自动测试设备加流测压及加压测流的设计

在集成电路的测试中,通常需要给测试的集成电路提稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电流源;本系统能作为测试设备的电压电流源,实现加压测流和加流测压功能.本系统具有箝位功能,防止负载电压或电流过大而损坏系统.应用结果表明,该检测系统运行稳定可靠,测重精度高.     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

一种关于信息安全专用集成电路的测试验证系统

针对信息安全专用集成电路输入输出数据宽度大,无法做到测试全覆盖的特点,本文提出并实现了一种专门测试此类电路功能、性能的测试验证系统.该系统基于PC机,采用PCI软件和FPGA等硬件配合的方式,能够满足待测芯片对大批量数据高速传输需求.通过对一款椭圆曲线密码专用集成电路的测试,证明该系统具有成本低,便于调试、演示,代码通用性强,系统复制、移植方便等特点.该系统对解决信息安全专用集成电路的测试问题具有重要参考价值.     

集成电路测试系统的加流测压及加压测流设计

在集成电路的测试中,通常需要给所测试的集成电路提供稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电流源;测试系统能作为测试设备的电压电流源,实现加压测流和加流测压功能。且具有箝位功能,防止负载电压或电流过大而损坏系统。应用结果表明,该检测系统运行稳定可靠,测量精度高。     

膜混合集成电路、MOS集成电路

Z99-51324-201 0014429HP82000混合集成电路测试系统应用于 DAC 的快速测试[会]/钟征宇//中国电子学会可靠性分会第九届学术年会论文选.—201～205(C)介绍了用 HP82000集成电路混合测试验证系统对数模转换器进行快速测试的有效方法。0014430反应溅射 Si-C-N 薄膜的结构分析[刊]/肖兴成//功能材料与器件学报.—2000.6(1).—59～63(K)     

基于V93000 ATE的MTL生成功能码的方法

随着信息科学和产业的发展,集成电路为人们广泛应用。在今天的超大规模集成电路特别是在系统芯片SOC设计中,将大量存储器嵌入在片中的设计方法已经非常普遍。存储器的测试是集成电路测试一个十分重要的内容。V93000集成电路测试系统是一款可扩展型平台,它集合了数字测试、模拟测试和射频测量等资源。可针对各种高集成度的电子产品组件进行晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)。就利用V93000测试系统(ATE)的MTL工具产生存储器功能测试码的方法进行阐述,分析了与传统生成功能码方式相比,MTL具备灵活、占内存小、实现方便等特点。     

数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的设计和制造也变得更加复杂。目前,数字集成电路系统成为研究的主流,并且在很多方面都表现出了较大的积极作用。相对而言,数字集成电路系统的优化速度较快,尤其是在基本构成和测试技术方面,会依据实际的需求而进行优化处理,满足客观工作的需求。在构成方面,需满足各个领域的要求。在测试技术方面,则要完成本质上的进步,确保数字集成电路系统可达到较多的功能效果,创造更大的价值。文章针对数字集成电路系统的基本构成、测试技术开展深入研究,健全工作体系。     

为探针卡制作本土化再作贡献

<正>集成电路设计业的兴旺带来大量的设计验证测试需求,测试既是集成电路产业链中的一环,也是集成电路产品验证出厂的关键,探针卡就是介于自动测试系统与IC芯片之间,用于封装前测试IC产品功能参数的精密界面卡,它与集成电路的设计和测试封装密不可分。     

基于Internet的集成电路测试管理系统

本文利用普及的Internet,通过集成电路测试管理系统实现了属于一个公司的两个或以上办公场地之间数据共享、编辑与查询功能.集成电路测试管理系统是针对该行业的需求而量身定做的MES(生产管理系统).该系统通过流程控制机制将各部门间的工作规范化,从而严格地按照一定的顺序进行下去而不会产生跨级.     

GaAs高速集成电路内部动态特性直接电光采样检测

研制成功GaAs高速集成电路直接电光采样测试系统.采用共轴反射式光路,对样品进行背面直接采样.用研制的微波探针在片驱动GaAs高速数字集成电路管芯,使之处于正常工作状态.测试系统的时间分辨率高于20ps,空间分辨率为3μm.利用该系统在片检测了GaAs高速数字集成电路动态分频器内部的高速电信号.     

