一种3D堆叠集成电路中间绑定测试时间优化方案

中间绑定测试能够更早地检测出3D堆叠集成电路绑定过程引入的缺陷,但导致测试时间和测试功耗剧增.考虑测试TSV、测试管脚和测试功耗等约束条件,采用整数线性规划方法在不同的堆叠布局下优化中间绑定测试时间.与仅考虑绑定后测试不同,考虑中间绑定测试时,菱形结构和倒金字塔结构比金字塔结构测试时间分别减少4.39%和40.72%,测试TSV增加11.84%和52.24%,测试管脚减少10.87%和7.25%.在测试功耗约束下,金字塔结构的测试时间增加10.07%,而菱形结构和倒金字塔结构测试时间只增加4.34%和2.65%.实验结果表明,菱形结构和倒金字塔结构比金字塔结构更具优势.     

基于C^#的高低温自动化测试系统设计与实现

为了解决高低温环境测试中测试时间长,设备利用率低,数据记录数据量大等一系列测试问题,提出了基于C#和软件自动化测试理论的高低温自动化测试系统。该系统采用C#软件开发,利用计算机通信和控制技术,通过对测试设备和测试流程的自动控制,在保证测试安全、准确的前提下完成整个高低温测试实验,自动记录测试数据,并在测试结束后自动得出测试结论,达到了提高高低温箱测试利用率及减少测试浪费的目的。     

测试与可测试性设计发展的挑战

CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路(IC)继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战.本文首先介绍了测试和可测试性设计的概念,分析了测试和可测试性设计面临的困境;然后讨论了系统芯片设计中的测试和可测试性设计,最后对测试和可测试性设计的未来发展方向进行了展望.     

2015年《电子质量》征稿启事

具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法.以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势     

ATM测试介绍

介绍了ATM网络及设备需要进行的测试,包括ATM测试简述、ATM的一致性测试、互操作性测试、性能测试、网络测试和设备测试。     

IXIA EPC测试解决方案

详细介绍了EPC测试挑战和IXIAEPC测试解决方案。主要测试包括LTE网络测试、UMTS和IMS测试、用真实的用户模型测试性能。     

2013年《电子质量》征稿启事

具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法,以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势文章,从而深入剖析目前行业内的重点技术,找到市场与技术的结合点。     

国外运营商认证测试要求

介绍了不同层面的终端测试,即强制性测试、终端一致性测试和运营商认证测试。对国外运营商认证测试、运营商认证流程以及欧洲和北美运营商的测试要求和测试内容进行了阐述,并给出了一个运营商定义的测试例。     

2015年《电子质量》征稿启事

具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法,以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势文章,从而深入剖析目前行业内的重点技术,找到市场与技术的结合点。     

电子元器件测试系统选型中的若干问题

本文探讨了测试需求和测试成本之间、测试系统和测试体制之间、测试系统和测试技术之间的关系,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统、选择小型测试系统和中、大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了一些看法。     

基于并行机制的边界扫描技术

在SoC测试时,测试功耗和测试成本是其可测性设计中最重要的一点要求.在分析了常见测试结构的测试功耗的基础上,提出了一种并行扫描机制的测试结构,包括访问机制的设计和测试控制器的设计.该方法可根据测试成本和测试功耗的要求,选择不同的构造方法.     

2012年《電子质量》征稿启事

具体征稿内容范围:全书共分三个卷别:《测试测量技术》卷、《绿色质量观察》卷、《认证与实验室》卷。《测试测量技术》卷测试测量技术包括:探讨测试技术的理论研究、产品测试和解决方案。测试测量方面重点技术专题的范围是:通信测试解决方案、环境测试技术、虚拟仪器测试技术、PCI、PXI、信号发生器、航天军工产品测试、宽带测试、AV测试、安全测试、3G测试、LTE测试、USB3.0或2.0测试、光伏测试、LED测试、HDMI测试、Disport测试、电动车、SMT测试、PCB板测试、DDR测试、仪器仪表工作原理和制作方法,以及其它测试相关最新研究与应用论文、市场动态走势     

混合信号边界扫描测试系统的设计与实现

分析了混合信号边界扫描测试的工作机制对测试系统的功能需求,实现了符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试系统。仿真和测试实践表明,该测试系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,结构简单、携带方便、工作可靠。     

基于测试码的测试：多测试位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键问题

1介绍 多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石。一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足,使得并行测试效率降低。测试系统架构不断地发展,寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,以实现更高的并行测试效率。     

Web测试方法浅析

随着Internet的日益普及,Web测试技术正在世界范围内兴起。Web测试方法日新月异,然而,Internet和Web媒体的不可预见性使基于Web的测试变得困难。因此,如何对这些Web应用进行测试成为关键问题。文中主要介绍Web测试指标和测试工具,阐述了Web测试的6个方面：功能测试、性能测试、用户界面测试、兼容性测试、安全测试和接口测试,并对Web的测试过程和方法做了整体的概述分析。     

基于虚拟仪器的TD-SCDMA终端码域测试

根据3GPP协议中TD-SCDMA终端测试规范所定义的码域测试项目,针对各项测试指标分别给出了完整的测试流程和算法,重点介绍了在TD-SCDMA终端发射机和接收机的码域测试中所需要测试的指标和测试方法、原理。最后模拟终端测试环境,对各项指标进行了测试。实验结果表明：测试方案可以满足协议所规定的测试要求,从而验证了测试方案的准确性和可靠性。     

电子元器件测试系统选型方法

文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较,分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了看法.     

电气测试

我们可以用几个小时来讨论测试技术:针床测试、移动探针(飞针测试)、电子束测试等离子体测试和光电测试等技术.今天,一个PCB工厂所涉及的是与电气测试过程和测试可靠性(即测试本身的有限范围和可靠性)相关的整体成本.人们总想以尽可能低的成本来100%测试全部生产的板.     

亚微米LATCHUP测试分析实例

关于LATCHUP理论目前相当丰富,但是关于LATCHUP的具体测试和分析文献很少介绍。本文讨论门亚微米工艺LATCHUP测试的一个例子。门的LATCHUP测试不属于常规PCM参数测试,但是在新工艺开发时,必须进行相关测试来确认设计规则。在这个例子里,作者进行LATCHUP测试和分析,最后得出相关结论。对于LATCHUP测试,不同工艺和不同测试结构在实际测试时可能会有些不同考虑,因此,希望该例子能给读者提供一些关于LATCHUP测试和分析的思路。     

基于TestStand的DDS特性参数自动测试管理

介绍了基于TestStand软件对DDS特性参数进行自动化测试的流程管理.DDS测试参数包括常规参数和特性参数,常规参数由普通的专用测试设备即可测试,而特性参数由于测试项目繁多,测试要求高,采用普通的测试设备难以测全所有参数,且精度难以保证,通过外接高性能专用仪器对其测试是比较好的测试方案.由此带来的问题是测试资源杂多,需要一个统一的测试管理平台,对测试资源和测试流程做统一的测试管理.TestStand软件是一款非常优秀的测试管理软件.应用TestStand软件对DDS复杂的自动测试流程进行管理,方便了测试开发过程,极大地提高了测试开发效率.