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三菱电机公司研制成功世界最小的1兆位DRAM(动态随机存取存储器)已投放市场。该存储器采用三菱电机公司独自的极小封装技术,体积仅为以前的1兆位DRAM的四分之一,堪称是面向办公室自动化设备和书本型个人计算机等市场的战略商品。这一称作“VSOP封装”的新产品由于采用了比以往产品高一级的0.9μm处理工艺,既达到超薄型的封 相似文献
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DavidSuchmann 《今日电子》2003,(2):2-2
美国加州圣尼维尔(Sunnyvale)的SanDisk公司和该州伊尔文(Irvine)的东芝美国电子元件公司合作开发了0.09μm工艺,从而使二元和多级元(Multi-levelcell,MLC)NAND快闪存储器容量和竞争力提高。新的工艺将使目前0.13μm工艺产品的存储容量提高一倍,并且使产品体积缩小,生产成本降低。两公司在发展计划中提出未来存储产品的容量将进一步提升,包括 2Gb和4Gb MLC NAND快闪存储器。在单片存储卡上集成多个闪存芯片,将使手持设备能够存储数十分钟长度的DVD视频,成千上万的高分辨率图像,超过30小时的数字音乐,或者数千兆的数… 相似文献
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AT45D041是一由单5V供电、带串行接口的快闪存储器,该芯片特别适合于在系统反复编程,其4兆位的存储容量被分为2048页,每页264个字节。除了主存储页外,AT45D041还包含2个SRAM数据缓冲区,每个区的容量均为264个字节,当主存储页正在编程时,缓冲区可接收外部数据。传统快闪存储器往 相似文献
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日立制作所已制出了内置大容量快闪存储器的F-ZAT微型机“H8/3052F(512位)/3064F(256k位)/3022F(256k位)”的新产品。该产品的制作过程是采用了035μmAl3层布线CMOS工艺,内置了512k位、256k位的单电源快闪存储器和8k位的RAM。另外,在LSI内部还内置了升压电路,实现了以单电源的快闪存储器擦除、写入工作。内置大容量快闪存储器的16位微型机@辛 相似文献
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1996年3月27日在上海世博会大酒店举办的1996年国际集成电路研讨会及展示会(IIC’96)上,来自美国的ISSI宣布并展示了该公司新近推出的高速快闪式存储器产品IS28F010。这是该公司与英特尔(Intel)公司签订快闪式存储器使用协议一周后宣布的。 ISSI的英文全名是In-tegrated Silicon SolutionInc,同时ISSI也是该公司产品的商标。ISSI总部设在美国硅谷的Sunnyvale市,在香港、台湾和苏州各设一子公司。在日本及欧洲各国 相似文献
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采用1.2μm CMOS工艺技术制作出台阶沟道直接注入(SCDI)快闪存储器件,该种器件具有良好的器件特性.在Vg=6V,Vd=5V的编程条件下,SCDI器件的编程速度是42μs,在Vg=8V,Vs=8V的擦除条件下,SCDI器件的擦除速度是24ms.与相同器件尺寸的普通平面型的快闪存储器件相比,SCDI器件的特性得到了显著地提高.在制作SCDI器件的工艺中,关键技术是制作合适的深度和倾斜角度的浅的台阶,同时减少在制作Si3N4侧墙的刻蚀损伤. 相似文献
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《现代表面贴装资讯》2005,4(3):21-22
5月12日,英特尔技术开发(上海)有限公司在上海浦东外高桥正式落成,总投资3900万美元。技术开发中心将为英特尔的快闪存储器事业部、封装技术研发部、用户平台研发部以及封装设备开发部开发尖端技术,并为中国用户提供客户服务支持。 相似文献
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<正>5月12日,Intel中国封装技术研发中心与英特尔技术开发(上海)有限公司同时宣布成立,Intel中国封装技术研发中心成为英特尔技术开发(上海)有限公司三个同时宣布成立的研发中心的重要组成部分。这三个研发中心分别是快闪存储器研发中心、封装技术研发中心和用户平台研发中心。 相似文献
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未来全球半导体90nm、65nm和45nm技术进入量产,其芯片尺寸缩小40%、功耗减少30%、速度加快20%。酷睿Ⅱ4核CPU芯片的晶体管已达到8.2亿只。动态存储器将发展到DDR3,其容量已提升至4Gb。NAND Flash和NOR Flash的存储容量已达到16Gb。32nm工艺技术生产的32Gb快闪存储器也成为现实,西欧、中东晶圆厂新增计划6项,投资过60亿美元。东南亚等区域计划投资16项。国内集成电路产量和销售年均增长30%,制造技术进入90nm,12英寸生产已进入批量生产阶段。设计达到0.18μm,少数达到0.13μm技术。08年产值同比增长8.3%,但第三季度增长下降。 相似文献
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随着电子产品的普及,分离栅式快闪存储器作为闪存的一种,因其具有高效的编程速度以及能够完全避免过擦除的能力,无论是在单体还是嵌入式产品方面都得到了人们更多的关注。但由于快闪存储器产品规则的阵列排列方式,高速的编程能力也带来了容易出现编程干扰的问题,成为了制约其实际应用的关键因素。从工艺优化方面探讨在编程过程中,如何有效提高分离栅式快闪存储器的抗编程干扰性能。通过实验发现通过整合改进工艺流程中调节字线阈值电压的离子注入方式的方法,可以显著改进分离栅式工艺快闪存储器的抗编程干扰性能。 相似文献
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快闪存储器最初是在PC中用作BIOS存储器,如今已广泛地用于GSM电话,数字照相机、CD-ROM、智能卡等产品。在需要经常更新软件以提供新服务的应用,都广泛地使用快闪存储器。它能够以电写入的方式在现场更新存储内容,因此颇受欢迎。 相似文献
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<正> 微光刻技术已进入亚微米尺寸加工时代,八十年代末即可使高密度集成电路—4兆位动态RAM和1兆位静态RAM存储器付诸生产。对集成密度的需要将要求曝光装置在九十年代就能大批量生产0.5μm及更小线宽的图形。光学曝光具有0.5μm尺寸的生产能力。作为一种适合于大生产用的竞争技术,X射线曝光也进入了实验考核阶段。是否会在九十年代出现一个从光学曝光转向X射线曝光的大突破,就取决于竞争双方各自的技术性能和经济效益了。 相似文献