频率量转换数字量的集成电路设计技术

传感器在各领域有着广泛应用,为了测试传感器输出的频率值,在传感器与计算机之间需要一种可以将频率量转换为数字量的专用集成电路。介绍了输出为频率量的传感器测试基本原理,设计了基于这种传感器而研制的专用集成电路,介绍了其电路功能,电路逻辑结构,电路核心器件逻辑设计及功能验证。     

DP—851单片计算机的制作与应用：教学实验板和逻辑笔的制作

一、教学实验板的制作教学实验板是DP-851单片机系统进行教学,演示,实验和开发的辅助设备。它采取模块化电路设计结构,包括计算机三总线模块电路(含地址译码电路)、蜂鸣器驱动电路、数据线驱动电路、两位数码管显示电路,发光二极管显示电路和40脚PIO芯片实验电路。这些模块电路自成单元,互不连接,但都焊有插针,用绕线器(专利产品)接上引线即可将各种模块电路相互连接。借此可进行MCS-51单片机指令实验,数字电路、显示器件、蜂呜器等实验,同时还可进行单片机应用开发模拟实验,是初学者必不可少的实验     

基于FPGA的数字量变换器测试系统设计

针对数字量变换器性能参数的测试工作,以FPGA为控制核心,开展数字量变换器测试系统的设计和研究,并给出系统各模块的具体设计方法;系统通过USB实现与计算机的通信,能够产生计算机字信号及相应移位脉冲信号、勤务信号和128路指令信号,并能接收经过数字量变换器变化后的计算机数码和指令数码信号;测试系统能够完成对数字量变换器各项性能指标的测试,实验表明,测试系统精度及可靠性高、实时性好,已经成功应用于某遥测系统中。     

基于51单片机的边界扫描控制器的设计与实现

为提高现代军事装备的故障检测能力,运用VC++软件编辑控制界面,设计并制作了一种基于51系列单片机的边界扫描控制器;该控制器由USB转串口电路和单片机构成,结构简单、通用性强且成本低廉;将PC机发送的测试指令或数据进行USB与JTAG协议转换,产生符合IEEE1149.1标准的JTAG总线信号;以EPM7128芯片为测试对象,注入JTAG信号并采集测试响应,实现了对基于测试芯片硬件电路的故障检测;测试结果表明:设计的边界扫描控制器可实现对单芯片和芯片级联的边界扫描状态的控制,能避开可编程芯片的内部逻辑程序控制,完成对可编程芯片及其外围电路的故障检测。     

采用FPGA的高速CCD相机的时钟发生器

采用IL－E2 TDI CCD做为传感器，与计算机构成了成像系统，并在计算机CRT上显示出图像。主要介绍高速CCD相机的工作时钟产生电路的设计，采用大规模集成电路FPGA实现了该工作时钟驱动电路，采用AHDL语言对工作时钟驱动电路进行了硬件描述，并利用Max Plus2软件对所设计的工作时钟驱动电路进行了仿真，最后对FPGA器件进行了编程和硬件电路调试，进而实现了整个CCD相机的控制。     

一种SAW电子烟雾化芯片驱动控制电路设计与实现

针对兆赫兹级高频SAW电子烟雾化芯片驱动需求,基于单片机控制及直接数字频率合成技术,设计开发了一款由单片机控制模块、信号发生模块、信号处理模块、人机交互模块和电源模块构成的驱动控制电路,搭建了测试系统,并对电路的工作性能进行了测试分析。结果表明,该电路可实现0～65 MHz的高频信号输出、频率误差小,且输出功率可达4.5 W,是一款信号输出稳定可靠、精度高、频率可调范围广、负载驱动能力强、小巧便携的驱动控制电路。本文的工作对于加速SAW技术在电子烟烟油雾化方面的应用具有重要参考价值,同时也可拓展应用于其他SAW微流体雾化驱动领域。     

大中规模数字电路的测试

本文介绍一种新型的通用大、中、小规模数字集成电路功能测试仪的组成、工作原理及主要硬、软件的设计。加权伪随机指令序列用于测试各种常用的微处理器。伪随机序列用于测试MSI/SST数字集成电路。确定性图形用于测试LSI接口电路。所有这些功能结合在一个小型的仪器内,因而具有很高的性能/价格比。测试的响应送到并行特征分析器,根据特征码正确与否就可确定被测器件的功能是否正常。     

计算机中用MCS-51单片机实现调幅度的自动控制

单片机是一种集成的电路芯片,是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器 CPU 随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断系统、定时器/计时器等功能（可能还包括显示驱动电路、脉宽调制电路、模拟多路转换器、A/D转换器等电路）集成到一块硅片上构成的一个小而完善的计算机系统。在HMOS技术大发展的背景下,而英特尔MCS-51单片机在MCS-48系列的基础上增加了许多功能,尤其就指令和运行速度而言,超过了INTEL8085的CPU和Z80的CPU,成为工业控制系统中较为理想的机种。利用MCS—51单片机结合电动衰减器组成的控制器来实现调幅度的自动控制,配合累进式计算法来克服CPU储存介质进行大量数据读写的瓶颈。我们利用MCS—51单片机来分离音频信号与波调幅信号载波,得到高精准度的调幅度信息并利用“与载波频率无关”法对发射机调幅度进行自动化控制。     

MC9S12在数字单元测试仪中的应用

设计了一种用于弹载计算机电路测试的数字单元测试仪,以MC9S12XS128单片机为核心,外接测试机构和LED输出端,通过嵌入式编程实现对测试机构电阻测试及电路转换等功能,结合MC9S12XS128单片机良好的稳定性、低成本低功耗等优点使测试仪具有较高性价比。测试结果表明该测试仪可靠性高、使用方便满足测试要求。     

