激光拉曼分光计中杂散光的检测

本文介绍了一种激光拉曼分光计中杂散光的检测方法,可将测量限扩展到10~(-12)量级以下。对杂散光的检测方法和数据处理作了叙述和评价,给出了典型的杂散光分布曲线。研究了双单色仪各狭缝对杂散光的影响,对合理选择缝宽作了讨论。最后,根据实测数据对Spex 1403型双单色仪的杂散光水平作了评估。     

Ebert-Fastie型双层结构平面全息光栅双单色仪的光学设计

为满足空间紫外遥感高精度光谱辐射测量工作的要求,设计了一种Ebert-Fastie 型双层结构平面全息光栅双单色仪,由球面准直聚光镜、平面和屋脊转向镜、平面全息光栅及入射、出射和中间狭缝组成,扫描波长范围160 ～400 nm .这种双层结构的特点在于两块完全相同的平面全息光栅安装在同一转轴上做到同轴转动,不但把机构基本上简化为一个单色仪的结构,而且确保了两块光栅同步地进行光谱扫描,色散相加,光谱分辨率小于0.15 nm .此外,前后两单色系统被隔成基本封闭的腔体,用来割断两单色系统杂散光之间的相互影响,抑制整个系统的杂散光,整个系统的杂散光水平可达10 -6 ,满足空间紫外遥感高精度光谱辐射测量的要求.     

关于新的光电探测器光谱响应度工作标准的研究

本文介绍了新的光电探测器光谱响应度工作标准 ,该项标准参加了 2 0 0 0年CCPR(国际计量委员会所属光度和辐射咨询委员会 )组织的国际比对。在新的工作标准中 ,用调制光代替原来的直流光 ,以减少杂散光、噪声等对测量准确度的影响 ;用锥腔型热释电探测器代替原来的热电堆探测器作为参考探测器 ,用锁相测量仪器代替原来的直流测量仪器并增加温度控制 ,以便提高测量系统的灵敏度和光谱响应度标准的平坦程度 ,进而提高准确度 ;以双单色仪代替原来的单色仪 ,大大减少杂散光 ;同时增加了光谱响应度的绝对定标     

太阳能电池光谱响应度测量方法的分析与比较

介绍太阳能电池光谱响应度的两种测量方法,即滤色片法和单色仪法,分析和比较其优缺点,并用这两种方法,对不同类型的太阳能电池(单晶硅和多晶硅)进行测量。结果表明,单色仪法能够反映该位置处太阳能电池的光谱响应特性;滤色片法更能准确反映出整块太阳能电池的光谱响应特性。光谱响应度的准确计量是实现太阳能量值传递和比对的关键技术。     

平面衍射光栅的杂散光及其测量

本文分析了平面衍射光栅产生杂散光的原因,指出了影响杂散光的基本因素。详细讨论了测量光栅杂散光的光学衰减法,还对测量结果的可靠性作了分析。叙述了减少仪器杂散光的方法。     

杂散光对分光光度计测量结果的影响

可见分光光度计及紫外—可见分光光度计(UV-VIS)在制药行业中普遍使用,影响该仪器测量误差的因素很多,其中杂散光是主要来源之一。现就杂散光这一项目对仪器测量结果准确性的影响予以说明。所谓杂散光是指被光电转换接收器接收到的所设定波长的光谱带宽之外的其他波长的光。一、杂散光对测量吸光度的影响1郾公式推导:设ΔA=A0-A'式中:ΔA———吸光度真值与测量值之差;A0———吸光度真值(不考虑杂散光对测量结果的影响);A'———吸光度测量值(考虑杂散光对测量结果的影响)。根据比尔定律A=-logT摇即1/T=10A式中:A———吸光度;T——…     

一种利用干涉滤光片测量分光光度计杂散光的新方法

本文介绍了一种利用干涉滤光片测量分光光度计杂散光的新方法。实验证明：该方法更能全面地测量分光光度计的杂散光值，解决了传统方法只测单边或在几个特定点处测量的缺点，可实现在任意波长点处进行杂散光测量。     