基于FPGA的集成电路测试系统设计

随着电路设计技术的不断发展,集成电路的测试对保证电路可靠性的作用日益增加。集成电路的测试不仅对确保电路的可靠性有重要作用,而且可以降低电路与系统的制造成本。本文是基于集成电路的逻辑功能测试理论,通过测试集成电路的逻辑功能是否正常来判断电路功能是否正常。实验结果表明,该系统测试便捷,准确,对于芯片的生产商和使用者都具有较重要的意义。     

基于FPGA的边界扫描测试系统设计

随着集成电路技术的快速发展,传统的PCB电路板测试所采用探针的方法已经不现实,边界扫描技术解决了这一传统的PCB板测试的难题。本文设计的边界扫描测试系统可以实现对JTAG的访问以及完成对被测电路板器件IDCODE等方面的测试。实验结果表明,该系统测试方便,简单。     

集成电路极性测试“微整机”研究与应用

集成电路极性测试一般指选择电路一个特定管脚进行电性能量测,快速判断电路放置是否反向、错位等,实现原理和集成电路开短路测试原理一致。目前集成电路极性测试多数依赖于功能强大、应用成熟的集成电路自动测试机(Automatic Test Equipment,ATE)实现,但是测试性价比没有任何竞争力。基于集成电路极性测试原理,采用纯硬件制作一款集成电路极性测试"微整机",在极性测试上达到与ATE同样的测试能力,并能和机械手(Handler)进行信息交互,实现自动化测试,具备简单、稳定、高效和极低成本的特点。     

一种集成电路测试流程分级动态调整方法

针对集成电路测试过程中测试时间长,影响测试效率的问题,提出了一种集成电路测试流程分级动态调整方法.通过统计样本集成电路中每种测试类型和每条测试向量的测试故障率来建立贝叶斯概率模型,根据其命中故障点的概率高低分级调整它们的加载顺序.随着测试的进行,不断收集测试数据,动态更新测试类型和测试向量的测试故障率,同步调整测试类型以及测试向量的加载顺序.实验表明,使用动态调整后的测试流程可以更早的发现故障电路,显著减少故障电路的测试时间,提高测试效率.本算法是完全基于软件的,不需要增加硬件开销,可以相容于传统的集成电路测试流程.     

CTA8280集成电路测试系统的研究应用

集成电路测试系统对测试精度、测试速度、测试功能等方面提出了越来越高的要求,测试系统并行测试和乒乓测试结合可以更好地利用现有的硬件资源,最大限度地提高系统的测试效率,降低测试成本。针对CTA8280测试系统结构、关键技术、应用案例进行分析介绍。     

集成电路测试系统软件的设计及实现

本文主要展示了集成电路测试系统软件的基本功能及其核心部分的实现方法。先介绍了集成电路测试系统硬件的建模方法,然后在硬件建模的基础上讲述了集成电路软件的结构及设计方法。着重介绍了流程图测试程序转化为文本测试程序的方法以及对文本测试程序的编译方法。用户只需要根据测试流程编写流程图即可以实现测试程序的编写,实现对IC的测试,提高了开发效率。该软件系统具有和硬件系统低耦合性,当向集成电路测试系统添加删改硬件时,不需要修改太多的软件内容即可以正常工作,通用性较好。     

一种廉价的计算器集成电路测试系统──微机测试系统

本文扼要地介绍了计算器集成电路的自身测试方法，并根据这种测试方法给出了微机测试计算器集成电路的系统结构。然后着重阐述了微机与计算器集成电路的硬件接口，它包括键盘接口、LCD段码接口、背极信号接口，以及计算器集成电路静态电参数的测试方法与接口线路。     

混合信号总线测试

文中介绍了使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明，IEEE1149．4测试总线在这些测试中是非常成功的，并同时指出了其局限性。     

基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现

介绍了边界扫描的技术原理,及其在集成电路测试中的具体应用,并给出了一种基于边界扫描技术的板级集成电路测试系统的方案及实现。     

基于光电耦合的耐压绝缘测试系统设计

应用集成光电耦合器TLP521-4,设计了一种基于光电耦合的耐压绝缘测试系统,详细说明了光电耦合隔离的耐压绝缘测试系统的设计思路和硬件电路结构.这种基于光电耦合的耐压绝缘测试系统具有抗电磁干扰强、成本低廉的优点,能极大提高测试系统的工作稳定性.