基于HPVEE的数字电路器件仿真及其在测试上的应用

介绍了使用HPVEE (图形编程语言 )进行通用数字集成电路 (包括组合电路和时序电路 )器件仿真的方法 ,给出了利用该仿真电路实现通用数字集成电路的在线测试与故障诊断的具体实例。     

微处理器下的数字集成电路测试系统设计

设计一种基于微处理器嵌入结构的数字集成电路测试系统;该系统在保留了传统数字集成电路测试系统使用的布尔差分算法的基础上,将布尔差分算法形成的中间大数据进行模糊神经网络的进一步分析,使得布尔差分算法获得可测故障捕捉结果的同时,将不可测故障进行充分捕捉;最终设计一款提供30×30固定快插式引脚且运行在最大750MHz频率上的数字集成电路测试系统;经过实测,发现升级后算法在测试敏感度和特异度方面均获得提升;该技术革新成果将对高复杂度硬件系统的测试工作带来显著的效率提升。     

数字通道传输延迟时间测量方法研究

在集成电路测试领域,传输延迟时间tPD是一个非常重要的参数,其不仅反映集成电路对信号的响应速度,也是集成电路测试系统交流参数测量准确的重要影响因素。详细分析了集成电路测试系统传输延迟时间产生的原因,及其对待测器件交流参数测量结果的影响。提出了基于时域反射技术的集成电路测试系统数字通道传输延迟测量方法,并在泰瑞达J750EX集成电路测试系统上进行了实验验证。通过对实验数据的分析,表明该方法能有效测量数字通道传输延迟时间,提高集成电路测试系统交流参数测量准确度。     

用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究

全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方法.实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的.通过测试所有的数据通路,不但可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误.     

光伏组件测试仪的光辐照度不均匀性检验系统的研究和设计

通过对传统光伏组件测试设备检验方式的分析,提出了一种一次闪光就能够完成对测试仪工作平面辐照不均匀性测试的方法,在设计中充分使用了国际知名公司新生产的元器件,设计了信号调理电路和数据采集电路,电路设计简单,成本低廉易于实现,采集精度符合设计要求。并编写了上位机的测试程序,对辐照不均匀性测试进行了验证,结果表明测试工艺简单,数据可靠,生产效率高。     

数字集成电路测试技术应用

介绍了数字集成电路测试系统的基本构成,当今超大规模数字集成电路测试的基本原理,并在掌握这些测试理论的基础之上针对不同类型的测试系统利用其各自测试语言进行编程的测试技术应用,同时也提出了集成电路测试技术面临的挑战和未来发展趋势。     

集成电路综合自动测试系统软硬件接口设计

为满足日益增长的集成电路测试需求,研制了集成电路综合自动测试系统。该系统对外包含软件平台接口和硬件平台接口。软件平台接口主要针对在被测集成电路规模越来越庞大的背景下,测试程序开发成本高、但软件测试平台之间不能互相兼容的问题,设计了一种基于自动测试模型的集成电路测试程序开发方法,并采用典型集成电路进行了测试验证,可满足测试程序开发的需要。硬件平台接口主要满足高速信号等的传递需求,设计了基于弹性对接技术的硬件平台接口,并进行了结构尺寸、信号传递特性等指标的测试,测试数据表明,可实现测试接口板与测试头之间的稳定连接,满足最高1.6Gbps、最大2048通道数字信号等的传递需求。     

基于MOS管的箭载时序控制器设计与实现

针对新一代运载火箭对箭载关键电子产品智能化、小型化、通用化的要求,设计了一种基于MOS管的时序控制器;介绍了硬件及软件设计方案,在硬件电路设计中采用了安全性设计措施;阐述了时序控制器在不同状态下,通过自定义高速串行总线接收飞控计算机指令,控制火工品引爆、电磁阀通断,以及实现电磁阀的节能使用;在测试及飞行过程中,可以进行时序状态的回采测试,通过串行总线反馈给飞控计算机进行健康管理;在回路阻值测试中,能够确保火工品在绝对安全环境下,进行火工品回路的电阻值测试;该时序控制器参加了单机的环境试验、系统综合试验及运载火箭的飞行试验,时序回采参数满足火箭飞行时序的要求,产品工作正常,确保了运载火箭飞行试验的圆满成功。     

集成电路老化及老化检测技术研究

数字集成电路老化会对电路的稳定性与可靠性造成一定的影响,甚至会对电路的安全性造成一定的威胁。针对此问题,对集成电路老化的概念进行了解释,分析了集成电路老化的影响因素,研究了数字集成电路两种常用的老化测试技术,即老化检测技术与老化预测技术,并对两种技术进行了对比分析,根据数字集成电路具体情况的不同,运用不同的检测技术。对集成电路老化问题的有效预防与处理提供了有效的帮助与参考。     

某型防空导弹国产化数字板测试仪设计

针对某型防空导弹数字电路板国产化工作,设计了一种用于对仿制板进行功能测试验证的数字板测试仪;测试仪设计引入虚拟仪器的概念,采用层次化、模块化和标准化的思想,硬件方面主要利用CPLD与USB技术实现了系统的通信与控制,软件方面采用Lab Windows/CVI实现了测试仪的应用程序设计;实践证明,该测试仪是一种能够最大限度利用计算机资源、支持热插拔、价格低廉的新型虚拟仪器测试仪,较好地完成了国产化板的功能验证任务.     

功率集成电路中过热保护电路的设计

过热保护电路对于功率集成电路而言无疑是十分重要的。在集成电路中的过热保护电路一般利用二极管、三极管的温度特性来做传感器。阐明这种电路的优缺点、工作原理,并对其进行分析。该保护电路主要应用于功率集成电路中,也可以应用于一般的数字或模拟芯片中。