一种新型电容器薄膜——聚苯硫醚

介绍一种高温、低损耗的新型薄膜介质材料——聚苯硫醚(PPS)及其薄膜电容器。用PPS薄膜性能的测试数据与其他常用薄膜比较,重点讨论PPS固有的性能、PPS的结构、PPS薄膜的生产和应用。金属化聚苯硫醚(MPPS)薄膜电容器的抽样测试数据表明:工作温度可高达150℃,高频下损耗低,在不同温度条件下的容量稳定性好,低吸湿性适合于制造非密封电容器;在125℃具有高绝缘电阻值,适合在要求低漏电流的线路中使用。     

“三高”条件下电容器试验应注意的几个问题

在“三高”(高温、高压、高限流器)条件下进行电容器试验应注意试验线路结构与材料的选择以及试验电压的测量等问题。     

锂离子混合超级电容器研究进展

介绍了锂离子混合超级电容器( LHS)的工作原理,及其功率密度和能量密度高、循环寿命长、充放电效率高、安全性高等优点.综述了LHS的正负极材料和电解液的研究现状,从电容器构筑,电极材料可控制备和改性处理、电解液改性等方面对锂离子混合超级电容器的发展趋势进行了评述.     

铝电解电容器的季铵有机工作电解液

合成了新型电解质材料——四烷基铵盐(季铵盐),给出了该类电解质材料的基本性质;研究并讨论了非水有机溶剂-季铵盐系统工作电解液的基础性质;对采用该电解液系统的电容器(50V-33μF)进行了105℃、1000h的贮存寿命试验和工作寿命试验,并与传统高温工作电解液进行了对比分析,证实了该类电解质的化学、电化学稳定性。该类电解质适用于宽温或高温长寿命铝电解电容器。     

电子元件、组件

TM53 02040727电容器高温老化测试系统/刘向东,唐丰(浙江大学) 仪器仪表学报。-2001,22(6).-610-613可靠性筛选试验是保证电子产品可靠性水平和质量的重要手段,高温老化是主要筛选方法之一。文中在阐述老化测试基本理论的基础上,系统介绍了电容器高温老化测试系统的设计原理。系统可同时对400工位各类电容器进行老化,并自动测试电容值和漏电流,实现失效工位的自动剔除。实际测试表明,系统精度优于5％完全符合大多数产品对使用电容器的要求。图5表3参5(木)TM42 02040728变电站变压器经济运行方式的研究/高升,鲁栗(湖南大学) 计算技术与自动化。-2001,20(4)。-28-31基于变电站变压器组合运行技术特性的分析,提出了计算变电站多台变压器组合经济运行方式的“最小交点损失法”。这种方法可直接推广应用于三绕组变压器组合经济运行的情况。实际应用结果表明,文中方法简单、实用、有效。图1参3(木)     

微型电解电容器

美国HB电子公司最近推出了其Rubicon微型铝电解电容器。当温度升高到105℃时,这种电容器还能保持很好的工作可靠性和稳定性。这种 PS_2系列产品成功地提高了电容器的温度、频率和高温负载(105℃时可使用2000小时)性能,并且降低了高频阻抗。PS_2系列共有7个规格,额定电压从6.3V到     

多层陶瓷电容器的快速无损测试

本文描述并评价了由压电材料,如钛酸钡或含铅材料,制造的多层陶瓷电容器的快速无损测试方法。该测试方法基于电容器中驻声波的内部激励,缺陷(例如分层和气孔)对驻波有强烈的抑制,对谐振无抑制则是无缺陷多层陶瓷电容器的良好表征。高速自动测试装置的测试能力约为180 000只电容器每小时,其分选准确度约为92%。     

贴片式中高压铝电解电容器的研究

以适合小型化、集约型发展的贴片式铝电解电容器为研究对象,通过优化工作电解液成分,获得了电导率高、闪火电压高、高温稳定性好等性能良好的工作电解液;并针对贴片式铝电解电容器结构及安装过程中的特殊性,对制备工艺进行了优化,研制出的贴片式中高压铝电解电容器工作电压达450 V,寿命达10 000 h(105℃)。     

