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本文介绍一种新型的高精度露点传感器──离子单晶露点传感器。某种盐的离子单晶表面的饱和水蒸汽压与空气的水蒸汽压相等时,该离子单晶表面生成潮解膜,其表面交流阻抗发生突变,利用这一特性,设计一种温度调节器,使接触单晶表面的空气水蒸汽压平衡于单晶表面固有的饱和水蒸汽压,系统的温度t表征了露点tD。即:tD=f(t)。该传感器互换性好,抗污染能力强,是开发测湿技术的新方向。 相似文献
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吴世海 《机电产品开发与创新》2012,25(2):38-39,56
介绍了单晶炉的主要机械结构以及气缸的基本知识,根据目前单晶炉设备所需要的自动化程度的不断提高.介绍了双作用气缸在单晶炉中翻板隔离阀处阀盖开、关机构上的应用。 相似文献
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连铸单晶铜的力学性能及断裂特征 总被引:3,自引:0,他引:3
研究了同纯度的连铸单晶铜和连铸多晶铜的力学性能及断裂特征,并分析了二者范性变形特点的异同及原因。结果表明,连铸单晶铜与连铸多晶铜都没有屈服点,连铸单晶铜与连铸多晶铜相比,具有更好的塑性。连铸单晶铜表现出明显的各向异性,圆柱形拉伸试样变形成椭圆柱形,其长短轴之比为1.36;连铸单晶铜的断口呈扁平状剪切唇口,其断裂机理为微孔长大型断裂,显微孔洞在拉伸轴线上形核。连铸多晶铜宏观断口表现为各向同性和明显的变形不均匀性,在试样的表面出现了凹凸不平的印花,其断裂机理是微孔聚合型断裂,显微孔洞是在以拉伸轴线为对称中心的区域内的形核。 相似文献
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镍基单晶高温合金的铸态年与消除 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了镍基单晶高温合金CMSX-3的铸态组织与偏析行为。探讨了预时效处理对单晶合金偏析行为的影响。结果表明,在固溶与时效处理中间加入时效处理可有产地消除单晶合金组织与成分的不均匀性。 相似文献
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介绍了在真空下用引上法(CZ)生长氟化锂(LiF)单晶体的一些情况.采用该方法生长出的晶体,其单晶率优于埚下降法(BG),晶体的质量和利用率大幅度提高. 相似文献
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介绍了采用埚坩下降法生长掺杂AgCl晶体的工艺,得到了尺寸为φ20×60mm的AgCl晶体棒;对掺杂AgCl电极晶体的性质、测试数据及应用作了报导。 相似文献
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电厂燃气涡轮用单晶高温合金的进展 总被引:1,自引:1,他引:1
由于电厂大型燃气涡轮机市场需求不断扩大,导致了高效低成本大型机组的剧烈竞争。其结果是单晶一类先进高温合金被用于新型机组。根据航空涡轮发动机与电厂燃气涡轮机(UGT)在尺寸、运转环境和负载要求方面的重大差异,讨论了UGT叶片和导向叶片用单晶合金的成分、力学性能和抗氧化与热腐蚀性能。 相似文献
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为研究纳米压印中单晶铜亚表层晶体结构演变机理,采用分子动力学方法构建纳米压印仿真模型并模拟单晶铜纳米压印过程。采用改进的中心对称参数法分析单晶铜试件位错形核过程及缺陷演化机理,发现纳米压印时位错缺陷在压头下方形核并沿{1 1 1}滑移系向试件内部扩展形成堆垛层错,试件表面有原子台阶残留,试件亚表面损伤层存在V形位错等典型缺陷。针对位错形核区域及位错扩展区域材料晶体结构状态的识别,采用球谐函数法对模拟结果进行分析。由分析结果可知:位错形核区域材料晶体结构由FCC转变为排列更为紧密的HCP和ICO结构;位错扩展区域材料主要转变为DFCC结构。 相似文献
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本文从企业内部及外部两方面分析了成长型中小企业信息化的现状,在此基础上探讨了成长型中小企业信息化的优势和实施策略。在信息社会的大环境中,实施信息化是成长型中小企业生存和发展的必然性选择 相似文献
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在微电子领域,石英晶片主要用于制造石英晶振器件。石英晶片的质量直接影响晶振的性能与可靠性,而研磨是保证石英晶片表面质量的重要工艺措施。本文采用行星式双面研磨机对石英晶片进行了研磨加工试验,研究了研磨区压强对加工效率的影响。试验结果表明,在相同工艺条件下,材料去除量随着研磨区压强的增大而增大。 相似文献
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V. A. Shvets N. N. Mikhailov S. A. Dvoretskii 《Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing》2011,47(5):426-435
A retrospective analysis of growing of multilayered and variband structures based on the mercury cadmium telluride compounds
by the method of molecular beam epitaxy with ellipsometric control and methodical developments in the field of ellipsometry
of inhomogeneous structures is presented. Calculations are performed, and solutions of direct and inverse problems for some
cases important for practice are obtained. The high accuracy of determining the thickness and composition of the layers in
growing heterostructures of nanometer-scale thicknesses is demonstrated. In some cases, it is proposed to use the relative
derivative of ellipsometric parameters measured in the course of growing the structure to increase the accuracy of solving
the inverse problem. This procedure allows the profiles of the optical constants of structures with gradient compositions
to be determined. Theoretical calculations for periodic layered structures are performed, and the possibility of their controlled
growing is demonstrated in experiments. 相似文献