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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 625 毫秒
1.
烘烤测试:当你烘烤一台笔记本机时会发生什么?冷冻测试:便携机并非是一个只能同“甘”不能共“苦” 的朋友。坠落测试:投弹完毕——你的笔记本机是否完好?泼溅测试:泼水!为什么咖啡和便携机不能混杂?实验记录:性能和电池寿命测试结果。易用性:笔记本机折衷方案。最后的分析:选择完美的便携机。  相似文献   

2.
《电子工程师》2006,32(5):28-28
本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准,各种类型测试系统、测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集成电路测试技术全书。具有全面性、系统性和实用性的特点。本书的目的是使读者对集成电路测试问题有一个明晰的解决方法的轮廓,知道今天的集成电路测试需要做什么?我们能做什么?还会有什么样的难题?发展的方向是什么?  相似文献   

3.
白盒测试和黑盒测试都是软件测试设计的方法。黑盒测试把系统理解为一个"内部不可见的盒子",因此不需要明白它的内部结构。黑盒测试一般关注的是对功能需求的测试。白盒测试设计允许你观察"盒子"内部,让你了解其内部结构和运作原理,并使用对这些知识的了解来指导测试用例的设计。为了完全测试一个软件,不可或缺任何一种测试。  相似文献   

4.
要在当今竞争激烈的市场中立足,电子产品生产厂家就必须确保产品质量。为了保证产品质量,在生产过程中就需要采用各类测试技术进行检测,及时发现缺陷和故障并修复。根据测试方式的不同,SMT测试技术可分为非接触式测试和接触式测试。非接触式测试已从人工目测发展到自动光学检查(AOI)、自动射线检测(AXI),而接触式测试则可分为在线测试和功能测试两大类。本文将对各类测试技术及未来发展趋势作一初步探讨。  相似文献   

5.
近年来,随着我国电子技术市场越来越大的需求,如何进一步改进电子测试技术,加以对电子测试技术目前尚存在的一些问题进行讨论分析,并提出解决问题的办法,以及对电子测试技术的新展望.  相似文献   

6.
近年来随着网络技术的飞速发展,网络规模不断扩大,带宽日益增加,异构性和复杂性不断提高,加之网络新业务的不断出现,人们对网络的流量特征,性能特征,可靠性和安全特征的了解愈加迫切。通过测试获得网络运行的指标参数,是建立高效稳定安全可靠网络的有效手段,同时网络测试是网络建设和维护过程中的重要环节。就网络测试的主要内容和方法做一论述。  相似文献   

7.
卢明桂 《信息通信》2012,(4):195-196
随着社会经济的迅速发展,光纤通信作为我国信息传输中的重要部分,其参数测试的精度能否得到保障,将直接关系着光纤参数的速度测试及其日常工作的使用.OTDR技术的使用,能够在光纤测试中,将其盲区减小到10m以下,在提高测试准确度的同时,还能科学的缩短测试时间.在此,本文针对基于OTDR技术的光纤测试这一问题,做以下论述.  相似文献   

8.
北京中科泛华测控技术有限公司宣布推出一种面向应用和系统、实现完整测试解决方案的技术一柔性测试技术。这一全新概念进一步理清了面向应用的测试系统概念,明确了测试测量技术的发展方向。  相似文献   

9.
为其晶圆测试和成品测试订下惠瑞捷史上最大一张V93000订单 (中国,北京,2008年7月7日)——世界领先的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(NASDAQ:VRGY)日前宣布,可视计算技术全球领导者NVIDIA已经大幅度提高惠瑞捷V93000SOC测试系统的使用范围,将其广泛用于NVIDIA半导体器件高速设计验证和大批量生产中。  相似文献   

10.
IC测试、通信测试、网络测试和 虚拟仪器的发展已出现一些新的势态。降低测试成本成为发展IC测试的首要目标对体积更小、功能更强的芯片的需求正推动IC产业的发展,同时也推动着IC设计和测试的发展。对于系统芯片(SOC)的测试,其成本已几乎占芯片成本的一半。根据英特尔公司副总裁提出的测试摩尔定律,未来几年,每一晶体管的硅投资成本将低于其测试成本。 因此未来IC测试设备制造商面临的最大挑战是如何降低测试成本。过去的集成电路主要分为模拟电路、混合信号电路和数字电路。1998年,称之为MACH-D的(即存储器、模拟、通…  相似文献   

11.
范东华 《电子测试》1998,11(8):31-32
测试电子产品,诸如蜂窝电话,日益复杂化,通常需要较长的测试时间以及多功能的测试装置。类似地,这些生产厂商不断地承受压力来缩短设计周期、减少生产时间、降低产品成本。测试工程师同样感到巨大压力,这种压力与其它部门工程师相比有过之而无不及。因此,他们不断地在探索降低测试成本的新途径,例如减少每个单元的测试时间,降低设备费用等。有一种方案可以降低成本符合产品进入市场的时间要求,这就是总线共享技术,在单一的系统上同时测试几个产品,这样让你更有效地使用计算机和测试装置。有了当代的计算机和操作系统,多重应用是十分普遍的现  相似文献   

