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相似文献
 共查询到10条相似文献,搜索用时 23 毫秒
1.
机载光电侦查平台对于内俯仰框架、内方位的旋转角度的测量具有很高的要求,传统的传感器已经日益难以满足侦查平台的需求,此时将高精度的电容式角位传感器应用到光电侦查平台上,实现角位移精确的测量就成为了光电侦察平台发展的重中之重。文章建立了基于偏心原理的高精度角位移测量方法,并根据此原理设计了一套实验装置,实验结果表明该设计方法测量的角度值和距离具有良好的线性度。  相似文献   

2.
本论文提出了一种天气信息云测量网络设想,基于此设想设计并实现了一种典型的天气云测量结点。根据网络中测量结点需要具有对多种数据综合采集、数据传输和远程控制能力的要求,提出了云端天气测量平台的总体方案,构建了基于3G网络的通信协议,完成了包含有多种天气测量传感器的结点硬件和软件设计并进行了测试试验。试验表明所设计系统满足云端天气测量平台的要求,具有集成便携、鲁棒性强、实时性好、传输能力好的特点。  相似文献   

3.
《电子与封装》2018,(2):16-19
在矢量网络分析仪共享平台之上设计无源互调测量系统。以矢量网络分析仪为共享平台,并与双工器、合路器等无源器件相结合,将功率放大器、双工器、合路器、矢量网络分析仪等集成测试装置。在此基础上,设计并搭建了互调测量系统。实验测试表明,自身互调测量达到≤-168 dBc@2×43 dBm。该系统具备很高的测量精度,充分利用现有资源,打造共享平台,实现多功能测试,并在系统集成上具有很好的扩展性与稳定性。  相似文献   

4.
为了摆脱目前企业应用软件系统的复杂性不断增加和需求不断变更的困境,本文结合软件建模平台StarUML和MDA技术设计并实现了一个可视化的软件开发平台.利用该平台,开发者仅仅需要编辑模型即可完成企业应用软件系统的开发.本文介绍了此平台所用到的关键技术,描述了此平台的设计思想、整体架构和开发过程,并通过开发酒店企业信息管理系统证实了此平台的可行性.  相似文献   

5.
提出了一种基于嵌入式与图像处理技术的多轴控制与测量系统解决方案。首先设计了嵌入式视频处理硬件平台。在此基础上,完成了基于Linux系统的视频采集、传输应用软件的开发及基于微软基础类(MFC)的视频处理与通信软件的开发,实现了嵌入式平台、手持平台、伺服驱动器、经纬仪间的数据交互与协同控制。通过对某测量系统的改造,实现了简化测量操作、提高测量精确度的目标。  相似文献   

6.
在电学实验的过程中常常需要测量电阻、电容或其它元件的电压,以此判断元件的好坏,但所用测量仪器精度通常有限.针对此问题,考虑到一般电学实验所测元件电压较低的特点,本文采用AT89C51单片机为控制平台,设计了一种实用的数码管显示电压表.重点设计了 A/D转换、数码管显示电路.仿真实验说明,该数码管显示电压表能够在直流电压...  相似文献   

7.
PZT基压电陶瓷精密控制机理研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文论述了压电陶瓷的基本原理及其特性、驱动方法,并设计了压电陶瓷压电特性的开环测量方案.测量过程中应进一步调整光学平台的稳定性.设计了光电接收放大器.还运用共焦腔干涉方案详细分析了压电陶瓷的压电特性.  相似文献   

8.
利用基于协议分析和逆向工程的主动测量方法对PPTV点播系统进行了研究,通过对PPTV点播协议进行分析,获悉该协议的通信格式和语义信息,总结出了PPTV点播系统的工作原理,在此基础上设计并实现了基于分布式网络爬虫的PPTV点播系统主动测量平台,并对该平台获取的用户数据进行统计分析,获得了PPTV点播系统部分用户行为特征.研究结果对P2P点播系统的监控及优化提供了研究方法.  相似文献   

9.
在数字图像处理技术得到广泛应用的背景下,使用数字图像技术对产品优劣进行测量成为测量技术中的一个发展方向。通过分析数字图像测量应用系统的结构和产品结构以及数字图像算法的特点,可以划分出产品检测平台软件的各个主要功能。然后就可以进一步设计在Windows操作系统下使用VC++6.0软件开发平台开发基于图像的产品检测软件的方案和方法。最后提出了此软件中主要功能的设计方案以及实现方法。通过具体的机器调试,实践证明,使用此软件来做图像测量能够很好地判断产品的缺陷。  相似文献   

10.
白光垂直扫描干涉测量方法具有高精度、大量程并且为非接触测量等优点,因此被广泛地应用于半导体、微机电系统(MEMS)等检测领域.传统的白光扫描干涉仪采用压电(PZT)陶瓷驱动器,虽然能实现高精度的测量,但存在量程小、测量效率低等缺点.基于此,提出了以步进电机作为驱动器、高精度光栅尺作为位置反馈的白光干涉垂直扫描运动平台,并设计了以现场可编程逻辑门阵列(FPGA)为核心处理器的控制板卡.实验证明,该运动平台在运动速度为50 μm/s时,定位偏差小于15 nm,最大行程为3 mm,实现了高精度、大行程以及高效率的扫描检测.可以以较低的成本实现对具有高深宽比的微纳器件形貌的检测.  相似文献   

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