特高压断路器容性电流开合试验方法研究

主要介绍特高压断路器容性电流开合试验方法——合成试验法和直接试验法。通过分析超高压断路器容性电流开合直接试验的结果,提出有分闸电阻与无分闸电阻型特高压断路器容性电流开合直接试验方法,并采用PSCAD软件对两种直接试验回路进行了仿真模拟和比较。     

3.6～40.5 kV断路器容性负载开合试验回路研究

高压断路器(尤其是真空断路器)开合容性电流时,会产生电压和电流的暂态现象,可能导致很高的过电压和关合涌流,甚至会导致重击穿对电网造成严重威胁.对电容性负载的使用工况进行了分析,设计了适用于3.6～40.5 kV电压等级的试验回路以满足该电压等级的开关试验,并探讨了高压断路器容性电流开合试验方法.该试验回路在大容量试验室得到了很好的应用,各项容性开合试验数据均符合标准要求.     

容性电流开合试验中非保持破坏性放电与重击穿现象的评估

非保持破坏性放电(NSDD)是真空断路器在开断故障电流后发生的电压跌落,不会导致工频电流恢复。与NSDD不同,重击穿时触头间非剩余电流的重现会导致断路器开断失败。在某些型式试验中,NSDD与重击穿现象并不容易区分,相关标准也未给出明确判据,为了能让实验室给出正确的试验结论,文中分别对单相电容器组关合回路与中性点非有效接地系统三相容性电流开合试验替代回路的电击穿过程进行计算,并分析了真空断路器的开断过程,最终分别给出了中性点有效接地系统与中性点非有效接地系统三相容性电流开合试验回路中,评估NSDD和重击穿的方法以及典型示例。通过对国内外标准中有关NSDD观点的演变进行深入分析,更加准确地解读了导则中对NSDD的解释,是对相关标准及导则的完善补充。     

一种新的合成试验回路

对于超特高压断路器容量试验,传统的电流引入合成试验回路由于自身的局限性已无法满足标准要求。针对这一问题,提出了一种新型合成试验回路。介绍了该试验回路的工作原理,分析了回路的等价性。特高压断路器试验结果表明,该回路具有足够高的试验等价性,可以满足特高压断路器的开断试验要求。     

40.5kV投切电容器组用双断口真空断路器的研究

针对40.5 k V真空断路器投切电容器组时重击穿概率高这一亟待解决的技术难题,利用串联断口技术实现电容器组电流开合,提出了40.5 k V双断口真空断路器的设计方案并进行了深入研究,以满足电力系统的要求。建立了由高频涌流振荡回路和工频振荡回路组成的容性电流开合试验回路,在试验样机上完成了多组背对背电容器组开合试验,表明双断口真空断路器可显著降低投切电容器组时的重击穿概率。采用合成试验方法对该样机进行了短路电流开合试验,表明双断口真空断路器具有足够的短路开断能力。为保证每个断口的工作负荷相近,对并联均压电容数值的选取进行了试验研究并确定了样机的优选值为400 p F。因此,文中提出的用于投切电容器组的40.5 k V双断口真空断路器设计方案是完全可行的。     

特高压断路器的大容量开断试验等价性分析与开断试验方法

根据特高压断路器试验要求,对Weil-Dobke电流引入型合成试验回路的等价性进行了分析,探讨了引入电流的频率要求。介绍了ABB公司的EPIC合成试验回路,讨论了EPIC回路的结构和工作特点,指出了EPIC回路存在的问题。提出了适用于特高压断路器大容量试验的XIHARI合成试验回路,详细介绍了该回路的工作原理,对其试验等价性进行了分析。     

超(特)高压交流断路器开合容性电流问题探讨

容性电流开合试验是高压交流断路器的重要试验项目。近年来,超(特)高压断路器在系统和试验中开合容性电流时遇到不少问题,例如特殊环境条件下频繁重击穿、恢复电压多个周波后发生重击穿和NSDD。文中研究分析了这些典型问题,探讨了现行的相关标准和试验方法的缺陷,介绍了滤波器组用断路器的新试验项目及经验,是对现行标准和试验方法的完善所做的一次有意义的探索。     

高压断路器三相全电压关合合成试验回路研究

文中对国家标准《GB 1984—2014高压交流断路器》及《GB/T 4473—2008高压交流断路器的合成试验》、国际短路试验联盟STL导则中关于三相全电压关合的内容进行了解读,通过对直接试验回路中三相全电压关合过程进行模拟明确关合过程中断路器两端电压和电流波形的变化,对两种合成关合试验回路进行模拟分析并比较,提出了一种便于实现且等价性较好的三相全电压关合试验回路。结果表明该回路与目前标准推荐回路相比,实现难度较小,笔者推荐实验室可选择该试验回路。     

一种新的特高压断路器合成试验回路

特高压断路器试验方法的研究是特高压输电工程发展的基础。该文根据合成试验回路的基本原理，提出了一种新的适用于特高压断路器大容量试验的新型合成试验回路。给出了该试验回路的详细拓扑结构，介绍了回路的工作原理。根据描述开断电弧特性的麦依尔(Mayr)方程，建立参数化的PSCAD电弧电阻模型。在此基础上，对回路的开断试验过程进行仿真，得到了T100试验时的电流电压波形。对暂态恢复电压、电流过零前的变化率等进行分析，并与ABB的增强型并联引入回路(EPIC回路)和IEC试验标准进行比较。结果表明，该回路可以满足特高压断路器的开断试验要求，并具有足够高的试验等价性。     

