金刚石-钛界面的扩散

用真空蒸镀法在金刚石表面镀覆Ｔｉ层,并经９００℃扩散处理。Ｘ射线衍射分析确认在金刚石表面形成了ＴｉＣ膜,利用ＸＰＳ定量分析,验证了金刚石晶格中的Ｃ原子与Ｔｉ镀层之间的反应扩散模型。对于经扩散处理的镀Ｔｉ金刚石烧结体撂学性能测试表明,金刚石与粉末合金界面上的结合得到了增强。     

金刚石表面涂覆TiO2/Al2O3薄膜及性能

采用溶胶-凝胶法在金刚石磨料表面涂覆TiO2/Al2O3薄膜.通过环境扫描电子显微镜、能谱仪、Fourier变换红外光谱仪、X射线衍射、热重-差示扫描量热、金刚石抗压强度检测等方法,对涂膜后金刚石表面形貌、结构、抗氧化性能和抗压强度进行分析,同时研究了TiO2/Al2O3薄膜对陶瓷结合剂金刚石砂轮磨削性能的影响.结果表...     

金刚石镀钛层的结构讨论

采用微区X射线衍射技术(XRD)和XPS测量技术,对金刚石单晶体镀钛层的结构进行了测量,结果显示金刚石镀钛层的TiC多晶体结构有明显的织构现象.     

金刚石薄膜的表面成分和形貌对表面能的影响

采用微波等离子体化学气相沉积法制备了(111)面和(100)面金刚石薄膜。测量了金刚石薄膜与液体的接触角、金刚石薄膜表面粗糙度和电阻率。通过扫描电镜、X射线衍射、X射线光电子能谱研究了金刚石薄膜的表面纯度和形貌等对表面能的影响。结果表明:金刚石纯度越高、表面粗糙度越大、晶粒尺寸越小,其表面能越大。经过空气等离子体后处理的金刚石薄膜的纯度和亲水性明显提高。随着在空气中放置时间的增加,亲水性逐渐减弱。在空气中放置相同时间,O2等离子体后处理的金刚石薄膜比H2等离子体后处理的金刚石薄膜亲水性好。     

X射线在晶体衍射分析中的应用

本文介绍了X射线晶体衍射分析的原理和方法,对X射线在晶体衍射分析中的应用进行了阐述。     

爆轰纳米金刚石粒度分析研究

采用X射线衍射法、比表面分析法、X射线小角度散射法、扫描电镜法、动态光散射法对爆轰纳米金刚石的粒度进行分析,结果表明:采用不同分析方法得到的爆轰纳米金刚石粒度数据不尽相同,其中X射线小角度散射法、动态光散射法可准确测出爆轰纳米金刚石粒度分布,文章还阐述了各种粒度测试方法的优缺点及适用范围。     

关于含硫体系中金刚石生长的研究

引入添加剂是合成特种金刚石的重要手段,用含硫的Ni70Mn25Co5触媒进行了工业级金刚石的合成,考察了硫对合成金刚石的影响.借助于扫描电子显微镜,研究发现,与不含硫体系合成的金刚石相比,含硫体系合成的晶体虽然具备六八面体形状,但是表面有许多小的凹坑,这些凹坑多数分布在{111}面上.另外,还利用电子探针对金刚石表面杂质的成分、含量及其分布进行了定性检测,发现杂质在晶体表面分布不均匀;相对而言,Mn、Ni元素的含量较高;在凹坑位置能够检测到硫元素的存在,而在晶面平滑处没有检测到硫元素.     

国外人造金刚石(Ⅰ)

自从A.拉瓦锡(1792)和S.腾南脱(1799)证明金刚石和石墨是碳的同素异形体以后,人们对于如何将石墨转变为稀有的金刚石有了很大的兴趣。虽然早在1792年就知道金刚石和石墨是碳的同素异形体,但对二者在晶体结构方面的差别直到1910-1920年发展了X射线衍射技术后才得到了阐明。 人造金刚石的历史可追溯到1880年,但比较有实际意义的是利用超高压高温技术之     

微波等离子CVD法在石英玻璃上生长金刚石薄膜

用X射线衍射、Raman谱和光电子能谱对石英玻璃上的金刚石薄膜进行分析,对于难用化学气相沉积在玻璃上生长金刚石薄膜的原因提出了一种解释.     

R141b气体水合物的晶体结构与结晶特性分析

通过搭建制冷剂气体水合物晶体制备与X射线衍射(XRD)测试装置,制备了以0.10 g SDS作为表面活性剂的R141b气体水合物晶体,获得了水合物结晶过程的反应温度曲线和实验样品的X射线粉末衍射图谱。结合反应温度曲线对实验样品衍射图谱的定性分析,确定了水合物制备过程中仅生成II型笼状水合物晶体;利用绝热法对实验样品的衍射图谱进行物相定量分析,发现制备样品时R141b加入量对样品中II型与Ih型晶体的平均质量之比及两相分布规律具有直接影响;结合气体水合物结晶理论对结晶反应温度曲线和衍射图谱进行了讨论,认为R141b加入量对气体水合物生成的结晶微观环境有关键影响,从而导致结晶反应温度曲线与实验样品衍射图谱呈现较大差异。