聚合物支撑法制备活性炭膜材料及其超级电容性能

利用聚合物支撑法制备活性炭基碳膜材料,应用于超级电容器电极材料。研究了浓酸改性时聚合物支撑对碳膜的结构和电化学性能的影响。采用扫描电镜(SEM)、氮气等温吸脱附(BET)等方法表征材料的微观结构,采用循环伏安、恒流充放电和交流阻抗等研究其电化学电容性能。结果表明,聚合物支撑法制备的碳膜在1 A·g~(–1)的电流密度下的比电容为128.9 F·g~(–1),低于纯活性炭的比容量(173.3 F·g~(–1));但是,该碳膜在浓酸改性后的比电容达到了185.6 F·g~(–1),远高于浓酸改性的活性炭(71.1 F·g~(–1))。主要原因是支撑聚合物在高温热处理留下的碳基支撑点对于活性炭丰富的孔道结构具有保护作用。     

铝电解电容器盖板绝缘性与电解液的关系

研究了铝电解电容器不同盖板材料在不同电解液中的温度特性曲线,找出了国产盖板材料存在的缺陷,即国产电容器盖板在有电解液的高温环境中,绝缘性明显降低。在高温下材料绝缘性的丧失是电容器阳极腐蚀的主要原因。对比了进口和国产板材的lgr-t曲线图。在电容器中多余电解液是有害无益的,是铝电解电容器电化学腐蚀的温床。     

无机介质集成薄膜电容的制备研究

以Cr/Ag/Cr金属膜系为电极,电子束蒸发镁橄榄石(2MgO·SiO2)膜为绝缘介质,在陶瓷基片(表面较粗糙)上制备了MIM结构无机集成薄膜电容。光学显微镜和扫描电镜分析显示,电容的绝缘强度和介电性能主要取决于介质膜致密程度。沉积后适当的热处理有助于改善电容性能,但过度的热处理却可能导致由晶化和扩散引起的负面作用。所得电容击穿场强达到了107V/m以上,5MHz频率tanδ为0.01。     

Thermal-sensitive BST thin film capacitors for dielectric bolometer prepared by RF magnetron sputtering

We have been developing a monolithic microbolometer technology for uncooled infrared focal plane arrays (Uncooled IRFPAs) along the route from fabricating pixels of thin-film dielectric bolometers on micromachined silicon substrates. In the paper, the thermal-sensitive barium strontium titanate (BST) thin film capacitors for that objective prepared by Radio-Frequency Magnetron sputtering have been investigated focusing on the condition of fabrication of BST thin films. Capacitor-Temperature properties of the thermal-sensitive BST thin film capacitors have been measured with impedance analyzer. According to the Capacitor-temperature curves, these indicated that the temperature coefficient of dielectric constant (TCD) within the ambient temperature region highly depended on the Radio-Frequency Magnetron sputtering condition of fabrication of BST thin films. BST thin film capacitors with TCD-value more than 21%/K have been prepared on the optimized condition. That is a good base for preparation of dielectric bolometer mode of uncooled IRFPAs.     

Ta-Ta2O5-电解液体系界面导电特性的分析与研究

分析了钽电解电容器阳极氧化膜的形成过程,测试了阳极氧化膜工作的伏安特性。实验表明,阳极氧化膜在电场作用下具有整流效应,O2-跃过氧化膜/电解液界面位垒,在氧化膜中形成定向迁移,同时引发介质膜内二次电子的场助发射是该体系的主要导电机理。电解液中添加适量有机物可使电解液的闪火电压提高40 V以上,这有助于提高液体钽电解电容器的性能,扩大其应用范围。     

金属化薄膜电容器的质量控制

电容器是电视机、计算机、显示器、电子测量仪器等电子设备使用的主要电子元器件之一,它在电子线路中广泛用作储能和信息传递。该文介绍了电容器的概念、电容器的特点以及表征电容器质量的主要技术指标,论述了影响金属化薄膜电容器质量的主要因素、外界条件对电容器各技术参数的影响,明确了生产过程中提高金属化薄膜电容器质量的方法和途径。     

High-Energy-Density Waterborne Dielectrics from Polyelectrolyte-Colloid Complexes

