IC测试原理

1引言本系列一共四章,下面是第一部分,主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理,内容覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。2数字集成电路测试的基本原理器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此,测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口,懂得怎样模拟器件将来的电操作环境,这样器件被测试的条件类似于将来应用的…     

FALCON采用LINUX

汽车电子用芯片对测试的特殊要求。自动测试设备在验证和生产阶段为集成电路的功能和质量提供了保证．由于非常严格的质量需求，在汽车工业中使用的器件要求使用性能很高的测试设备进行测试，比如科利登的Falcon。汽车用器件(包括圆片和封装好的器件)必须在不同的温度，不同的压力环境下进行测试。     

测试复杂的多总线SoC器件

使用多个复杂的总线已经成为系统级芯片(SoC)器件的标准,这种总线结构的使用使测试工程师面临处理多个时钟域问题的挑战。早期器件的测试中，工程师可以依赖某些自动化测试设备(ATE)的双时域能力测试相对简单的总线结构。     

FALCON采用LINUX

汽车电子用芯片对测试的特殊要求 自动测试设备在验证和生产阶段为集成电路的功能和质量提供了保证.由于非常严格的质量需求,在汽车工业中使用的器件要求使用性能很高的测试设备进行测试,比如科利登的Falcon.汽车用器件(包括圆片和封装好的器件)必须在不同的温度,不同的压力环境下进行测试.     

准确检测半导体器件灵活信号源施展身手

复杂度和工作频率提高一直是半导体技术演进的一个重要因素,这给最终用户带来了很大好处,但也给测试新器件的设计人员或测试工程师带来了挑战.由于复杂性和工作频率不断增长,工程师必须找到能够全面满足被测设备需求、而又经济高效的测量解决方案.本文将专门介绍信号源在半导体测量应用中的使用,考察信号源测量仪器如何帮助用户精确地测试基本半导体设备的性能特点.     

仪表工具精选——安捷伦增强型全光参数分析仪可降低光器件测试成本

安捷伦科技(Agilent Technologies)最新推出一款采用重新设计、功能大大增强的全光参数分析仪，为测试和检验关键光器件提供了全内置解决方案，如10Gb／s器件和40Gb／s DWDM器件。通过把提供测试结果的速度提高10倍，新型解决方案可以帮助光网络器件工程师和制造商明显降低开发和生产成本。     

安捷伦提升MIMO测试效率

为了确保MIMO达到最佳工作状态,工程师必须对MIMO接收机进行精确测试,必须对给定MIMO系统中的大量测试场景进行测试。安捷伦科技近日推出新型PXBMIMO接收机测试仪,有效地解决了在实际无线信道条件下测试MIMO接收机的难题。它提供了支持最新LTE和WiMAX标准的全新的通用信号生成和信道仿真功能,可以快速生成真实条件下的MIMO环境和MIMO信道,     

吉时利3700系统开关多通道测量解决方案优化测试

许多电子测试系统通过继电器开关将多个设备连接到信号源和测量仪器。在目前竞争激烈的市场中，电子产品和器件的生产和功能测试等应用常使测试工程师面临成本压力。开关系统的使用可以有效的提高测试产能、改善测试的可重复性并降低测试成本。[第一段]     

几种诊断测试系统的简单方法

测试系统的状态是否正常关系到测试器件的准确性和测试精度。有经验的硬件工程师和软件工程师经常会发现有时测试系统虽然自诊断通过，但测试器件时却参数测试不准确、功能测试失效等。这往往叫人无从下手。本文介绍几种通过软件编程、利用简单仪表来有效的诊断测试系统的方法。     

加速差动输出的测量

引言在进行差动线路驱动器元件的测试时，必须测量每个驱动器的两输出端的差动电压。对于关键性的线性应用，还必须进行三种不同的测试以确保器件在不同的负载下发挥作用。在德仪，我们称这些测试为VOD1、VOD2和VOD3测试。传统上工程师分几个阶段进行这些测试，每个阶段会要求额外的负载板元件或连接专门的电阻性网络。我们则借助于一种无需额外负载板元件或外部电阻网络的方法缩短了测试时间。我们对TIA/EIA-485-A器件进行了测试，不过这种技术也可以用来进行其它差动输出器件的测试。测试方案VOD1测试要求两个可能的输出电平上都…     

能有效测试下一代宽带设计的新测试方法

Credence的ASL 3000RF为无线器件的特性化测试带来了强有力的新工具，帮助工程师面对下一代无线器件及应用，包括802．11WLAN标准和5G移动通信服务，在技术上和经济上遇到的挑战。调制S参数以新视角来看器件性能，提供了“真实”复杂的调制信号作为测试条件。该分析方法结合有调制信号能力的网络分析技术使得S参数对于目前的宽带通讯系统更为有用。     

