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三维曲面激光快速自动测量系统 总被引:5,自引:1,他引:4
本文介绍了一种采用激光和CCD光电子技术非接触三维曲面快速自动测量方法,阐述了该测量法的光学三角几何学测量原理。介绍了利用这种测量系统的配置,测量过程和测量数据采集与处理,用该测量系统对轿车模型作了实验测量,并取得了良好的实验结果,不仅生成了轿车模型的三维曲面立体图形,而且与实际模型基本吻合。 相似文献
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为缓解微波介质陶瓷(MWDC)研制中,在介质性能测量方面存在的困难,介绍两种较为简便易行的ε_r测量方法。评述了其原理并给出了实验数据对照。 相似文献
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在电子电路实验教学中,采用Electronics Workench EDA对电路测量方法进行实验和研究,以“由R,C元件构成的微积分电路,移相电路,滤波电路的研究”的电路实验为例,介绍了该软件在参数测量中的几种使用方法。 相似文献
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本文主要介绍了EMC衬垫传输阻抗和屏蔽质量理论及测量方法。在此基础上,对国内外部分衬垫产品进行了实际测量和讨论。 相似文献
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叙述CATV网络基本技术参数及其测量原理,简述了其测量方法,介绍测试仪表的工作原理和电路实现方法,并给出了系统的软件流程。 相似文献
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本文首先导出利用微波辐射计测量天线辐射效率时辐射效率的一般表示式,然后介绍了测量方法和实验结果。 相似文献
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红外发射光谱受诸多实验条件的影响,按测量原理可分为单光路和双光路2种测量方法。本文着重介绍用FT—IR仪器进行改进以实现对光谱发射率测量的方法,并分析了几种具体测量方法的特点。 相似文献
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详细分析了循环周期脉冲信号异步测量方法的计量误差,指出了影响测控系统计量精度的主要原因,提出了基于锁相环(PLL)同步的新方法。该方法能有效消除测控系统的计量误差随传感器工作状态变化的因素,在PLL内部计数频率高于系统CPU工作频率的情况下,可以有效提高系统的计量精度,同时,可以自动实现传感器测量信号的归一化运算,避免CPU的除法运算负担,从而有效提高测控系统的实时性。最后给出了具体应用PLL同步计量方法的实用测量接口电路。 相似文献
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针对便携式结构光测量系统和光学三 坐标测量系统的测量坐标系的全局统一问题,提出了一种基于手眼标定模型的标定方法 。利用 在全局坐标系下固定的平面标靶以及与便携式结构光测量系统具有刚性约束关系的 主动光立体标 靶作为中介坐标系,分别估计便携式结构光测量系统与平面标靶的位姿参数以及光学三 坐标测量系统 与主动光立体标靶之间的位姿参数,然后基于手眼标定模型标定出主动光立体标靶与便携式 结构光测量系 统之间的刚性位姿关系,进而完成便携式结构光测量系统和光学三坐标测量系统的坐标统一 。实验结果表 明,本文方法标定结果相对误差标准差约为0.151mm,标定精度合理 有效,可以实现便携式组合测量系统坐标统一的快速标定。 相似文献
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机载红外扫描仪黑体温度测量是遥感数据定量化反演的依据,已经成为仪器设计的重要环节。由于黑体的面积较大,相对于目前一般使用的单点测温方法介绍一种多点测温方法,在黑体内放置多个温度传感器,通过扫描网络实现多点巡回测温,提高黑体测温准确度。同时,兼容多种不同精度的温度传感器,能够适应不同灵敏度的红外扫描仪对黑体测温精度的要求。 相似文献
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介绍了用于GB/T17626.6—2008中耦合/去耦网络的校准方法及校准测量系统,主要研究了共模阻抗和耦合系数的校准方法,并给出了用校准系统测量耦合/去耦网络的校准数据。对校准系统校准结果的不确定度进行了评定。 相似文献
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Aiming at the problem that the lattice feature exceeds the view field of the scanning electron microscope (SEM) measuring system, a new lattice measuring method is proposed based on integral imaging technology. When the system works, the SEM measuring system is equivalent to an integral image acquisition system. Firstly, a lattice measuring method is researched based on integral imaging theory. Secondly, the system parameters are calibrated by the VLSI lattice standard. Finally, the value of the lattice standard to be tested is determined based on the calibration parameters and the lattice measuring algorithm. The experimental results show that, compared with the traditional electron microscope measurement method, the relative error of the measured value of the algorithm is maintained within 0.2%, with the same level of measurement accuracy, but it expands the field of view of the electron microscope measurement system, which is suitable for the measurement of samples under high magnification. 相似文献