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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。  相似文献   

2.
介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤,并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。  相似文献   

3.
高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述   总被引:3,自引:0,他引:3  
高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT&HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。  相似文献   

4.
刘宏 《电子测试》2009,(3):5-8,22
高加速寿命试验(HALT,highly accelerated life test)和高加速应力筛选试验(HASS,highly accelerated stress test)技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具。本文将就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT&HASS的特点、关键保证,以及如何利用现有可靠性试验设备逐步开展该试验,以达到缩减研发时间与成本,提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。  相似文献   

5.
高加速寿命试验和高加速应力筛选技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选(HALT&HASS)技术,重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时间与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。  相似文献   

6.
电子设备可靠性的加速试验   总被引:2,自引:1,他引:1  
简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选试验(HASS)的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则...  相似文献   

7.
高加速应力筛选(HASS)概述   总被引:4,自引:1,他引:3  
高加速应力筛选(HASS)是一种新兴的试验技术,用于产品的生产阶段。在暴露和剔除产品的制造和工艺缺陷,提高可靠性,降低野外失败和返修率等方面非常有效。从研究开发HASS的背景出发,介绍了HASS的目的及作用,重点探讨了高加速的基本原理,典型的HASS过程。  相似文献   

8.
本文基于高加速寿命试验(HALT)和高加速筛选试验(HASS)的详细介绍,重点分析两种试验方法的可靠性测试步骤,并揭示其应用领域及实用价值。由于加速可靠性试验可使用户很快确定电子电工产品的可靠性,它在实际质量控制中成为比较有效地手段。高加速寿命试验HALT和高加速筛选试验HASS是非常有效地加速可靠性技术,它已在制造业中推广。其中HALT是在电工产品设计阶段使用,它可快速暴露设计缺陷以便重更改设计,消除缺陷,从而减少维修费用。HASS是在电子电工产品的生产阶段使用,它可快速暴露任何工艺缺陷。  相似文献   

9.
文立 《今日电子》2003,(5):57-57
日前,中茂电子(深圳)有限公司举办了“HALT & HASS测试技术研讨会”。该公司量测仪器事业部负责人吴建德先生介绍了HALT和HASS的发展和应用等方面的问题。HALT测试HALT加速寿命试验包括四个主要过程:温度应力(temp step stress)、高速温度传导(rapid thermal transitions)、随机振动(random vibration)和温度及振动合并应力(combine environment oftemperature and vibration)。1.温度阶段应力:这项试验分为低温及高温两个阶段应力,首先执行低温阶段应力(Low Temp Step Stress),将待测物放在综合环境试验机(OVS CombinedStres…  相似文献   

10.
对高加速寿命试验技术在外饰车灯中的应用进行了分析.首先,介绍了高加速寿命试验(HALT)的基本原理和一般步骤;然后,对某公司生产的前照灯进行了HALT,并对试验结果进行了分析;最后,根据受试产品的实际情况对试验方案进行了优化,并对试验过程中应注意的事项进行了总结,从而为外饰车灯及类似产品的标准制定和质量控制提供了一定的参考.  相似文献   

11.
简讯     
中茂电子对外开放HALT&HASS系统测试实验室中茂电子(深圳)有限公司从美国QualMark公司引进了国内第一套高加速性寿命测试及应力筛选系统(HALT&HASS),建立了“加速寿命测试实验室”。使用该系统可将原需花费六个月至一年的新品可靠度试验时间缩短到一至两周。HALT&HASS是美国电子业界的标准  相似文献   

12.
高加速应力试验及极限应力试验综述   总被引:2,自引:0,他引:2  
介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(limit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等。指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测。  相似文献   

13.
HALT与HASS技术原理概述   总被引:2,自引:1,他引:1  
面对激烈的市场竞争以及顾客对高质量、低成本产品的需要,如何使产品尽快、成熟地完成设计,从而以高质量产品快速占领市场,对产品的设计制造企业来讲显得尤为重要。而要达到这些目的,就必须使用一些高效率的工具来辅助完成产品设计,以保证顾客使用到可靠的和高质量的产品。HALT与HASS技术正是这一过程有力的支持工具。在产品设计中,使用HALT与HASS技术,有助于设计出成熟的产品,达到较高的费效比。  相似文献   

14.
通过对引信寿命评估试验和高加速寿命试验(HALT)的特点进行分析,针对目前引信寿命试验的不足之处,提出了利用HALT中的有效信息来改进引信寿命评估的方法,例如:通过选择积极的加速因子和估算试验所需的时间来改进加速寿命试验,使之能够快速、精确地评估产品的寿命;在引信的研制过程中,当样本量较小时,可以利用改进的加速寿命试验来进行引信寿命的评估,使之能够快速地评估引信的中位寿命。  相似文献   

15.
本文介绍了HALT和HASS技术的概念和内涵,探讨了混合集成电路HALT和HASS技术应用的基本原理以及具体的应用方法和流程。  相似文献   

16.
高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS)   总被引:2,自引:0,他引:2  
将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中,可在产品批量生产前消除设计缺陷,缩减开发时间和成本,快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力。  相似文献   

17.
陆继田 《电子世界》2014,(18):212-213
阐述了高加速应力试验的本质是通过施加远超过产品设计规范规定的各种应力,快速地将产品内部的薄弱环节和缺陷激发出来,为改进设计和剔除早期故障提供信息.高加速应力试验的优点是可以得到高可靠的产品,且大大缩短产品研制进度和降低成本.这里列举了部分在IT、电子、机电等设备上成功应用HALTHASS取得效果的国际企业。  相似文献   

18.
0311721高加速应力筛选(HASS)概述[刊]/林震//电子产品可靠性与环境试验,—2002,(6),—57~61(D)高加速应力筛选(HASS)是一种新兴的试验技术,用于产品的生产阶段。在暴露和剔除产品的制造和工艺缺陷、提高可靠性、降低野外失效和返修率等方面非常有效。从研究开发HASS的背景出发,介绍了HASS的目的及作用,重点探讨了高加速的基本原理、典型的HASS过程。参50311722密封电子元器件内部水汽含量问题探讨[刊]/徐爱斌  相似文献   

19.
以某航空电子产品为对象,尝试通过HASS等效转化为传统筛选的方法进行筛选定量评价,探讨一套基于GJB/Z 34-1993,而且易以工程实施的HASS筛选定量评估方法,为军工电子产品批产可靠性控制应用新技术提供借鉴。  相似文献   

20.
鉴于传统的故障引入方法存在实现难度比较高、效率比较低的问题,提出了基于高加速寿命试验(HALT)来进行测试性验证的方法。HALT通过步进地加大应力并最终超过外场环境应力的方法,在短时间内就可以暴露足够的故障;功能测试贯穿于HALT试验的整个环境应力过程,这样就同时考察了产品的测试性。编写了辅助软件用于检测率验证试验设计和评估,并用等比例法来将HALT激发的故障数转化为软件中所要求的故障数。同时,用检测率加权求和的方法来解决分系统的检测率集成问题,从而完成了对整机检测率的评估。先后对门系统和整机进行了检测率验证,从而验证了该方法的正确性和实用性。  相似文献   

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