不足,提出了一种扩展的D-矩阵,较好的反映了装备的属性,解决了D-矩阵功能故障定义中信号失效易混淆的问题;在扩展D-矩阵的测试序列生成过程中,提出了矩阵分割应用于测试序列优化的方法,用例表明该方法可显著降低计算复杂度,且提高故障隔离的指向性,避免各类测试交叉进行的情况.     

软件测试入门浅谈

文中结合自己软件测试入门阶段的体会介绍了识别测试需求、设计测试用例和执行测试用例,其中识别测试需求重点介绍主动获取需求、确认需求的优先级两方面,设计测试用例着重介绍了测试用例的基本格式、加强测试用例的评审和定义测试用例的执行顺序,执行测试用例主要介绍搭建软件测试环境,执行测试用例和更新测试用例几个方面。     

基于脚本的构件测试自动化框架

针对传统的测试自动化技术已不适用于构件的问题,提出基于脚本的构件测试自动化框架。将面向对象单元测试自动化框架xUnit与数据驱动的测试框架结合并改进,实现构件测试脚本自动生成、测试脚本自动执行、测试结果自动验证与记录。实例表明,该框架能有效对构件进行自动化测试,自动化程度较高。     

HC／HCT系列电路测试程序设计

目前，在整机系统上，HC／HCT类电路应用还十分广泛。严格测试电路的功能及交、直流参数十分必要。在多年测试实践基础上，文章提出了HC系列电路测试程序设计概要，对于一些关键测试技术亦作了较为详细地阐述。     

自动化测试脚本自动生成技术的研究

软件自动化测试技术的出现，大大减轻了软件测试人员的测试压力，显著提高了测试工作的效率，但是自动化测试脚本的编写和维护工作也是测试自动化所面临的一项挑战。针对自动化测试脚本的编写和维护工作中遇到的困难，提出了一种基于RFT的测试脚本自动产生的方法，从而有效地提高了测试工作的效率，降低编写和维护测试脚本的开销。     

自动化测试脚本自动生成技术的研究

软件自动化测试技术的出现,大大减轻了软件测试人员的测试压力,显著提高了测试工作的效率,但是自动化测试脚本的编写和维护工作也是测试自动化所面临的一项挑战。针对自动化测试脚本的编写和维护工作中遇到的困难,提出了一种基于RFT的测试脚本自动产生的方法,从而有效地提高了测试工作的效率,降低编写和维护测试脚本的开销。     

Web应用测试集成环境的研究与设计

提出了Web应用的层次化测试方法,设计并实现了Web应用测试集成环境,该环境面向科学数据库系统平台软件测试的需要,对测试需求管理、测试脚本生成、自动化测试执行、测试报告生成等任务进行了集中化的处理.     

一个支持持续集成的移动应用功能测试框架*

为了更加有效地检测移动应用缺陷,论文提出了一个自动化测试框架;该框架包含了常见GUI控件识别、测试用例生成,排序以及事件流模型的API。框架根据应用程序GUI运行时状态信息生成可执行的测试用例;这些测试用例可以组织成测试套件。一个实际案例证明了该框架如何贯穿整个测试流程,降低测试自动化工作的复杂性。     

测试用例最小化研究*

给出了测试用例最小化问题的形式化描述,提出并实现了两个新的用于用例最小化的算法.与现有其他最小化算法不同,这两个算法在考虑了每个用例测试覆盖度的同时,还考虑了用例的测试运行代价,目的是提高最小化效率.最后给出了对这两个算法进行实例研究的实验结果.结果表明,用例最小化技术能有效缩减回归测试用例集的尺寸,大幅度降低回归测试费用,提高最小化效率.     

基于TestStand的检波功率放大器测试软件的开发应用

针对传统检波功率放大器测试设备测试效率低、操作繁琐、易误操作的缺点,设计了基于TestStand的检波功率放大器自动测试软件。该软件充分利用TestStand多线程并行高速执行的特点,实现了多套产品的同时自动测试;通过设计自定义测试项,并且将测试流程和测试项的设计分离,增强了软件的复用性和维护性;实际应用证明,该软件提高了测试效率,降低了测试成本,促进了自动测试设备领域的新发展。     

航天器数字化测试模式设计与应用

随着航天事业的发展,航天器将迎来高密度的研制和发射任务。测试设计和实施同步、测试现场消耗大的测试模式导致测试效率低下,不能满足未来的综合测试需求。为解决航天器测试效率不能适应测试任务的问题,设计了航天器数字化测试模式。搭建数字化测试平台,实现测试准备、测试实施、测试评估全周期自动化。基于数字化测试平台,开展综合测试专业化设计与实施。推进测试设计与测试实施分离,将测试设计工作前移,测试设计人员通过测试用例与测试判据的精细化设计,将测试准备工作做充分,实现测试实施和评估过程自动化。数字化测试模式应用于多个航天器型号综合测试,形成多个固化测试用例数据库,有效提升测试效率,为后续型号测试能力的提升奠定坚实的基础。