制作花粉样片校准双光子荧光显微镜放大倍数及示值误差方法

主要介绍了制作花粉样片校准双光子荧光显微镜的放大倍数及示值误差的方法。通过对双光子荧光显微镜的构成及其工作原理的分析,在用传统方法不能实现对系统的放大倍数及示值误差进行校准的情况下,研发制作了一套标准花粉样片,用样片作为标准参照物对双光子荧光显微镜的放大倍数及示值误差进行校准,并通过不确定度分析对该方法的可靠性进行了验证。     

X荧光光谱仪测定保护渣中多元素

本文采用熔融法制取玻璃状样片,利用转炉渣、高炉渣标样及自制的参考标准物质保护渣合成系列标准物质,建立工作曲线进行联合测定。通过对样品的制备、工作曲线的绘制、样品的测定几方面研究,确定X荧光测定保护渣中多元素的方法。实现了保护渣中SiO_2、Fe_2O_3、Al_2O_3、CaO、MgO多元素X荧光联合测定技术。     

X荧光分析仪的应用分析

随着我国经济水平的飞速发展,X荧光分析仪的使用已经得到了相关领域的普遍认可。对此,本文主要从标样的准备、制样条件的确定、工作曲线的建立、仪器维护等多个方面对X荧光分析仪具体使用情况进行研究,并提出合理化建议,提供给相关人士,供以借鉴。     

硅上氮化硅膜厚样片的制备

首先论述了膜厚测量仪应用的广泛性以及膜厚样片用于校准膜厚测量仪的重要性;其次,介绍了硅上氮化硅(Si_3N_4/Si)膜厚样片制作的必要性,并从样片的图形设计、加工工艺选择等方面详细阐述了硅上氮化硅膜厚样片的研制过程;最后,对已试制的膜厚样片的均匀性、稳定性进行了相应的考核及分析,分析结果表明研制的硅上氮化硅膜厚样片具有较好的稳定性。     

能量色散X射线荧光法快速检测玩具中铅方法的问题分析及应对措施

结合美国和欧盟在X射线荧光光谱法检测玩具中铅的报告和标准方法,对X射线荧光光谱仪进行了分类剖析,列举能量色散X射线荧光光谱仪检测玩具中铅的优势,分析现阶段还存在的问题,结合理论和实践对问题逐一提出应对措施,为建立X射线荧光光谱法检测玩具中铅的标准方法提供正确方向和理论基础。     

纳米尺寸膜厚标准样片的椭偏分析

针对膜厚标准样片的高精度测量问题,基于光谱型椭偏仪测量系统,提出对膜厚标准样片逐层分析的方法。利用相应的匹配算法,对比硅上二氧化硅模厚标准样片的等效结构模型和四相结构模型,实现对薄膜样片的厚度表征和椭偏分析。其次,通过对样片进行为期12周的测量考核,完成对薄膜样片表层分子吸附机理的分析。实验结果表明:针对研制的标称值为2～1 000 nm硅上二氧化硅膜厚标准样片,中间层的厚度存在先递减后递增的趋势。其中,在标称值为50～500 nm范围内,等效结构模型与四相结构模型测量结果的绝对误差在±0.2 nm以内,因此,可以采用等效结构模型的方法开展仪器的校准工作。另外,提出通过加热实现对标准样片解吸附的方案,有效解决超薄膜样片的储存问题。     

影片《张思德》后期制作的探讨和实践

影片《张思德》公映后,它的影像效果令观众感到耳目清新,因此,有关这部黑白电影后期制作方面的信息引起了众多人士的关注,它的制作方法引起了很多制作人员和观众的兴趣,本文将介绍我们对这部影片制作工艺的探讨和实践。一、负片的冲洗不少媒体在报道有关影片《张思德》的消息时称,这部影片是在澳大利亚进行的后期加工。其实,只有负片是在澳大利亚冲洗的,还有一小部分黑白样片和对应的彩色样片是在澳大利亚洗印的。而特效部分的彩底、大部分样片、标准拷贝和发行拷贝都是在北京电影洗印录象技术厂制作的,并因此大大节约了制作成本。那么,过去…     

半导体硅单晶电阻率标准

本文叙述了硅单晶电阻率标准样片制备工艺中所采取的几项措施,着重讨论了标准测量装置的组成和标准样片定标方法的选择依据及其误差分析。给出本项标准实际达到的主要技术指标及其与美国国家标准局同类标准样片的比较结果。     

浅谈X射线荧光光谱法测定石灰中的钙镁硅含量

采用熔融法制样,选择石灰标准样品,使用洛阳特耐熔样炉制样,岛津X-射线荧光光谱仪对石灰石中氧化钙、氧化镁、二氧化硅等含量进行测定。试样以偏硼酸锂做熔剂、碘化铵做脱模剂制备玻璃熔片,以石灰石标准物质和高纯碳酸钙制备标准样片做曲线,用化学法同时进行比对试验。     

提高波长色散X射线荧光光谱法测定钼精矿中钼含量的准确率

本文针对X荧光分析仪测定钼精矿中钼含量的主要影响因素进行分析,并确定出钼含量在49%-58%范围的钼精矿样品适宜的测定条件,提高了样品检测的准确率。     

量子点掺杂荧光凝胶标准试纸条研制及荧光免疫分析仪校准应用北大核心CSCD

利用微流控技术和量子点技术,将量子点与PDMS均匀混合并压入毛细管中固化成型,研制成量子点掺杂荧光凝胶标准试纸条。通过对量子点浓度的控制,制备了高、中、低共3种荧光强度的荧光凝胶标准试纸条,并对试纸条的光漂白性、均匀性、稳定性等方面进行了考察,评估了不确定度。结果表明该荧光凝胶标准试纸条具有良好的抗光漂白性、均匀性,可在室温避光下稳定保存180天。通过对多家荧光免疫分析仪进行校准实验,证明了该荧光凝胶试纸条具有良好的适用性,为荧光免疫分析仪的校准提供了可靠的参考依据。     

