共查询到17条相似文献,搜索用时 515 毫秒
1.
可靠性强化试验技术正是一项新型的试验技术,通过引入加速试验条件,可以提高可靠性试验的费效比,在产品设计中,使用高加速寿命试验与高加速应力筛选技术,有助于设计出成熟的产品。文中对可靠性强化试验技术进行了简要的介绍,讨论了可靠性强化试验对于加强雷达质量控制的作用,并对如何深入开展可靠性强化试验的应用工作提出了建议。 相似文献
2.
电子设备可靠性的加速试验 总被引:2,自引:1,他引:1
简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选试验(HASS)的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则... 相似文献
3.
高加速寿命试验用于识别设计缺陷和制造问题,提高设计强度极限,但不能评估产品的可靠性。该文在分析了产品可靠性可以通过相对性评估的基础上,探讨了在高加速寿命试验的框架下的半数失效时间(FT50)评价指标和试验方法,并讨论了它用于电子元器件可靠性评估的方式。 相似文献
4.
可靠性强化试验在高可靠产品中的应用探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
简要介绍了可靠性强化试验的概念及基本原理.以某型机载激光捷联惯导电子部件的可靠性强化试验为例,阐述了可靠性强化试验的全过程及有关的试验方法,在此基础上为机载高可靠产品可靠性保障提供了一个新的试验手段. 相似文献
5.
王文岳 《电子产品可靠性与环境试验》2014,32(6):57-61
介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。 相似文献
6.
7.
防空导弹可靠性增长试验加速方法的工程探索 总被引:1,自引:0,他引:1
结合防空导弹可靠性增长试验的工程实践,对加速试验方法在防空导弹弹上产品的可靠性增长试验中的应用进行了探索性的研究.提出在防空导弹可靠性增长试验中,对高可靠性要求的产品采用温度和振动联合加速应力来开展试验的工程方法. 相似文献
8.
9.
高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述 总被引:3,自引:0,他引:3
樊强 《电子产品可靠性与环境试验》2011,29(4):58-62
高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT&HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。 相似文献
10.
尤明懿 《电子产品可靠性与环境试验》2014,(1):27-31
提出一种基于可靠性预计数据的星载电子产品老练试验加速因子的估计方法。在该方法中,温度对产品失效过程的影响通过器件失效率预计模型中的温度应力参数予以刻画。通过比较产品在工作环境温度与老练试验温度下的预计失效率数据来估计老练试验加速因子。该方法简单、易行,含义明确,有望增强可靠性评估结果与可靠性预计结果的可比性。 相似文献
11.
通过对引信寿命评估试验和高加速寿命试验(HALT)的特点进行分析,针对目前引信寿命试验的不足之处,提出了利用HALT中的有效信息来改进引信寿命评估的方法,例如:通过选择积极的加速因子和估算试验所需的时间来改进加速寿命试验,使之能够快速、精确地评估产品的寿命;在引信的研制过程中,当样本量较小时,可以利用改进的加速寿命试验来进行引信寿命的评估,使之能够快速地评估引信的中位寿命。 相似文献
12.
13.
电子产品的使用者希望在其工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障,这对电子产品的可靠性提出了较高的要求。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验,加速寿命试验是可靠性试验中最普遍和重要的项目。本文简要介绍加速寿命试验的各种模型和它们的适用条件,分析各种加速寿命试验的优缺点。基于加速寿命试验的基本原理... 相似文献
14.
基于板级电路加速退化数据的可靠性分析 总被引:1,自引:0,他引:1
基于板级电路加速性能退化数据来研究电子产品可靠性评估问题。对电源整板进行80℃、100℃、120℃下加速退化试验.监测到输出电压随温度变化的退化过程。由试验数据对加速性予以定量验证,并基于Weibull分布采用最小二乘法进行可靠性统计推断。 相似文献
15.
16.
A new type application specific light emitting diode (LED) package (ASLP) with freeform polycarbonate lens for street lighting is developed, whose manufacturing processes are compatible with a typical LED packaging process. The reliability test methods and failure criterions from different vendors are reviewed and compared. It is found that test methods and failure criterions are quite different. The rapid reliability assessment standards are urgently needed for the LED industry. 85 ℃/85 RH with 700 mA is used to test our LED modules with three other vendors for 1000 h, showing no visible degradation in optical performance for our modules, with two other vendors showing significant degradation. Some failure analysis methods such as C-SAM, Nano X-ray CT and optical microscope are used for LED packages. Some failure mechanisms such as delaminations and cracks are detected in the LED packages after the accelerated reliability testing. The finite element simulation method is helpful for the failure analysis and design of the reliability of the LED packaging. One example is used to show one currently used module in industry is vulnerable and may not easily pass the harsh thermal cycle testing. 相似文献
17.
Neftali Nuez Manuel Vazquez Vincenzo Orlando Pilar Espinet‐Gonzlez Carlos Algora 《Progress in Photovoltaics: Research and Applications》2015,23(12):1857-1866
An adequate qualification of concentrator photovoltaic solar cells and cell‐on‐carriers is essential to increase their industrial development. The lack of qualification tests for measuring their reliability together with the fact that conventional accelerated life tests are laborious and time consuming are open issues. Accordingly, in this paper, we propose a semi‐quantitative temperature‐accelerated life test to qualify solar cells and cell‐on‐carriers that can assure a minimum life when failure mechanisms are accelerated by temperature under emulated nominal working conditions with an activation energy >0.9 eV. A properly designed semi‐quantitative accelerated life test should be able to determine if the device under test will satisfy its reliability requirements with an acceptable uncertainty level. The applicability, procedure, and design of the proposed test are detailed in the paper. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献