一种用于测试数据压缩的改进型EFDR编码方法

针对集成电路测试中测试数据量过大的问题,提出一种改进型EFDR编码压缩方法。该方法保留了原EFDR编码中可同时对0游程和1游程编码的优点,同时将相邻组别游程的编码长度之差缩减为1位,使游程的编码长度更符合游程在实际测试数据中的出现频率,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,因此解码电路具有较小的硬件开销。实验结果表明,本方法的平均压缩率为68.01%,在保持较小硬件解码开销的同时,具有较高的测试数据压缩率。     

基于部分游程翻转的SoC测试数据压缩

提出一种基于变长输入Huffman编码的SoC测试数据压缩方法,在测试序列中直接对连续的"0"游程和"1"游程进行编码。通过部分游程翻转的方法,使用单独的码字对翻转操作进行标识,使得长度相等的"0"和"1"游程共用一个码字,从而减少了短游程的数目。它的解压体系结构由一个Huffman解码器和控制生成单元(CUT)组成,且不需要循环扫描移位寄存器。实验结果表明,这种方法能够有效的压缩测试数据。     

最大近似相容的分组测试向量相容压缩方法

针对长度过长的测试向量之间相容压缩的压缩效果不佳的问题,为了提高测试向量间的相容性,提出了最大近似相容的分组测试向量相容压缩方法。首先将测试向量按相同的数据块长度划分为若干组,然后提出对分组测试向量进行最大近似相容性的重排序,将测试集分为两个集合:已排序集合和未排序集合。先将确定位最多的测试向量作为已排序集合的首个测试向量,再对已排序集合的最后一个测试向量和未排序集合的所有测试向量进行近似相容性比较,将在未排序集合中与其近似相容性最大的测试向量依次插入到已排序集合中,直至重新排序完毕;最后,将重排序的测试向量编码压缩,每个测试向量都要存放两次,一次是源数据存入RAM存储器中以备下一测试向量参考,另一次是将压缩后的数据存入ATE中,第一个测试向量比较特殊,是将源数据不作处理分别存入ATE和RAM中。该方法使得不相容的测试向量能达到最大程度的近似相容,从而提高了测试向量之间相容压缩的压缩效果;且对测试向量间的重排序不影响故障覆盖率,且是在离线情况下实施,因此不影响测试时间。对ISCAS’89标准电路进行试验,与其他编码方案对比,证实方案可行有效,而且硬件结构简单。     

长度折半的测试资源编码方法

编码方法通过压缩原始测试数据达到减少测试数据量的目的,是解决集成电路测试过程中测试数据量快速增长的有效方法之一。提出一种新的长度折半的测试数据编码方法,该方法首先对测试数据同时按0游程和1游程进行划分,然后对划分进行长度折半,编码。该方法既减少了编码的游程数量,又减少了编码的游程长度,可以在不增加代码长度的情况下增加能编码的游程长度。理论分析证明该方法具有极高的压缩效率,同时该方法解压结构简单,且独立于测试数据。实验结果表明:该方法平均压缩率达到65.13%。因此该方法具有很高的性价比,具有一定的应用价值。     

基于部分数据块复用的SoC测试数据压缩方法

提出了一种基于部分数据块复用及统计的测试数据压缩方法。以测试向量为单位,首先寻找出一个最优参考数据块,再利用数据块的相关性及部分数据块可复用性,并按编码规则对其进行编码压缩。它的解压结构只由一个有限状态机(FSM)控制,其结构简单、硬件开销较小。在基准电路上进行的实验表明,本文提出的方案能够有效的压缩测试数据,较同类编码方法有更高的压缩效率。     

基于位跳变相容的多扫描链压缩方法

通过对数据块进行相容性分析发现,大多数数据块之间的不相容只是由于其中极少部分的对应位不相容导致的。针对这种情况,本文提出了一种基于跳变位相容的测试数据压缩方法,将这些数据块归入同一组中,用同一个Huffman码字来表示,并用字典编码来表示这些跳变位在数据块中的位置,从而提高短码字数据块的出现频率和减少不能采用码字编码的数据块个数,进而提高压缩率。基于ISCAS-89标准电路的实验结果与已有的传统的Selective Huffman编码技术相比,本方案的压缩率平均提高了12.18%,最大压缩率达到了92.55%。     

一种基于分块编码和优化排序的测试数据压缩技术

为了有效地降低数字集成电路测试成本,提出了一种编码压缩方案和测试排序算法。这种压缩方案就是把每一个测试模式分成固定长度的块,并根据相邻测试模式的对应块是否相容和一位相异进行编码。同时采用贪婪的排序算法对编码过程中所有测试模式进行动态排序,寻找一种最佳压缩顺序,以便进一步发挥所提方案的压缩效果。文章最后给出了该方案的解压思想和实验结果,证明了该方案能够提高数据压缩率,降低附加硬件开销,优于已知的其他测试数据压缩方案。     

基于等确定位切分的LFSR重播种方法

文中提出了一种新颖的基于确定位个数相等切分的LFSR(线性反馈移位寄存器)重新播种方法。针对确定性测试集中不同的测试向量所包含确定位的位数差异较大的特点,将所有测试向量串成一条数据流,按照确定位个数相等的策略对该数据流进行切分,然后对得到的新测试向量集进行LFSR编码,达到提高测试数据压缩率的目的。本方案解压结构仅需单个LFSR和一个简单的控制电路,且由于等长度的种子解压时测试数据传输协议简单。与目前国内外同类方法相比,具有测试数据压缩率高、解压结构简单及硬件开销较小等特点。     

一种基于游程序列的二元数据相关性评价方法

针对数学领域内的自相关函数概念的物理意义不明确、通用性不强等缺点,从信息论与编码的角度出发,提出了一种基于游程序列的二元数据相关性的评价方法.首先将黑白二值图像通过扫描形成一维的二元游程序列,然后分成白游程和黑游程两种情况分别进行参数统计,通过相应的算法得到归一化的自相关性指标.理论分析与实验仿真结果表明,该指标物理意义明确,能进行二元数据相关性的纵向比较,在不进行编码的情况下,与编码的效果一致,从而验证了该算法的可行性与有效性.     

基于测试集主成分的变换-拆分法提高编码压缩率

芯片测试是防止缺陷或故障芯片流入市场的有效手段。 在测试应用中,将大规模测试向量通过芯片引脚传输到片上系 统。 在有限芯片引脚下,测试应用时间主要取决于测试向量传输时间。 编码压缩在不提供被测电路信息条件下减少测试向量 传输时间,同时节约测试向量存储空间,因而被广泛应用于压缩由测试向量组成的测试集,然而编码压缩未能充分挖掘测试集 特征,导致编码压缩效果不佳。 针对该问题,提出一种基于测试集主成分的变换-拆分方法,使主流编码压缩效果显著。 该方法 首先提取能代表测试集特征的主成分,然后利用这些主成分作为向量构造出一个矩阵。 该矩阵与位流经过数学中的矩阵变换 即可将测试集拆分成主分量集和残差集。 相比原测试集,残差集有更好的可压缩性,而主分量集可片上压缩,不占用传输时间。 对 ISCAS’89 部分标准电路的实验结果表明,该方法下的最高平均压缩率达到 80. 53%,与最先进的变换-拆分法相比,不同编 码下的平均压缩率都有提高,且最大提高幅度为 5. 27%。