12.
石亦欣  李蔚  俞军  程君侠 《微电子学》2007,37(5):756-760
随着集成电路规模的迅速增大,巨大的测试向量带来的测试成本压力已成为芯片产品成本考虑中一个不可忽略、甚至非常关键的要素。针对目前大规模SOC芯片测试成本高的问题,提出了一种通过测试扫描链复用来减少测试时间的方法。试验数据表明,该方法在降低测试时间的同时,保持了较高的测试覆盖率,是一种较有价值的降低SOC芯片测试成本的方法。  相似文献   

13.
自动化测试近年来的技术已经越来越成熟,在某些方面有着不可替代的作用,例如在性能测试,压力测试中,自动化测试可以模拟成千上万个用户对目标程序进行测试。本文通过对大型实际项目的分析研究,分析针对某一产品的自动化测试框架。然后讨论怎样用python实现自动化测试。  相似文献   

14.
《移动通信》2004,28(6):81-81
大唐集团副总裁、大唐移动总裁唐如安日前向记者透露,在MTNet第二轮测试阶段中,备受瞩目的TD-SCDMA外场测试于5月20日开始进场,测试工作持续到9月份,在北京和上海两地展开。唐如安说,外场测试将分为几个阶段,前期做电话域测试,6月份开始做数据域测试,将来还将做TD-SCDMA独立组网、定位业务等方面的测试。据了解,目前除大唐集团外,第一批进入外场测试的企业还有中国普天、中兴通讯、北电网络等。西门子、华为也已经安排了进入外场测试的时间表。大唐移动在4月初推出的第一款符合3GPP要求的TD-SCDMA手机“小麻雀”是目前唯一参加外…  相似文献   

15.
蓝叶  崔进利  潘君  顾敏超 《现代电子技术》2010,33(7):118-120,124
在微波无源网络中,同轴连接器是无源互调产生的主要原因,因此准确确定同轴连接器的无源互调值对于整个无源系统设计来说有至关重要的意义。大多数厂家采用的测试方法中,测量连接器的互调不仅要制作工装,而且还要对连接器做破坏性实验。同时,由于增加了新的接触面,这种测试方法本身又会引入新的互调。基于此种情况,提出一种新的测试连接器互调方法——开路测试法。首先建立连接器的基本模型,然后利用矢量网络分析仪测量连接器模型在开路和匹配两种情况下的负载反射系数和源反射系数随频率的关系,最后根据测量出的反射系数通过连接器模型算出微波无源网络中同轴连接器的互调。利用互调分析仪实测连接器的互调值,测试结果和计算结果吻合,验证了这一方法的有效性。  相似文献   

16.
王超  沈海斌  陆思安  严晓浪 《微电子学》2004,34(3):314-316,321
在系统芯片SOC(system on a chip)设计中实现IP核测试复用的芯片测试结构一般包含两个部分:1)用于传送测试激励和测试响应的片上测试访问机制TAM;2)实现测试控制的芯片测试控制器。文章分析了基于测试总线的芯片测试结构,详细阐述了SOC设计中测试调度的概念,给出了一种能够灵活实现各种测试调度结果的芯片测试控制器的设计。  相似文献   

17.
一、测试宗旨蓝牙测试类似于一门选择个人保险覆盖等级的艺术,测试内容及测试程度是制造商一直试图解决的关键问题,因为这关系着测试成本、测试时间和质量等其他因素,在进行测试时,应在这几项因素中找到最佳平衡点。  相似文献   

18.
本文简述了一致性测试技术的发展由来,叙述了国内外的发展状况及基本概念,提出了一种链路层HDLC-ABM一致性测试系统的实现方法及其在系统互通互连中的应用考虑.  相似文献   

19.
在当今的制造业中,LTE网络在实施部署中对测试设备能力的挑战超过自WLAN技术实施以来的任一次技术升级和迁移,测试技术是LTE发展产业链上十分关键的一环,面对LTE产业多模多频的终端发展方向以及移动互联网时代复杂的网络环境,LTE测试还有哪些测试难点待解。  相似文献   

20.
顾聚兴 《红外》2004,(1):20-20
由美国海军研究实验室研究出来的一种新的双光子吸收技术可用来测试半导体的辐射灵敏度,从而可把用于空间和地面先进仪器的集成电路做得更坚固。当一个高能粒子或者一个光子穿过一个电路时,它会在很小的局部留下电荷痕迹,后者会产生一些单一事件效应,例如丢失数据、错误的结果或者器件故障等。由于集成电路都用不透明的材料封装,因此这种单一事件效应最易在高能粒子密集的空间环境中发生。然而,人们更关心在地而或者航空应用中的器件所涉及到的这一问题。  相似文献   

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