高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术研究

高加速寿命试验（HALT,highly accelerated life test）和高加速应力筛选试验（HASS,highly accelerated stress test）技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具。本文将就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的特点、关键保证,以及如何利用现有可靠性试验设备逐步开展该试验,以达到缩减研发时间与成本,提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。     

加速极限试验方法综述

介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术

文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选（HALT＆HASS）技术,重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时间与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。     

浅谈高加速寿命试验和高加速应力筛选

本文简要介绍了高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选(HASS)试验技术的产生、作用及应用对象，重点阐述了HALT／HASS试验技术基本原理和试验过程．     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术综述

介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤,并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。     

电子设备可靠性的加速试验

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则...     

HALT/HASS试验技术在电子电工产品的应用

本文基于高加速寿命试验(HALT)和高加速筛选试验(HASS)的详细介绍,重点分析两种试验方法的可靠性测试步骤,并揭示其应用领域及实用价值。由于加速可靠性试验可使用户很快确定电子电工产品的可靠性,它在实际质量控制中成为比较有效地手段。高加速寿命试验HALT和高加速筛选试验HASS是非常有效地加速可靠性技术,它已在制造业中推广。其中HALT是在电工产品设计阶段使用,它可快速暴露设计缺陷以便重更改设计,消除缺陷,从而减少维修费用。HASS是在电子电工产品的生产阶段使用,它可快速暴露任何工艺缺陷。     

高加速应力筛选(HASS)概述

高加速应力筛选（HASS）是一种新兴的试验技术，用于产品的生产阶段。在暴露和剔除产品的制造和工艺缺陷，提高可靠性，降低野外失败和返修率等方面非常有效。从研究开发HASS的背景出发，介绍了HASS的目的及作用，重点探讨了高加速的基本原理，典型的HASS过程。     

外饰车灯高加速寿命试验技术应用分析

对高加速寿命试验技术在外饰车灯中的应用进行了分析.首先,介绍了高加速寿命试验(HALT)的基本原理和一般步骤;然后,对某公司生产的前照灯进行了HALT,并对试验结果进行了分析;最后,根据受试产品的实际情况对试验方案进行了优化,并对试验过程中应注意的事项进行了总结,从而为外饰车灯及类似产品的标准制定和质量控制提供了一定的参考.     

简讯

中茂电子对外开放HALT＆HASS系统测试实验室中茂电子(深圳)有限公司从美国QualMark公司引进了国内第一套高加速性寿命测试及应力筛选系统(HALT＆HASS),建立了“加速寿命测试实验室”。使用该系统可将原需花费六个月至一年的新品可靠度试验时间缩短到一至两周。HALT＆HASS是美国电子业界的标准     

可靠性强化试验及其在雷达研制生产中的应用

可靠性强化试验技术正是一项新型的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比,在产品设计中,使用高加速寿命试验与高加速应力筛选技术,有助于设计出成熟的产品。文中对可靠性强化试验技术进行了简要的介绍,讨论了可靠性强化试验对于加强雷达质量控制的作用,并对如何深入开展可靠性强化试验的应用工作提出了建议。     

高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS)

将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中，可在产品批量生产前消除设计缺陷，缩减开发时间和成本，快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力。     

HALT测试综述

HALT(highly accelerated life testing)测试,主要应用于产品研发设计阶段,对于暴露产品的潜在缺陷效果明显,是设计工程师提高产品可靠性的重要实验手段.目前该实验方法已被国内外电子业界充分认可并逐渐推广使用.本文介绍了HALT测试对提高产品可靠性的重要性,阐释了与HALT实验相关的一些术语和定义,并就如何进行HALT实验进行了较详细的论述,内容涉及实验前的准备工作、实验参数的规格指标、实验设备的能力要求以及实验步骤和实验细节等.文章还对HALT实验后关于测试报告和后续整改及验证的要求进行了概括.     

Failure analysis of video processor defined as No Fault Found (NFF): Reproduction in system level and advanced analysis technique in IC level

This paper has studied the video processors for Flat Panel Display (FPD) which is defined as No Fault Found (NFF) among field failures. NFF phenomenon of video processor was the initial feature of field failure and showed Composite Video Broadcast Signal (CVBS) noise but it worked properly after some hours. NFF phenomenon has been a rising issue in the field of electronic device and the system recently. Highly Accelerated Life Testing (HALT) method has been used to reproduce field failure symptom. Modulated exciting technique has been applied as stress profile. Through the above, it was possible to reproduce the symptom which is the same as the field failure. Fault isolation and the defect was detected through the Advanced failure analysis method such as backside polishing, PEM, OBIRCH, and SEM. And it explains the defect and suggests the stress factor which can cause the defect.     

Process reliability screening in situ

A critical element of process technology development is reliability and consequently reliability testing. Environmental stress tests such as Unbiased Highly Accelerated Stress Test (UHAST), Temperature Humidity Bias (THB), Thermal Cycling and High Temperature Storage (HTS) are traditionally performed on sample products or standard product-like qualification vehicles when introducing a new process technology. Because of the long cycle time for assembly and reliability stressing, these tests are not typically performed as part of the development cycle. This paper describes the use of HTS and UHAST at the wafer level to evaluate a new backend process currently in development.     

一种电子元器件高加速寿命试验指标的探讨

高加速寿命试验用于识别设计缺陷和制造问题,提高设计强度极限,但不能评估产品的可靠性。该文在分析了产品可靠性可以通过相对性评估的基础上,探讨了在高加速寿命试验的框架下的半数失效时间（FT50）评价指标和试验方法,并讨论了它用于电子元器件可靠性评估的方式。