杂散光对分光光度计测量结果的影响探讨

杂散光是分光光度计检定中一个必检的重要指标,其大小决定仪器的合格与否,而且,杂散光的偏差对于分光光度计测量结果有很大的影响。本人结合实际工作对杂散光的来源、杂散光对分光光度计测量结果的影响、杂散光的检测、如何减小杂散光对分光光度计测量结果的影响等方面进行了分析。     

杂散光对紫外、可见分光光度计测量结果的影响及检定方法

影响紫外、可见分光光度计测量误差的因素很多,杂散光是误差主要来源之一。本文分析杂散光对该仪器测量结果准确性的影响,介绍杂散光的检定方法,以及减小杂散光的措施。     

高精度分光光度计测量光谱透过率

由安光所自行设计的高精度分光光度计目的是高精度测量滤光片透过率。该系统特点是基于双光栅单色仪的全自动单光束测量仪器。在出射光路中引入了积分球,用来消除光束的偏振性和不均匀性,而且在信号接收部分提出了将滤光片和探测器作为整体考虑,优点是接近滤光片的实际使用环境,减少了其实际测量误差。着重叙述了该仪器的设计过程和不确定度分析。测量的不确定度源包括光源的稳定性,双单色仪重复性、再现性,光束的均匀性,内反射,探测器线性、稳定性、偏振性、均匀性,系统杂散光。经本仪器测量的滤光片透过率合成不确定度为5.859×10-3,完全满足测量精度要求。     

基准光电高温计的光谱响应度测量

基准光电高温计的光谱响应度是复现ITS-90银点以上温标的重要参数,中国计量科学研究院新建了一套基于单色仪的光谱响应度测量装置.在这套装置上高温计的光谱响应度作为一个整体参数进行测量,系统能够自动完成单色仪的波长标定和高温计的响应度测量.初步完成了基准光电高温计的600～1 200 nm之间的光谱响应度测量,并计算了基准光电高温计的有效波长及其不确定度.     

荧光量子效率绝对法测量系统校准及不确定度评定

荧光量子效率是发射与吸收的光子数之比,是表征荧光材料发光性能的关键参数。然而,用于绝对法测量荧光量子效率的光路和探测器未经校准溯源或是校准方法不当,会造成测量光谱的不准确,进一步影响荧光量子效率计算结果的不准确。采用汞氩灯对单色仪进行校准,保证了激发波长和发射波长的准确性,利用标准辐射源对光路、发射单元单色仪和探测器进行光谱相对强度校准,保证了激发波段和发射波段光谱相对强度的准确性;最后从测量模型出发,对测量不确定度进行了分析,得到在300~360nm的激发光波段和370~900nm的发射光波段内相对合成标准不确定度为3.58%,相对扩展不确定度为7.16%,k=2。通过对单色仪波长校准以及对光谱相对强度进行校准,为荧光量子效率的准确测量提供了参考。     

测试激光Raman分光计中超低杂散光的一种新方法

本文提出了一种利用高灵敏度的光子计数技术及中性滤光片分段减光方法去测试激光Raman分光计中超低杂散光的新方法。它不仅省去了大量级范围内光电检测系统线性检测与中性滤光片透过率标定的麻烦,提高了测试精度,而且实现了光强变化任意量级的杂散光测试,其测量限最终仪受激光功率大小的限制,获得了10~(-14)量级的杂散光测量限。     

分光光度测量中的狭缝宽度误差及其修正

为了讨论单色仪的传输特性,本文中引入了狭缝函数 F_s(λ,λ_o)的概念。通常它可以代表单色仪通带的形状。文中还讨论了当单色仪通带为任意形状时的缝宽误差修正公式。Runge 和 Hyde 等人的修正公式均可作为特例由此公式推导出来,只不过四级以上的修正系数稍有不同而已。基于分光光度测量中要求单色仪输出光能尽量大,而缝宽误差尽量小,从理论上可证明最佳狭缝调节是使出射狭缝与入射狭缝的像等宽。文章最后部分还指出:Van den Akker 的波长校准误差并不一定是由单色仪的通带为非对称引起的。     