NIM-IC型半导体硅单晶电阻率标准样片与NBS的SRM型标准样片的比较实验

通过对中国计量科学研究院(NIM)与美国国家标准局(NBS)研制的硅单晶电阻率标准样片的比较实验研究,获得了标志着标准样片主要性能的方块电阻直径扫描分布曲线、全片等值分布图和大量有用数据。实验结果表明,NIN标准样片的各项性能均达到NBS同类标准样片的水平,其中,径向电阻率不均匀度和标称值偏差两项的指标还优于NBS标准样片。     

能量色散X射线荧光仪校准及不确定度评定

该文通过能量色散X射线荧光光谱仪测量RoHS指令规定的检测X射线荧光分析用标准物质,并制作线性回归标准工作曲线,在对ABS工程塑料中Cd、Cr、Hg、Pb等系列元素含量进行测试时,给出仪器测量上述4种特定元素的引用误差及检出限的校准方法,并对仪器引用误差与检出限测量结果的不确定度进行分析与评定。实验结果表明,仪器测定Cd、Cr、Hg、Pb系列元素含量的引用误差均不超过±5%,扩展不确定度U≤4%(k=2),该校准方法在某种程度上为RoHS元素快速检测仪校准提供技术依据,具有一定的借鉴作用。     

X射线荧光光谱法快速测定精炼渣中主要成分

采用压片法制备精炼渣样片,使用X射线荧光光谱仪测定TFe、SiO2、CaO、MgO、Al2O3等化学成分含量,采用自制控样绘制工作曲线。实验测定结果与湿法测定结果吻合较好,方法快速、便捷,完全满足生产检测要求。     

基于CD-SEM的线距标准样片测量

针对线距标准样片线间距的测量需求,基于关键尺寸扫描电镜(CD-SEM),提出了一种宽度测量方法。首先,介绍了CD-SEM测量系统的基本原理;其次,使用CD-SEM对VLSI生产的标称尺寸为100 nm、3μm、10μm的线距标准样片进行了测量;最后,对测量不确定度进行评定,并将测量结果与VLSI标准样片证书给出的标准值进行比对。结果表明:En值最大为-0.7,CDSEM测量线间距的准确度很高。     

在线工业镀层及涂层厚度分析仪

产品和金属元件表面镀层或防腐层厚度是与产品质量与性能相关的重要指标。为满足分析要求,介绍了自行研制的同位素X射线荧光分析仪的主要技术方法及具体应用。实际应用效果表明该分析仪在对工业镀层和汽车涂层厚度进行在线测量时其测量精度可达2%～4%,是一种具有快速、简便、无损等优点的新型分析方法。     

X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用

X射线荧光光谱法是一种应用较早,且至今仍被广泛应用的元素分析技术。从仪器选择、测量条件、试剂选用、试样制备、校准曲线绘制、标准样品特殊处理对X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用进行具体的说明,并以对比实验,验证其测定效果。     

X射线荧光光谱法测定钨酸钠中的三氧化钨

目前钨酸钠中三氧化钨含量的测定通常参照国家标准采用重量法进行分析,该方法准确度高,但手续繁琐,工作量大。本文采用混合熔剂熔融制样-波长色散X射线荧光光谱法测定钨酸钠中三氧化钨含量的方法。即以NaB_4O_7+Li_2B_4O_7为混合熔剂和以五氧化二钽为内标,熔融制成试样片,用X射线荧光光谱法测定三氧化钨的含量。实验表明,该方法线性相关系数达到0.999,精密度(RSD)小于0.2%,实际样品测定值与国家标准方法一致,可测量三氧化钨含量的范围为20%～78.89%,且分析时间大大缩短,具有较好的实用价值,可满足实际样品检测的需要。     

8-羟基喹啉锌/碳微球复合材料的合成表征及发光性能

利用流变相反应法制备了碳微球(CMSs)负载8-羟基喹啉锌(Znq2)的复合材料.通过场发射扫描电子显微镜、X射线衍射仪、热重分析仪、X射线光电子能谱仪、傅里叶红外光谱仪和荧光分光光度计等对Znq2/CMSs复合材料结构和发光性能进行了表征和分析.结果表明:Znq2以非共价键形式负载于直径均匀的CMSs(300～400...     

一种光谱型椭偏仪的校准方法

针对光谱型椭偏仪校准结果受测量模型影响大的问题进行研究,提出一种不受测量模型影响的校准方法,即通过校准椭偏角实现光谱型椭偏仪的校准。依据椭偏仪测量原理,通过仿真分析确定实现较大范围内椭偏角校准所需标准样片的薄膜厚度量值,并采用半导体热氧化工艺制备出性能稳定的膜厚标准样片。使用标准样片对型号为M-2000XF的光谱型椭偏仪的椭偏角进行校准,样片厚度为2,50,500 nm对应的椭偏角偏差分别在±0.6°,±1.5°,±2°以内,该偏差对薄膜厚度的影响不超过±0.5 nm。经实验表明:该方法不受椭偏仪测量模型的影响,可有效解决光谱型椭偏仪的校准问题。