基于ADSP-TS101的雷达脉冲压缩处理机设计

介绍了通用DSP芯片ADSP-TSl01的优点，然后介绍了一种基于单片ADSP-TSl01为核心建立的处理机平台，该系统通过FFT和IFFT快速算法，高效地实现了频域数字脉冲压缩处理。在实际验证的基础上，设计并优化了一个高速实时雷达数字信号脉冲压缩系统，并得到了相应的试验结果。给出了系统设计中的一些关键步骤以及实现的方法，并且分析了系统主要性能，在本系统设计中内核使用还留有相当大的余量，可大大方便以后其他功能的扩展。文章对其他工程设计具有参考价值。     

车载通信系统电磁干扰余量评估

随着科学技术的发展,车载通信系统面临的电磁干扰问题愈加突出.针对车载通信系统的干扰余量评估问题,基于四级筛选法,文中提出了一种新颖的车载通信系统电磁干扰余量评估方法.依次对车载接收机的工作条件、工作频率、信号功率和通信性能进行评估,以定量表述车载接收机的干扰余量及受扰情况.针对干扰源对接收机灵敏度的影响,该方法选取了通...     

基于Hermite函数的超宽带脉冲波形设计与性能分析

根据联邦通信委员会关于超宽带辐射功率谱的限制以及适用于多址方式的窄脉冲要求,设计了一组基于Hermite函数的超宽带脉冲波形。所设计的脉冲波形具有正交性和不随阶数变化的恒定脉宽两个重要特性,从而提供了良好的防时间抖动性能并有效降低符号间干扰;为了评估相关接收机的性能,对设计脉冲信号的自相关和互相关函数的闭合表达式进行了推导;分析了跳时脉位调制超宽带系统中脉冲波形在加性高斯白噪声、多址干扰、多径衰落信道等多种环境下的误码率性能,探讨了时间抖动对系统性能的影响,并将仿真结果与高斯单周期脉冲进行比较。分析结果表明该脉冲设计方案提供了一种灵活而系统的超宽带脉冲设计方法,所设计脉冲既满足辐射功率谱限制又提供良好的系统误码性能。     

机载脉冲多普勒雷达探测性能的评估

分析了影响机载脉冲多普勒雷达探测性能的因素,提出了用于评估机载脉冲多普勒雷达探测性能的几种模型和对目标探测概率的计算方法,并给出了评估系统实现.     

脉冲激光试验评估模拟电路单粒子效应

利用脉冲激光对典型模拟电路的单粒子效应进行了试验评估及加固技术试验验证,研究2种不同工艺的运算放大器的单粒子瞬态脉冲(SET)效应,在特定工作条件下两者SET脉冲特征规律及响应阈值分别为79.4 pJ和115.4 pJ,分析了SET脉冲产生和传播特征及对后续数字电路和电源模块系统电路的影响。针对SET效应对系统电路的危害性,设置了合理的滤波电路来完成系统电路级加固,并通过了相关故障注入试验验证,取得了较好的加固效果。     

钢轨内应力测试系统的抗电磁干扰设计

钢轨内应力是工务部门养护铁路时测量参数之一,钢轨内应力测试系统主要由单片机、传感器、液晶屏、管理软件等组成。本文从测试系统各组成部分的抗电磁干扰性能入手,介绍了该系统抗电磁干扰的实验方法及取得的效果。     

基于脉冲电流注入的差分芯片敏感度研究

采用脉冲电流注入(PCI)技术,对差分信号接收芯片(DS26C32ATM)的敏感阈值进行研究。试验结果表明,随着脉冲源电压的增大,传输线上的注入电流增大,差分信号接收芯片接口电路受到电磁脉冲干扰,发生损伤。对损伤芯片进行失效机理分析,定位故障。针对失效机理分析结果,对差分信号接收芯片进行加固防护研究。试验结果为后续差分芯片的抗电磁脉冲干扰的性能试验提供可靠依据。     

一种基于无人机的测控天线干扰试验系统设计

面向航天测控装备大口径天线抗电磁干扰能力验证工程应用需求,分析了测控天线抗电磁干扰技术指标,提出了基于干扰入射角的干信比估算方法,设计了一种基于无人机的测控天线干扰试验系统,并通过某型12 m测控天线进行了干扰试验验证。该系统为大口径测控天线抗电磁干扰指标测试提供了一种新的手段,具有良好的工程应用前景。     

高速PCB电磁兼容的研究

在高速,高密度PCB设计中,电磁兼容问题日益突出。本文从PCB布局,电源线、地线和传输线的设计几个方面分析研究了改善高速PCBEMC性能的方法,并介绍了其它的一些抗电磁干扰技术。     

强电磁干扰下射频集成微系统防护的挑战与机遇

强电磁脉冲注入到射频集成芯片/微系统中将产生一系列连锁响应,影响系统、器件以及芯片工作状态甚至引起击穿等可靠性问题,严重威胁器件、电路及系统安全。传统的电磁脉冲防护依赖于前后门的系统级别防护,将电磁防护设计与风险控制机制引入早期设计阶段至关重要。集成电路芯片是国家重大基础设施的核心部件,射频集成微系统的抗电磁脉冲攻击能力对系统安全有着举足轻重的作用。该文介绍了强电磁干扰下集成电路防护的挑战,从强电磁脉冲损毁机理、能力评估与测试技术、防护技术等方面介绍了该领域国内外的研究动态,分析了当前研究存在的主要问题和机遇,旨在为芯片级的电磁安全防护提供参考。