To meet the demands of miniaturization and integration of next-generation power systems, a major challenge is to improve the energy density of used dielectric capacitors. Polymer nanocomposites are of great potential for high-energy-density capacitors. However, most of them are prepared via melt blending at high temperatures or solution processing in hazardous organic solvents, which are energy consuming and environmentally problematic. It has long remained economically and ecologically challenging to develop new dielectric materials. Here, a class of high-energy-density dielectrics made by electrostatically complexing polyvinylidene fluoride (PVDF) latex with oppositely charged chitosan in an aqueous phase is reported. At the charge neutralization point, the film of PVDF@Chitosan complexes demonstrates the highest breakdown strength (630 MV m⁻¹) and recoverable energy density (10.1 J cm⁻³), which are respectively 279% and 421% higher than the bare PVDF latex film, and far beyond most of the conventional solvent- or melt-processed polymer films. The largely improved capacitive performances are ascribed to the significant minimization of losses at the critical charge neutralization point. The concept can be extended to a wide range of colloids, including polystyrene latex and aqueous bentonite suspension, highlighting the versatility of the proposed approach to develop environmentally friendly high-performance capacitors.     

Ta2O5介质膜性能对液体钽电容器性能的影响

叙述了钽电解电容器阳极Ta2O5介质膜的形成过程,分析了电解液闪火与氧化膜击穿的微观过程。利用扫描电子显微镜(SEM)分析了阳极氧化后及产品失效后阳极钽芯表面介质膜的微观结构,并对液钽电容器失效机理进行了探讨。结果表明,介质膜内杂质或缺陷处O2-放电产生的电子发射是电解液闪火和氧化膜击穿的前驱点;在高电场或高温度的作用下,介质膜的场致晶化和热致晶化是液体钽电解电容器失效的主要模式。     

固体电解质钽电容器介质膜晶化机理及其失效分析

从场致晶化和热致晶化的角度对固体电介质钽电容器介质膜晶化现象和机理进行了讨论,并结合CA45-H-35V-470μF固体电解质钽电容器的失效分析对介质膜晶化引起电容器失效进行了进一步的说明.采用筛选、物理分析和降额使用的方法,可有效避免介质膜晶化引起的钽电解电容器失效.     

退火温度对高介电常数Ta2O5薄膜电学性能的影响

利用磁控溅射法在硅(Si)衬底上沉积了Ta2O5薄膜,对薄膜进行了不同温度的退火处理,并利用X射线衍射仪对薄膜的微观结构进行了分析.然后在Si的背面和介电薄膜的上面沉积Pt电极,组成了金属—氧化物—半导体( MOS)电容器,对不同温度下退火得到的薄膜制备的MOS电容器的电学性能进行了研究.结果表明,薄膜在700℃开始结...     

Review of Polymer‐Based Nanodielectric Exploration and Film Scale‐Up for Advanced Capacitors

The uprising demands for electrical power and electrification requires advanced dielectric functionalities including high capacitance density, high energy density, high current handling capability, high voltage, high temperature, high thermal conductivity, light weight, and environmental reliability. Nanodielectric engineering emerges and attracts extensive efforts from many countries as a result. Unlike prior reviews focusing on lab scale nanocomposite study, this review focuses on recent innovations in polymer‐based nanodielectric design on a large scale and their film scale‐up efforts for advanced capacitors. The unconventional polymer‐nanofiller engineering and their process in the last two decades are discussed. The nanofunctionalized polymers on a molecular level for high dielectric constants and high dielectric strength are briefly described. The challenge associated with film scale‐up and retention of nanodielectric properties are then pointed out to be crucial toward a transfer of dielectric and capacitor technology. Several important attempts at scaling up dielectric films and capacitors recently supported by the US government and industry are reviewed. An alternative strategic approach to achieving high performance polymer films is introduced by leveraging 2D surface coating on commercially mature large‐scale polymer films. Future pathways for high quality scalable dielectric films exhibiting desirable dielectric properties and feasibility for capacitor manufacturing are suggested.     

铜互连中SiCOF/a-C:F双层低介电常数薄膜的制备和表征

用等离子体化学气相淀积系统制备了一种新颖的SiCOF/a-C:F双层低介电常数介质薄膜,并用红外光谱表征了该薄膜的化学结构.通过测量介质的折射率发现该薄膜长时间暴露在空气中,其光频介电常数几乎不变.然而,随退火温度的增加,其光频介电常数则会减小.基于实验结果讨论了几种可能的机理.二次离子质谱分析表明在Al/a-C:F/Si结构中F和C很容易扩散到Al中,但在Al/SiCOF/a-C:F/Si结构中,则没有发现C的扩散,说明SiCOF充当了C扩散的阻挡层.分析还发现在SiCOF和a-C:F之间没有明显的界面层.