手持测试仪器,让测试更加随心所欲

对于测试工程师来说，有一款功能强大，并且使用方便的测试仪器是出色完成任务的重要前提。随着现场测试需求的增多，手持式测试仪器越来越受到工程师们的欢迎。他们体积小、携带方便，不受地域环境的限制，而且很多手持式测试仪器功能并不亚于同类台式机。市场的广泛需要促使测试仪器供应商不断推出应用于各领域的手持测试仪。     

Stratix II DDR2系统有效性总结

仅依靠F P G A特征数据来检验D D R2接口方案功能是不够的,在苛刻的环境中,这些方案设计必须非常可靠,具有较强的鲁棒性。为解决这一挑战,需要采取一系列测试方案来查明影响系统功能最关键的问题。一旦找到这些问题,需要进一步解决的是:已有的F P G A解决方案在这些环境中究竟表现怎样?测试采用了AlteraDDR2IP内核,速率为533Mb/s,该内核目前向QuartusII用户免费提供。工程师们研究了驱动能力、匹配方案、寻址方案、数据模式、工艺电压和温度(PVT)以及存储器件,以找到影响系统成功的关键方面。每一测试按照“通过和不通过”的标准…     

横河电机ATE事业介绍Innovative Test Solution Company-YOKOGAWA

作为世界著名的大规模集成电路测试设备（ATE）制造商之一的横河电机公司（YOKOGAWA）的ATE事业部门，我们ATE产品的测试功能覆盖了所有目前在市场上的集成电路器件产品。无论是模拟线性电路器件，混合信号电路器件，逻辑电路器件，高频RF通信电路器件及各种SOC器件；还是FPD驱动器件，存储器，Image Sensor器件等；无论是前道硅片级测试还是后道封装测试以及各种设计研发评估分析用测试；我们都能面对您的不同需求提供我们的最佳解决方案。     

半导体器件测试虚拟仿真教学实验设计

半导体器件是集成电路的核心基础,器件特性是器件建模和集成电路设计的重要依据,半导体器件测试成为集成电路相关领域人才必须掌握的重要实践能力。针对实际测试实验存在设备和耗材昂贵、测试过程耗时长等问题,通过搭建半导体器件交直流特性测试系统的虚拟模型,并基于InP基器件科研测试数据反哺教学,学生通过对器件在不同偏置下不同特性的虚拟测试,巩固半导体器件理论知识,掌握测试设备操作技能,全面提升动手实践能力。     

最新版Altium Designer

在最新版本Winter 09中,原来已有的三维PCB设计功能被提升到了一个更高速的新境界。新功能可以让工程师管理从产品设计到制造的过程转换,尝试新的设计技术并得以深度挖掘可编程器件的潜力。新增加的应用控制面板帮助工程师解决了FPGA测试上的难题,并可以远程监控FPGA内的设计。新的即插即用型软件平台搭建器让系统的整合更容易,同时提供在可编程器件的“软”硬件环境里的一系列标准服务以供使用。     

智能化生产测试解决方案实现下一代智能化光网络

在网络发展过程中，元器件生产厂商在推动技术发展的同时需要不断降低成本，这是在当前市场中保持竞争优势的唯一方式。影响光器件成本结构的一个重要因素是测试成本，它最多可以占到光器件成本的40％。安捷伦光通信测试解决方案体现了光纤技术的发展，数量日益增多的各种元器件要求通用的光器件测试解决方案。光器件测试解决方案必须面对的新的挑战是强力支持元器件生产中降低成本的目标。智能测试解决方案对下一代生产车间的主要贡献在于现生产环境自动化、降低测试成本、同时增强光通信测试精确、快速、可靠测量的优势。     

用下一代基于数字信号处理的仪器应对新兴多频带模拟测试挑战

满足性能需求的仪器。新的多频带模拟仪器的引入,使工程师能够应对从音频到视频,成本敏感的消费类混合信号器件的模拟测试挑战。通过提供更多的供电能力,这些新仪器进一步加强了自动化测试设备的能力,从而降低了市场领先应用的测试成本。     

移动设备的电池消耗分析

在移动设备的设计中，电池的工作时间是一项重要的因素。许多移动设备都加入了更多的功能，这些新增的功能会快速地缩短运行时间。工程师必须利用复杂的电源管理方案，以便使电池获得最长的运行时间。     

ADI公司的SPICE仿真工具最新升级

ADI与NI联手推出新版NI Multisim器件评估工具,借助其新增特性和功能,工程师便能在一个易于使用的环境中利用ADI公司器件进行线性电路仿真。这款免费器件评估工具可从ADI公司网站获得。