绝对辐射温度计杂散光抑制的仿真分析

绝对辐射温度计可用于高温段热力学温度测量,其滤光片辐射计所接收的信号十分微弱,杂散光将会对实验结果产生一定影响.使用基于蒙特卡罗法的光线追迹模拟软件Trace Pro建立模型进行仿真测试,可以得到因内壁多次反射而产生的杂散光情况.通过安装挡光板和使用高吸收率涂层等方式,可对杂散光进行抑制.本文为减小绝对辐射温度计多次反射杂散光提供了解决思路,并给出了相应的模拟结果.     

利用光纤和调制半导体激光的准直方法

本提出了一种新的激光光纤准直方法。利用光传播的平行性和直线性，光学准直技术被用于精密地建立几何参数的测量基准，在这些应用中，光束、处理电路的漂移、杂散光是影响测量精度的主要因素。为了消除这些影响，本利用调制半导体激光技术和光纤技术形成准直光束，四象限探测器进行探测，相敏检波技术对光电调制信号进行解调，所有的信号共享同一信号处理信道，且光束的调制频率远离杂散光的频率范围，激光光束漂移杂散光、电路漂移被抑制，在１ｍ范围获得了０．３μｍ的准直精度。     

提高分光光度计间测量一致性的方法

基于提高仪器间测量一致性的数学模型,分析模型在实际应用中存在的问题,结合分光光度计测色特点及表面色的光谱特性,分步骤分析了提高分光光度计间测量一致性数学模型的实施方法.首先根据标准样板光谱特性对校正系数求解的影响,提出了标准样板的选择算法;其次选择适合于物体光谱反射率导数求解的插值方法;最后用实例证明所述的实施方法更为科学合理,能得到更好的校正系数.     

同步测量海水固有光学特性的高光谱剖面仪样机设计

基于双光路原理,研制出一种同步测量海水固有光学特性的高光谱剖面仪样机.样机用全反射管作测量吸收系数的样品池,全吸收管作测量衰减系数的样品池.使用高灵敏度的电荷耦合器(CCD)做光纤单色仪的光电探测器件,样机的光谱分辨率达到1.64nm.CCD信号的积分时间由复杂可编程逻辑器件(CPLD)和可编程计数器自动调整.用PC104微机自动控制数据采集和数据存储.存储数据由无线通信器件下载.室内实验验证了仪器测量的稳定性和可靠性.     

406～920nm的绝对光谱响应高准确度标度

描述美国国家标准与技术研究院所建立的４０６￣９２０ｎｍ绝对光谱响应标度，该标度完全是建立在探测器测量基础上的，并可溯源到ＮＩＳＴ高准确度低温辐射计。硅光电二极管光吸收探测器被用来将光功率测量由ＨＡＣＲ传递到进行日常校准的单色仪装置。传递也包括建立硅光电二极管光吸收探测器的量子效率模型，最后给出了这些测量为基础的ＮＩＳＴ现有能力的简单介绍。     

聚合物光纤光谱损耗特性的研究

截断法测量聚合物光纤 ( POF)的光谱特性是研究其损耗的一种有效方法 .用平面光栅单色仪对聚合物光纤聚甲基丙烯酸甲酯 ( PMMA)和聚苯乙烯 ( PS)的损耗光谱进行了测量 ,结果 PMMA芯 POF有三个传输窗口 ,分别为 5 2 0 nm,5 74nm,65 0 nm.在 5 2 0 nm,5 74nm处的损耗较小 ,且特性较为平坦 ,有很好的应用前景 . PS芯 POF窗口分别为 5 5 0 nm,5 80 nm,63 0 nm,670 nm,73 3 nm和 780 nm.在 5 5 0 nm,5 80 nm处同样有较好的应用前景