偏振化能量色散X射线荧光光谱仪的新进展

能量色散X射线荧光光谱仪,由于其仪器本身结构比较简单,X射线的分析线强度利用率高,又能同时接受所有X射线光谱,近年来逐渐被广泛采用.特别半导体技术飞跃发展,促使半导体探测器分辨能力的提高,目前商品化的Si(Li)漂移探测器在MnKα5.9 keV处和计数率在10000cps以下时,其能量分辨率已达157 eV,这样大大扩大它的使用.从长远观点看,1998年47届Denver会议上,美国国家标准技术研究院(NIST)提出3 eV微热量计(micro calorimeter),其能量分辨率几乎可达到波长色散水平.当然目前由于成本昂贵,还没有达到实用阶段,另外偏振化技术的应用,使谱线散射背景大大降低,使能量色散X射线荧光痕量分析已达μg/g级,并成为地质、环保、冶金材料的科研和生产主导分析方法之一.从1992年开始斯派克分析仪器公司就开始生产偏振化能量色散X射线荧光光谱仪.     

新一代顺序式X射线荧光光谱仪——飞利浦PW2400型X射线荧光光谱仪

介绍了飞利浦ＰＷ２４００型新的Ｘ射线荧光光谱仪，它采用了多种新技术，包括脱Ｘ射线管（ＳＳＴ），直读光学定位传感器（ＤＯＰＳ）多道分析器（ＭＣＡ）及新的窗式软件。     

新的一代顺序式X射线荧光光谱仪飞利浦PW2400型X射线荧光光谱仪

本文着重介绍了飞利浦ＰＷ２４００新的Ｘ射线荧光光谱仪，它采用了 多种新技术，包括超锐Ｘ射线管，直接光学定位传感器，多道分析器及新的窗式软件。     

冶金发射光谱分析进展

本文简要论述了冶金发射光谱分析的最新进展。全文主要包括：（１）光导纤维的应用;（２）软件的发展;（３）光谱仪的自动化;（４）液钢分析;（５）痕量分析;（６）状态分析;（７）展望。     

工具钢的X射线荧光光谱分析

工具钢XRF分析的主要问题是谱线干扰和基体元素的影响。经扣除谱线重叠和数学校正基体元素后,钨(17％)的相对标准偏差为0.132％,硫和磷的检出限分别为4和2ppm,因此本方法完全适用于科研和生产的控制分析。     

ICP样品直接插入法分析高温合金车削样品中痕量易挥发元素的探讨

本文探讨了用ICP样品直接插入法分析高温合金车削样品中痕量易挥发元素。通过对信背比(S/B)的考查,确定了射频功率、观测高度及石墨杯在等离子体中的位置等ICP最佳操作参数。由于高温合金中的易挥发元素与基体元素两者蒸发行为差异较大,因此,通过对实验条件的控制,使痕量的铅、铋、锌、镉和铊等易挥发元素从基体中选择性地蒸发出来。实验利用了固体样品和溶液样品“发射强度一发射时间”总积分相同的特点,实现了用多元素标准溶液作固体样品分析的标准。实验得出结论,使高温合金车削样品中痕量易挥发元素的分析完全脱离化学标准是完全可以实现的。此方法的检测比常规的ICP溶液进样法低2～3个数量级。     

不锈耐酸钢的X射线荧光光谱分析

本文叙述了不锈耐酸钢中十二个元素的X射线荧光光谱分析方法。指出了扣除钢中各元素间K系、L系谱线重迭干扰的重要性。对理论比值和实验口值分别做了实验,讨论了各元素。值对分析结果的影响,口值与原子序数Z的关系和如何确定及准确使用口值等问题。最后用36个不同牌号的不锈钢标准试样验证了分析方法的准确度。 不锈耐酸钢由于它的优异特性,广泛应用于化工、石油等工业部门,它的主要合金元素有铬和镍。众所周知,铁、铬、镍三者间存在着严重的吸收和增强效应,如镍的     

水泥生料的偏振化能量色散X射线荧光光谱分析

引言能量色散X射线荧光光谱分析（EDXRF）有良好的适应性，能直接分析各种类型样品，如固体、粉末、液体试样，检测范围宽，无论常量元素或痕量元素（μg／g级）分析，特别是筛分分析的应用，能快速进行各类试样快速定性和半定量分析。近年来EDXRF又有了新的进展，主要是新的Si     

X射线荧光光谱分析进展

90年代以来,随着电子技术和电子计算机的飞速发展,X 射线光谱仪,X 荧光分析技术和计算机软件方面的进步是十分引人注目的。世界各主要仪器制造商相继推出了由计算机控制的高智能化、自动化和小型化的新一代产品,如 PW2600,PW2400,RIX3000,SRS3000,ARL8410等仪器,各种高级软     

镍基合金中铝、硅、钛、铬、钴、铌、钼、钨等十四个元素的X光荧光光谱分析

利用x光荧光光谱法测定镍基高温合金中的常量和微量元素时,由于成分复杂,除必须扣除谱线的重叠干扰外,还要对元素间的吸收—增强影响进行校正.本文在PW1600多道x光荧光光谱仪上进行了大量试验,在无理论α值的情况下,利用多元回归程序,求得元素间的影响系数α_(ij),从而用于各种牌号镍基合金成份的快速、准确分析.