PPG4001：PPG

泰克公司推出全集成式40Gb／s可编程码喇发生器（PPG）。该40Gb／s PPG连同先前发布的40Gb／s可编程误差检测仪现在构成完整的40Gb／s误码率测试（BERT）解决方案。凭借200fs随机抖动（RJ）和8ps上升时间性能，新泰克PPG4001提供了对40Gb／s串行数据测试至关重要的性能和信号质量。     

基于NIOS技术的2.5Gb/s PoS信号测试平台设计

设计了一台基于NIOS技术的2.5Gb/s PoS信号测试平台,可以从物理层、数据链路层和网络层三个层次对输入PoS信号的相关特性进行测试,并可兼容2.5Gb/s整体PoS、622Mb/s整体PoS和155Mb/s整体Pos三种格式.该系统采用了高速光电转化、大规模可编程逻辑器件、NIOS软核等技术,能够为高速SDH光纤网的运营维护和PoS设备的开发发挥很好的作用.     

40Gb/s交换IP软核验证和测试

研究40Gb／s交换IP软核的验证和测试方法。通过建立SDH芯片验证平台和SDH芯片测试平台,实现IP软核的功能仿真、时序仿真和芯片性能测试。使得IP软核质量优良、性能稳定，适应性强，达到了交换IP软核的设计要求。形成了具有自主知识产权的40Gb／s交换IP软核。     

BERTScope帮助应对高速串行接收机测试难题

随着串行通信链路的吞吐率和数据率越来越高,对系统总体性能的要求也越来越高,接收机的接收质量和误码率测试就变得日益重要。对于5Gb/s以下的信号,行业标准一般不会强制要求进行接收机端的测试,但是当信号速率超过5Gb/s时     

为HDMI 1.3b一致性测试寻找答案

性能不断升级,内容规范不断扩大,HDMI CTS测试正面临挑战 高速串行技术在推动数字产品发展的同时对测试测量提出了挑战,从早前的3Gb/s的数据速率跃升到现在的12Gb/s,其对标准规范和一致性测试的要求也越来越严格.     

基于FPGA的万兆协议转换系统设计与实现

万兆通信技术已成为卫星通信领域又一研究热点,为星上设备提供高速可靠的万兆数据源尤为重要。系统采用Xilinx公司新近推出的K7系列现场可编程门阵列(FPGA),利用其吉比特收发(GTX)接口模块和万兆媒体访问控制(MAC)软核实现了万兆协议转换功能。通过状态机设计方法实现了以太网协议帧和专用链路协议帧之间的相互转换。通过测试结果可知,系统达到了每通道10 Gb/s的转换带宽,总带宽达到40 Gb/s,能够满足星上设备的测试需要。     

是德科技推出业界首款集成可调节码间干扰功能的比特误码率测试仪

是德科技公司日前宣布,推出集成可调节码间干扰(ISI)功能的J-BERT M8020A高性能比特误码率测试仪。当工程师表征高速数字接收机以及测试其一致性时,通常需要仿真一定程度的通道损耗。最新的可调节和可编程ISI功能使工程师可以仿真这种通道损耗。该功能集成在J-BERT M8020A的每一个码型发生器通道中,因此无需连接外部电缆和切换外部ISI轨迹,使测试的设置步骤极大简化。J-BERT M8020A可以对数据速率分别高达16 Gb/s和32 Gb/s的单通道     

基于10 Gb/s传输链路的40 Gb/s光传输实验研究

基于中国自然科学基金网(NSFCNet)的400 km×10 Gb/s光传输链路实现了40 Gb/s光传输,没有出现误码率(BER)平台,说明在常规的中短距离10 Gb/s系统可以直接升级至40 Gb/s系统,而不需要升级传输链路。但是,由于相对10 Gb/s系统而言40 Gb/s系统的色散容限非常小,在升级时必须精确补偿原有链路的色散,在接收机前一般需要加可调色散补偿单元。同时,还分析了光纤注入功率对系统性能的影响,结果表明在设计这种由10 Gb/s向40 Gb/s升级的系统时,不仅要考虑信号带宽增加带来信噪比要求的提高,而且必须充分考虑光纤非线性的影响。     

用于40 Gb/s系统的可编程光纤挤压式PMD模拟器

用于40Gb/s系统的可编程全光纤偏振模色散(PMD)模拟器,采用一个电控光纤挤压式偏振控制器(PC)连接两段高双折射光纤的方案,该方案结构简单,PMD变化周期为1ms,输出偏振态在邦加球上均匀分布。能产生0～22ps的群时延差(DGD)以及0～121ps^2的二阶PMD。通过程序控制,可以产生各种均值的Maxwell分布。脉冲展宽实验和10 Gb/s系统眼图实验证明该模拟器性能良好。     

