X射线数字成像对GIS设备的无损检测

针对GIS设备缺乏有效检测手段的问题,提出了X射线数字成像技术对GIS设备典型缺陷的可视化无损检测。该检测利用X射线数字成像技术对GIS设备典型缺陷进行透照,实现了在GIS设备不解体、不破坏环境情况下的可视化无损检测。实验结果表明,该检测技术具有可移动性、高效、可靠且有效可行。     

检测GIS固体绝缘内部放电缺陷的特高频和X射线数字成像联合方法研究

相比超声波局部放电检测法,特高频局部放电检测法对GIS固体绝缘内部放电缺陷检测灵敏度和定位精度较高,但由于无法确证此类缺陷部位和类型,据此制定的设备检修策略难以保证完善、准确。因此,本文研究了特高频局部放电和X射线数字成像联合检测GIS固体绝缘内部放电缺陷的方法,使用特高频局部放电检测法对固体绝缘缺陷进行检测和定位后,在设备检修期间应用X射线数字成像技术对缺陷进行可视化确证。该方法在某110 kV变电站110 kV GIS的带电检测中成功发现隔离开关绝缘拉杆内部电树枝缺陷,表明该方法有助于提升GIS固体绝缘内部局部放电的检测和定位效果,为检修提供可靠依据。     

检测GIS固体绝缘内部放电缺陷的特高频和X射线数字成像联合方法研究

相比超声波局部放电检测法,特高频局部放电检测法对GIS固体绝缘内部放电缺陷检测灵敏度和定位精度较高,但无法确证此类缺陷部位和类型,据此制定的设备检修策略难以保证完善、准确。因此,文中研究了特高频局部放电和X射线数字成像联合检测GIS固体绝缘内部放电缺陷的方法,使用特高频局部放电检测法对固体绝缘缺陷进行检测和定位后,在设备检修期间应用X射线数字成像技术对缺陷进行可视化确证。该方法在某110kV变电站110kV GIS的带电检测中成功发现隔离开关绝缘拉杆内部电树枝缺陷,表明了该方法有助于提升GIS固体绝缘内部局部放电的检测和定位效果,为检修提供可靠依据。     

GIS设备典型缺陷的X射线数字成像检测技术

GIS设备内部缺陷严重威胁着电力系统的安全可靠性。为了及时检出和准确诊断GIS内部潜在的危险缺陷,探索了基于X射线数字成像的GIS内部典型缺陷检测技术的可行性。归纳总结了GIS本体与其内部典型缺陷的主要材质,分析了X射线经过各种材质后的射线强度变化情况,基于此分析了X射线数字成像技术对各种典型缺陷的检测有效性,并通过实验对上述分析结果进行了验证。研究结果表明:X射线数字成像技术可以检测出对于高压金属尖端、壳体内金属颗粒、金属部件接触不良、绝缘子表面金属颗粒、绝缘子气隙等典型缺陷。文中的研究成果对于运用X射线数字成像技术开展GIS典型缺陷检测及对缺陷类型进行初步诊断具有重要的指导意义。     

基于X射线数字成像的GIS设备缺陷可视化无损检测方法

针对GIS设备缺乏有效检测手段的问题,提出了X射线数字成像可视化无损检测方法。该检测方法利用X射线数字成像技术实现了在GIS设备不解体、不破坏环境情况下对GIS设备典型缺陷的可视化无损检测。实验结果表明,该检测方法具有可移动性、高效、可靠且有效可行。     

X射线数字成像技术在电力设备故障诊断中的应用

用传统的带电检测方法对电力设备进行故障诊断时,检测结果仅是基于非直接特征表象的判断,这使得诊断结果存在漏判或误判的可能。通过介绍X射线数字成像技术,将X射线数字成像技术运用到电力设备的缺陷检测中,在不打开电力设备本体的前提下,对电力设备进行X射线透射,通过对生成图像进行分析,可以发现设备内部存在的缺陷或瑕疵,应用效果表明X射线数字成像技术可用于高效开展电力设备可视化无损检测,结果清晰准确,为电力设备的故障诊断及检修提供了直观的依据。     

GIS设备异物缺陷X射线检测研究

SF6气体绝缘全封闭组合电器(GIS)内部可能出现金属微粒等异物缺陷导致故障,因此对GIS设备内部的异物缺陷故障进行检测具有重要的意义。X射线成像法是一种检测GIS设备内部缺陷的有效方法,但缺乏成熟的参数选择方法。文中对X射线检测的基本理论进行了介绍,对GIS设备X射线检测参数选择方法进行了讨论,并为220kV GIS设备内异物缺陷检测选择了合适的参数。在选定参数下,使用双丝像质计对射线成像系统的不清晰度进行了研究,验证了X射线对金属微粒缺陷检测的可行性,之后在GIS设备内部设置异物缺陷并利用X射线检测系统进行缺陷检测。结果表明,选定参数能够对遗落零件缺陷以及1～2 mm的铜金属微粒缺陷进行有效的检测;对1～2 mm的铝金属微粒缺陷,X射线成像法能够实现检测,但对比度较低。     

一起GIS固体绝缘件局部放电缺陷的定位与分析

随着电气设备状态检修工作的开展,带电检测技术在输变电设备状态检测中发挥了越来越重要的作用。文中介绍了利用带电检测技术发现的一起GIS柱式绝缘子内部气隙放电缺陷的定位与分析过程,首先利用特高频法局部放电检测技术,结合谱图特征对放电类型进行了确认;随后利用高速示波器各通道信号到达的时延同时结合设备内部结构,对缺陷位置进行了精确定位;最后对异常位置绝缘件进行X射线数字成像检测及局部放电测量,发现其内部存在气隙缺陷,放电量严重超标,证明了定位分析的正确性,并对局部放电特征随施加电压的变化情况进行了分析。总结分析了各局部放电检测技术的优缺点,为GIS绝缘缺陷的诊断分析提供参考。     

基于DR技术的GIS设备内部绝缘缺陷检测

气体绝缘全封闭组合电器(GIS)设备内部缺陷严重威胁电力系统安全运行,数字化X射线成像(DR)检测技术可实现GIS设备内部结构的可视化诊断,为设备故障诊断提供有力的技术支持。本文根据材料透射强度比可表征不同材料X射线吸收率差异特性的原理,采用材料密度和原子序数计算得到材料透射强度比,分析了DR检测技术对GIS设备各种典型缺陷检测的可行性和有效性,试验研究了施加电压对采用DR技术检测GIS内部绝缘缺陷有效性及成像情况的影响。最后对某220 kV GIS设备进行DR检测,验证了DR技术用于检测GIS内部绝缘缺陷及对缺陷进行初步判断有效可行。     

X射线影像识别技术在GIS缺陷诊断中的作用

变电站地基下沉容易导致GIS内部导体结构发生变化,GIS设备导体的倾斜会引发设备故障。为了检测GIS设备导体的倾斜状态,针对某220 kV变电站出现的地基下沉问题,文中首先采用局部放电方法检测GIS设备内部结构是否存在故障问题,然后采用X射线数字成像技术对GIS设备导体进行X射线检测,利用GIS典型缺陷图像自动识别技术对得到的影像进行分类识别,从而确定了不同区域导体的倾斜状态,同时检测结果可以为变电站下一步的地基处理提供准确的理论依据。