145kV断路器开合电容器组电流试验研究

笔者研究了145 kV断路器开合电容器组电流试验的标准选用、试验方法、试验回路参数、试验要求等,并介绍了试验情况。研究成果的应用使得145 kV投切电容器组断路器的开合电容器组性能得到了型式试验考核,为工程的安全可靠运行提供了保障。     

母线槽故障回路电阻试验中试验电流对试验结果的影响

针对母线槽故障零序电阻试验中试验电流对试验结果的影响,通过对同一根母线槽通以额定电流以及3倍的额定电流,经过计算得到故障零序电阻,并对其进行分析,结果表明,母线槽的故障零序电阻试验中的试验电流为额定电流会更加合理些,为供电系统中正确选用合适的母线槽提供参考与依据。     

断路器直接试验和合成试验的等价性和比较试验

合成试验的等价性常常是人们关心的问题,有时甚至是争论的问题。本文试图介绍等价性的一些基本概念。对等价性涉及到的断路器的统计特性和比较试验方法作了简要说明。介绍了合成试验技术能得到公认并形成了国际标准的背景。最后对有关的问题进行了讨论。     

基于测试引擎的自动测试系统软件设计

软件是自动测试系统的关键组成部分.本文结合某直升机系列飞控系统测试,在自动测试系统软件设计中采用一种基于测试引擎的自动测试系统软件开发模式,它将系统按照功能划分成若干模块,每个模块都使用单独的引擎进行管理,使软件设计和数据库模型的建立密切结合,通用性较强、维护扩展较为方便.本文论述了软件设计思想,测试引擎的结构,测试管理引擎以及IVI驱动、资源配置、测试流程和故障诊断四个子引擎的功能及设计方法,并以某直升机部件测试中资源配置引擎为例说明了引擎的具体开发过程.     

IPM的检测系统及检测方法研究

本文对IPM模块的检测系统及检测方法进行研究,设计了基于DSP及FPGA的高速实时检测系统,选择中心对准SPWM波形作为IPM控制信号源,检测IPM的开关特性参数以及电压电流谐波特性,并对器件的故障信息给予判断处理。     

继电器寿命试验的精确调试

探讨了关于继电器寿命试验中负载的调试误差和调试效率问题,提出了精确、快速调试的方法和措施.     

边界扫描测试向量生成的抗混迭算法

文中在分析改良计数算法和移位“１”算法的基础上,提出了一种新型的边界扫找测试向量生成算法－等权值算法。该算法实现了测试向量集的紧凑性与故障分辨力之间合理的折衷,是一种性能优良的测试向量生成算法,它具备抗征兆混迭的故障诊断能力,测试时间的数量级为Ｏ（Ｎｌｏｇ（Ｎ）。     

宽带功率测试系统在电机试验中的应用

介绍了高额定转速电机与低额定转速电机的应用,以及变频电机的推广.对测试系统提出了宽频、宽幅测量和正弦波、直流波、PWM波等波形测量的要求.变频测试系统是应电机试验的特殊要求,适应电机试验技术发展而诞生的电机试验专用测试系统.     

通过改变试验电压进行绝缘测试的分析

在电气设备高电压试验中通过改变试验电压分析绝缘缺陷有时会取得事半功倍的效果。在现场试验中,通过降低或者提高试验电压的方法可查明套管、电容器类设备介质损耗因数异常的原因和部位;通过提高试验电压可查找大型发电机转子接地部位和定子端部损坏的绝缘盒;采用降低试验电压可改善发电机电容电流测量中的安全性。结果说明,改变试验电压是分析电容型设备故障的有效技术手段,可以快速查找某些类型的发电机转子接地故障和定子绝缘缺陷,在电抗参数的测量中降低试验电压还可以减小试验容量或提高试验的安全性。     

特高压断路器容量试验回路研究

随着断路器电压等级的不断提高,世界上各大容量试验站纷纷提出了适用于特高压断路器容量试验的试验回路。这些回路各有特点,为了找出更有优势的试验回路,笔者进行了一些分析和研究。文章主要介绍了试验回路的原理,分析了回路中辅助开关及产品的电弧电压对试验的影响,并计算了断口间及套管上的电场分布。通过比较试验回路在这些方面的特点,提出了关于试验站选择特高压断路器容量试验回路的建议。     

基于NI PXI平台的并行无线测试技术

无线局域网(WLAN)技术是近几年来发展最为迅猛的一项技术。尽管这项技术随着笔记本电脑、智能手机和平板电脑等个人设备的普及而快速发展,但市场调查表明这一发展势头仍将继续保持迅猛,因为WLAN技术越来越广泛地应用到更多的消费者设备中,这一个生态系统也被扩展使用到“物联网”中。不仅是WLAN服务需要得到更广泛的应用,802.11ac等新标准也将为设备提供所需的带宽来满足视频流等更高级的应用。对于设备制造商而言,这意味着测试方法也需要与时俱进才能应对制造需求的快速增长,还需要在维持相同质量水平的同时降低成本。如果采用多待测设备(DUT)测试架构,企业将可大幅缩短实现这些目标所需的时间。