100Gb/s光传输设备及测试

随着偏振复用正交相移键控（PM-QPSK）编码、基于数字信号处理（DSP）的相干接收、前向纠错（FEC）等关键技术的突破,目前100Gb/s光传输设备已发展成熟,相应测试仪表也有多个厂家推出,国内外针对100 Gb/s光传输设备的实验室和现网测试也已规模开展,虽然在性能测试方面存在部分尚未解决的难题,但整体上已为100 Gb/s光传输设备规模商用奠定基础。     

100Gb/s波分系统的调测及本地化应用策略

介绍了100 Gb/s波分系统的主要调测方法及指标测试,包括光功率调测、系统调测和通道测试.从网络安全性、运维管理便捷性和100 Gb/s与40 Gb/s的比较选择阐述了100 Gb/s光系统本地化应用的策略.     

仪表工具精选——安捷伦增强型全光参数分析仪可降低光器件测试成本

安捷伦科技(Agilent Technologies)最新推出一款采用重新设计、功能大大增强的全光参数分析仪，为测试和检验关键光器件提供了全内置解决方案，如10Gb／s器件和40Gb／s DWDM器件。通过把提供测试结果的速度提高10倍，新型解决方案可以帮助光网络器件工程师和制造商明显降低开发和生产成本。     

增强型QSFP+表面贴装连接器

全新增强型QSFP+表面贴装连接器,能够为40Gb/s InfiniBand及以太网(4×10Gb/s)标准应用提供卓越电气性能。该产品为38位连接器,符合包括接口与主板设计在内的SFF-8436工业标准要求。     

泰克推出40GbE和100GbE测试解决方案

泰克公司目前为DSA8200数字串行分析仪系列推出新的光采样示波器模块,从而有效降低高性能光发射机开发和标准一致性测试的成本。80C10B及选配了F1选件的80C10BF1为下一代40Gb／s和100Gb／s及以上发射机标准的一致性验证．提供了业内最完整的测试解决方案。此外,泰克还针对100Gb／s以太网（100GbE）的制造和一致性验证,     

40Gb/s WG-PIN-PD光响应速率和光/电传输速度匹配(本期作秀论文)

介绍了40Gb/s波导型PIN光探测器(40Gb/s WG-PIN-PD)和共面波导结构,估算了40Gb/s波导型光探测器的光信号响应时间和光传输速度;指出了光探测器、共面波导中心线条宽度及间隙各为6μm时,可实现光、电传播速度接近匹配.     

40Gb/s DWDM传送技术及实际考虑

给出了40Gb/s DWDM传送系统的进展现状,分析了40Gb/s传输问题和一系列使能技术,讨论了40Gb/sDWDM传送系统基本结构,并从实际应用的角度,对10Gb/s和40Gb/s传输系统的特性及成本进行了比较,最后指出了发展40Gb/s传送系统思路及对策。     

40Gb/s DQPSK光信号解调技术研究

提出了一种基于FPGA的40Gb/s速率DQPSK光信号解调方案。详细描述了40Gb/s DQPSK光信号的解调、转换和接收过程,重点介绍基于FPGA的DQPSK解调、光电转换以及高速数据同步传输、缓存等关键技术。通过长周期伪随机码(周期231-1)测试,得到不同光功率下的接收误码率结果,验证了该方案的可行性。     

40Gb/s DWDM传送技术及实际考虑

给出了40Gb/sDWDM传送系统的进展现状,分析了40Gb/s传输问题和一系列使能技术,讨论了40Gb/sDWDM传送系统基本结构,并从实际应用的角度,对10Gb/s和40Gb/s传输系统的特性及成本进行了比较,最后指出了发展40Gb/s传送系统思路及对策。     

基于吉比特收发器的时分复用通信系统设计

为了充分利用光信号的宽带宽资源和提高信道利用率,完成线速率为2.5 Gb/s的多路信号高速传输,在FPGA上设计并实现了一种时分复用通信系统,并对其功能和性能进行了测试与验证。为了克服普通FPGA传输速率低于1 Gb/s的性能缺陷,选用了Xilinx内嵌了支持3.75 Gb/s最高传输速率的吉比特收发器的高速FPGA。最终测试结果表明,在短距离有线传输条件下,该系统成功实现了线速率为2.5 Gb/s的无误码的时分复用通信。     

40GbE和100GbE测试解决方案

DSA8200数字串行分析仪配合新推出的光采样示波器模块80C10B和80C25GBE,可有效降低高性能光发射机开发和标准一致性测试的成本。80C10B及选配了F1选件的80C10BF1为下一代40Gb／s和100Gb／s及以上发射机标准的一致性验证,提供了完整的测试解决方案。80C25GBE模块可满足100Gb／s以太网（100GbE）的制造和一致性验证需求。