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本文讨论了一种基于虚拟仪器技术的自动天线时域测试系统的探头定位误差的仿真,简单介绍了时域测试系统背景,详细给出随机误差输入时的误差仿真结果和结论。 相似文献
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雷达天线测量技术研究 总被引:2,自引:0,他引:2
对雷达天线近场测试技术进行了阐述,分析了测量系统的分几个关键问题重点讨论了近场系统的误差问题。并介绍了已实现的雷达天线近场测量系统的几个特殊功能,最后,进一步指出了所存在的一些问题。 相似文献
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论述了电子定标法测试天线罩瞄准误差的原理方法,并分析了该方法成立的理由。电子定标法的步骤依次为:收发天线机械轴对准-天线和差通道自检-收发天线电轴对准-电子定标寅无罩测试寅带罩测试-查表计算天线罩瞄准误差。电子定标原理和实测结果表明:测试过程中接收天线差电压与和电压之商,可分解为相对自检过程的共模分量和正交分量;定标过程共模分量保持不变,它决定天线的零深;正交分量随收发天线夹角变化,不受天线零深影响,其曲线为定标曲线;无罩和带罩定标曲线线性度极好,其斜率为天线差斜率;天线加装高性能天线罩后,差斜率变化微小;故可以使用无罩天线差斜率和带罩测试的和差通道电压,计算得出天线罩瞄准误差。差斜率近似引入的误差很小,电子定标法成立。 相似文献
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天线是雷达的关键部件,天线测试系统完成天线性能的测试。针对影响天线测试的较多因素,通过对天线测试系统特点的分析,明确天线测试系统的技术指标,提出解决天线测试系统的校准方案,为天线测试系统的正常使用提供技术保障。 相似文献
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论文基于天线阵列采用长短基线干涉仪方法实现测向的应用背景,研究了天线罩对天线阵列测向性能的影响,进一步完善了天线阵列-天线罩系统电性能测试中的相位不一致性概念,并分析了相位不一致性与测向误差之间的关系.设计了一款满足宽频带透波性能要求的A型夹层结构天线罩,并在微波暗室中进行了实物测试.实测结果表明相位不一致性与由天线罩引起的测向误差之间存在着正相关关系.证明可以运用相位不一致性衡量天线罩对测向结果的影响,进而衡量天线罩设计的优劣,并指导天线罩的设计加工.这一结论可为天线阵列-天线罩系统的设计提供有意义的理论依据. 相似文献
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本文对微波着陆系统(MLS)地面方位和仰角天线安装时的对准误差进行了论述,并对其引起的系统误差进行了分析及数学推导,给出了对准误差中,方位天线的侧倾和偏离是产生系统横向误差的主要因素,仰角天线的侧倾和俯仰是产生系统垂直误差的主要因素。 相似文献
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首先对相控阵天线的指向误差进行了概述,并对由相位误差引起的随机误差进行了分析。通过比较相控阵天线指向误差的测试结果与分析结果,确定了产生其系统误差和随机误差的主因。对型号批产时的质量控制具有一定指导作用。 相似文献
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基于通用天线近远场测试系统,给出了系统扩频设计和工程应用的思路,并分别对扩频系统的本振相参、上下变频的一致性进行了论述。实现了Ka频段以下的平面近场、远场天线测量系统的扩频与应用,并给出了8单元EHF频段阵列天线在不同测试系统下的天线测试方向图。测试结果表明,经扩频的测试系统方向图测量数据与毫米波天线测试系统直接测量的结果吻合,说明扩频系统能够满足毫米波天线方向图的测试需求,并具有较高的测试精度,且设计成本较低。同时还具有一定的通用型,对天线的毫米波扩展测试具有较好的工程应用价值。 相似文献
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光纤已被广泛研究作为在分布式阵列天线系统中向远程天线传播参考信号的有效手段.分布式阵列天线的一个关键问题是由不同天线接收的参考信号遭受由光纤长度变化以及外部环境变化引起的相位偏差,造成天线间的参考相位不同步.提出一种基于光纤的分布式阵列参考相位稳定方法,基于光纤的反馈回路来监控相位差,使用对称布置在前向通道和反馈通道上的移相器来连续地补偿相位差,实现了天线之间参考相位误差的有效连续补偿.仿真和实测结果表明,所提方法解决了分布式天线阵列光纤长度变化以及外部环境变化引起的相位偏差,当光纤分发10 MHz参考信号时,测试可得分布式天线之间的剩余相位误差小于±0.02°. 相似文献
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雷达作为大型结构件随着汽车到处移动,如果在装配过程中水平没有找准,将直接影响后续测试的精度。本文对雷达天线座水平误差的测量、计算分析和调整方法进行全面阐述,并用实例说明雷达天线座水平误差的标定过程,为今后雷达装配的天线座水平的测试与调整提供参考。 相似文献
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天线测量是天线研究过程中一项重要而又繁杂的工作,在对高性能雷达天线的研制过程中,离不开一套高精度的天线测试系统。影响天线测试系统精度的因素很多,从测量环境微波暗室、天线发射控制系统、天线接收控制系统等几方面设计了一种多通道天线测试系统,用来测量和分析天线辐射特性的各种电磁参数。设计完成的测试系统具有测
量灵敏度高、动态范围大、测量误差小、抗干扰能力强和天线原始数据采集速度快的特点,具有一次性扫描测量就可获得多频点、多通道天线数据的能力。 相似文献
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基于超低副瓣天线测试对精度的要求,利用计算机模拟的方法研究了平面近场测量中采样间距误差对超低副瓣天线副瓣的影响,得到了一些规律和有用的结果,并证明了Nyquisty采样定理在超低副瓣天线测试中的适用性和正确性。 相似文献
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