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应用X射线荧光光谱法测定矿石中的铁、铜、锡及轻元素,国内外已有报道。但应用X射线荧光光谱法测定汞矿石中的汞,国内还没有看到有关报道。本文提出了测汞的X射线荧光光谱法,试验证明:对含汞在0.0X%以上的汞矿石粉末样(-100 相似文献
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X射线荧光光谱法在高炉生铁快速分析中的应用 总被引:4,自引:0,他引:4
探讨了X射线荧光分析用生铁样品的制备方法,并实验应用Simultix11型X射线荧光光谱法仪对生铁进行炉前快速分析。与化学法相比,X射线荧光光谱法具有制样简单、分析速度快、结果准确等优点,分析Si、Mn、P、S、Ti的时间可由30min缩短到10min。 相似文献
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通过X射线荧光光谱法测定不锈钢的分析实验,找出了影响其分析精度和准确度的各种因素,并就其主要影响因素X光管的功率选择、试样的制备、类型标准化的参数设定等方面进行了分析研究.研究结果显示:应用X射线荧光光谱法测定不锈钢可完全替代化学湿法分析. 相似文献
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采用X射线荧光光谱法(XRF)测定热镀锌合金化镀层时,由于ZnKβ或FeKα特征谱线强度随着合金化层中Fe含量的变化而变化,导致镀层分析结果产生偏差。实验分别用X射线荧光光谱法和重量法进行合金化热镀锌样板的镀层质量检测,验证不同Fe含量变化对X射线荧光光谱法分析镀层质量的影响程度;建立了两种检验方法的差值与Fe含量的回归关系,利用w=(wFe-10.81)/0.9960+w'(其中w为校正后镀层质量;wFe为铁含量,%;w'为校正前X射线荧光光谱法测定的镀层质量)对X射线荧光光谱法测量镀层质量偏差的校正。研究表明:Fe质量分数控制在8%~12%范围内,采用X射线荧光光谱法测量合金化镀层质量能满足精度控制要求,可以接受;w(Fe)<8%或w(Fe)>12%时,利用回归方程式理论校正由于Fe含量变化引起的X射线荧光光谱法测量合金化镀层的偏差,提高了分析准确度。对不同Fe含量合金化热镀锌钢板镀层质量的验证结果表明,校正后镀层质量的测定值与重量法测定值一致。 相似文献
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石灰石是炼钢过程中的添加剂,具有造渣和脱硫的功能。针对石灰石中的化学成分检测需要用两种方法、过程繁琐、耗时长的问题,研究了用X射线荧光光谱法测定石灰石中的硫含量。将石灰石中各元素的含量检测均采用X射线荧光光谱法,具有操作简单、耗时短的优点。试验结果表明,该方法的准确性和稳定性均能满足日常生产分析要求。 相似文献
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开展典型矿床测试分析技术应用研究,提出适合实物地质资料的分析测试技术,加强实物地质资料的预研究能力,提升实物地质资料的服务利用水平。以湖南黄沙坪铅锌矿标本样品测试为例,分别采用便携式X射线荧光光谱仪、电子探针、扫描电镜、X射线荧光光谱仪、电感耦合等离子体质谱仪等分析仪器实施典型矿床分析测试实验。研究结果表明,便携式X射线荧光光谱仪无损测试技术适用于定性、半定量检测,异常查证等预研究,元素定量分析应以X射线荧光光谱法、电感耦合等离子体质谱法为主导,扫描电镜及电子探针微区分析方法配合使用进行矿物定名等研究。 相似文献
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本文较详细地介绍了X射线荧光分析(XRFA)中的几项新技术如全反射 X 射线荧光分析,同步辐射 X 射线荧光分析、X 射线微荧光分析及其在 XRFA 中的应用情况。 相似文献
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本文用X -射线荧光光谱法快速定量分析铅锌混合矿中银 ,通过对共存元素间基体吸收 -增强效应的校正 ,有效地解决了铅锌混合矿中铅基体变化时 ,对银的干扰问题 ,所得结果满足铅锌选矿冶炼工艺生产控制要求。 相似文献
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尝试用X射线荧光光谱法分析萤石中的CaF2、SiO2、P和S以及全铁(TFe)、K2O和Na2O,实现多元素同时分析。从样品制备、仪器工作条件选择及基体效应的影响等方面进行试验,找出最佳条件,取得了满意的结果。实验结果表明,用X射线荧光光谱法分析萤石中各元素成分,完全可以满足日常生产分析要求。 相似文献
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在地质勘查仪器设备中的X-荧光分析仪,尤其是便携式 X 射线荧光分析仪在矿物质样品检测中,矿物质样品通过X 射线中的照射的作用下散射出来的 X 射线,能够快速、高效率、批量地完成分析出各种金属元素成分,便携式 X 射线荧光分析仪在我国繁重的地质矿物质分析中起到了积极的作用。本文主要对便携式 X 射线荧光分析仪的工作原理及应用进行展开分析,并列举了便携式 X 射线荧光分析仪在矿石勘查中的应用,望本论文为地质勘查工作者提供参考。 相似文献
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为了准确快速的测定区域地球化学样品中的砷(As)含量,本文采用两种不同方法测定样品中的砷(As)含量。原子荧光光谱法的测定下限为0.16mg.kg-1,准确度为-0.009%~0.025%,精密度为2.93%~6.60%,X射线荧光光谱法的测定下限为4.0mg.kg-1,准确度为-0.097%~0.071%,精密度为0.90%~22.60%。通过结果比对原子荧光光谱法优于X射线荧光光谱法。 相似文献
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介绍了微波快速灼烧技术在X射线荧光光谱法分析还原铁中5种成分的应用。实验表明:采用微波灼烧技术对还原铁样品进行预氧化,还原铁样品烧损值近-30%时,相对标准偏差小于0.15%; 采用X射线荧光光谱法对微波灼烧后的还原铁样品进行测定,当TFe、SiO2、CaO、P2O5、Al2O3含量分别为89.96%、2.29%、0.11%、0.16%、0.78%时,其相对标准偏差分别为0.20%、4.1%、1.6%、1.4%、5.0%;还原铁样品的TFe含量在80%以上时,其测定结果的允许差在±0.5%以内,其它成分的X射线荧光光谱法分析结果与化学湿法分析结果也相符。 相似文献