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针对传统电路板测试系统的单一性和专用性问题,为满足不同电路板的自动测试需求,设计了一种基于虚拟仪器的电路板通用自动测试平台。该平台采用虚拟仪器测试技术、扫码技术、网络技术实现了不同类型电路板的自动测试,测试结果与电路板序列号绑定并自动保存到服务器数据库中,并可通过Web浏览方式查询电路板测试结果。测试结果表明,该平台可实现不同类型电路板的自动测试,在保证测试结果准确性的前提下,提高了电路板的测试精度和测试效率。 相似文献
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基于虚拟仪器的变频器测试系统 总被引:5,自引:1,他引:4
为实现对变频器产品的自动测试,利用虚拟仪器技术,开发了一套变频器性能和参数指标的自动测试系统。此系统硬件采用NI公司的数据采集卡、信号调理模块,配以可控直流电源、电流传感器、继电器、接触器等器件;软件使用Labview开发工具。文中介绍了系统的设计,软件、硬件实现的思路和方法。经实际应用,提高了测试环节的效率和精度,具有较高的实用性和操作简单、方便升级等优点。 相似文献
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为测试在研变频器产品的性能指标,利用虚拟仪器技术,开发一套变频器性能指标和参数的自动测试系统。此系统采用NI公司的硬件和软件,以LabView作为开发平台。文中介绍此系统的整体概念,硬件、软件件实现的思路和方法。经实际应用,提高了测试环节的效率和精度,具有较高的实用性和操作简单、方便升级等优点。 相似文献
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利用LabVIEW虚拟仪器设计平台与PCI总线数据采集卡构建了一个虚拟仪器系统。本文详细地介绍了利用美国NI公司的LabVIEW图形化编程语言,进行虚拟仪器的开发,包括系统硬件和软件的设计。该仪器具有数据采集,波形显示,参数测量,频谱分析,数据存储,频率特性测试等多种功能。 相似文献
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发动机性能虚拟仪器测试系统设计 总被引:3,自引:0,他引:3
本发动机性能虚拟仪器测试系统采用的是美国国家仪器公司(National
Instruments,NI)的LabVIEW和LabVIEW RT虚拟仪器软件平台,以及配套的NI PCI数据采集板卡、NI
SCXI信号调理设备和NI compact FieldPoint(cFP)分布式I/O实时系统硬件.实现了多路性能的并行测试;并可根据用户设置,自动完成负载、扭矩、转速、功率、压力以及温度的实时监控;最后通过TCP/IP协议实现了测试数据的远程共享,和用户对测试系统的远程操控.该系统具有开发周期短、使用效率高及成本低廉的特点,同时具有很强的系统可扩展性和可重用性,具有很强的应用价值. 相似文献
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陈新建 《计算机测量与控制》2007,15(3):357-359
为了提高雷达电路板测试的速度和精度,实现测试过程的自动化,充分发挥计算机的强大处理能力,减少硬件成本,对如何改进传统的雷达电路板测试进行了研究;将虚拟仪器技术引入雷达混合电路板的故障检测和诊断,让仪器硬件只负责测试数据的测量,而计算机软件负责测试数据的显示、存储和分析处理,设计了一种基于虚拟仪器的、用来检测雷达混合电路板的测试系统NHCTS;在实际应用中,这个系统功能强大,适应性好;该系统采用组件技术来实现,有很好的通用性和可扩展性. 相似文献
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介绍基于虚拟仪器的某自动测系统的功能和结构,详细论述该测试系统实现专用电路板故障定位的原理方法以及软硬件设计。实践证明,该测试系统能够较好的满足功能测试和故障定位的要求。 相似文献
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基于LASAR软件仿真的板级自动测试研究 总被引:2,自引:0,他引:2
随着仪器与系统硬件的不断完善以及新的仪器设计思想的发展,软件的重要性变得越来越突出;针对电路板故障诊断的要求,采用先进仿真软件与系统硬件结合的技术,介绍了一种基于LASAR仿真软件的板级自动测试方法,分析了先进的LASAR仿真软件,研究了应用该软件开发测试程序的流程,结合系统硬件完成了对包含复杂可编程逻辑器件(PLDs)电路板的动态自动测试;经验证,该方法能够实现复杂电路板的引脚级故障诊断,有效降低了电路板的维修测试费用,缩短了维修周期;基于LASAR仿真软件开发的程序有较好的可移植性,因而具有广泛的应用价值。 相似文献
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基于虚拟仪器的通用电路板检测系统 总被引:1,自引:1,他引:0
针对传统电路板检测的问题,基于虚拟仪器技术设计了一种通用电路板检测系统;该系统采用USB总线,选用阿尔泰公司的USB2812数据采集卡构建了系统硬件平台;尽量用软件代替硬件,在Lab Windows/CVI软件开发环境下完成软件设计,采用相关的检测算法完成待测信号特征的辨识,大大减少了系统硬件电路,提高了系统可靠性和测试精度;同时,采用了多线程技术和数据库技术,提高了检测效率和系统的通用性;在实际应用中,该系统软硬件兼容性好,运行稳定,取得了极好的效果。 相似文献
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对比了采用传统设计手段和采用虚拟仪器方法进行设计的优缺点,详尽阐述了利用虚拟仪器板卡设计自动检测系统的关键技术,诸如检测点设计、信号源设计、开关信号及I/O控制部分,设计性能大大得到提高,可作为检测系统通用开发模式。 相似文献
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