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电子探针是以微区成分分析为主,同时可以观察形貌的大型仪器。目前,我们国家有上百台电子探针,其中绝大部分是七、八十年代进口的。这些仪器所配备的计算机都已十分落后,严重地影响了仪器性能的发挥。例如,岛津EMX-SM系列电子探针所配计算机为SORDM223,仅有64K内存,双8寸软驱,早已被市场淘汰。在当时环境下开发的软件弊端很多,功能有限,一个10元素的ZAF法定量分析需要半小时,没有数字图像功能,X射线像以亮点疏密表示,灰度分辨率不过12级。我们在地质矿产部8505608-4和9505606-1两个科研项目资助下,对长春科技大学的岛津EMX-SM7型电… 相似文献
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测试样品中的硅硼钠石矿物除了具有规则的晶体形态外,还有一种无定形类别。二者光学特征差异大,定性分析如薄片鉴定、扫描电镜( SEM)等方法在形貌上的识别难以可靠地确定它们是否同为硅硼钠石矿物。本文应用电子探针原位微区分析( EPMA)技术,针对微区进行成分分析,精确测试了该矿物。 EPMA具体包括背散射电子图像( BSEI)分析技术与元素定量分析技术两种主要类型,是定性与定量分析技术的结合。测试硅硼钠石矿物要面对的主要挑战有两点:(1)硼(B)元素处于EPMA检测下限,而且无氧化物标样;(2)钠(Na)元素易迁移。针对这些检测难点,笔者采取了一系列措施,如选用氮化硼( BN)标样,避开B元素处于低位的分光晶体及加大电子束斑、延长测试时间等等。最终,在薄片分析与能谱定性分析的基础上,通过BSEI分析技术确定矿物显微结构中的均质区域,原位定量分析测试其化学成分,避免了因显微结构与成分不均造成的偏差,有力地提高了测试精度,为正确鉴定该矿物提供了可靠依据。 相似文献
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微区低含量碳、氮等超轻元素的定量分析在材料研究中有着重要意义。在低含量碳电子探针定量分析方法研究的基础上,进一步开展了低含量氮的电子探针定量分析工作。本方法着眼于提高分析精度、准确度、降低检测极限。通过实践检验,得到了令人满意的结果。一、操作参数选择:1.加速电压:由于轻元素X射线的电离分布函数与重元素不同,同时,轻元素特征X射 相似文献
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页岩储层孔隙特征与结构的观察研究 总被引:1,自引:0,他引:1
页岩气储层孔隙特征与微观结构对页岩气勘探开发具有重要意义。以五峰组、龙马溪组样品为例,使用常规扫描电镜、氩离子抛光-场发射扫描电镜对孔隙特征、微观结构进行观测,识别出多种成因-形貌孔隙类型,对储层孔隙特征进行了刻画,认为页岩储层孔隙主体处于纳米级别,孔隙形态复杂,类型多样,微裂隙发育;微米级的孔隙与微观结构可以由常规扫描电镜直接观测,而氩离子抛光蚀刻处理有利于纳米级孔隙的定性观测。分析对比了常规扫描电镜、氩离子抛光-场发射扫描电镜试验方法的优势与不足,提出将定性与定量研究手段相综合,在利用扫描电镜系统观测页岩储层孔隙结构的基础上,结合使用高压压汞、气体吸附等定量化方法可以全面描述页岩孔隙特征,是目前对页岩储层孔隙特征进行综合表征的最佳手段。 相似文献
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各种大型精密的电子显微镜,都有一个真空系统,主要给仪器的电子枪和镜筒部分提供一个高真空的空间,使电子枪发射的电子束在经过镜筒时不受气体分子的干扰,有利于形成高质量的电子显微图像,有利于进行高质量的微区成份分析。真空系统在使用过程中,由于有机械部分、电子测量与控制部分、冷却水循环部分,因此故障率较高。为了与同行相互交流经验,现将JCXA-733电子探针及JEE-4X真空镀膜仪的真空部分的三例故障分析和排除方法介绍如下。 相似文献
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国内外电真空用氧化铝陶瓷金属化层显微结构分析 总被引:8,自引:6,他引:2
利用扫描电镜和能谱仪,分析了国内、俄罗斯、英国及德国公司生产的电真空用氧化铝陶瓷的金属化层显微结构和微区成分。比较了4种金属化样品间的差异,并探讨了金属化层显微结构对焊接体焊接性能的影响。 相似文献
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页岩储层微观孔隙结构特征是储层物性特征评价的重要内容之一.本研究使用氩离子抛光-场发射环境扫描电镜技术对渤海湾盆地东营凹陷沙四段页岩中的微孔结构进行了观测,并运用图像处理软件JMicroVision对各类型微孔进行了定性和定量分析.结果表明:孔径介于100~801nm的粒内孔以及100~981nm的粒间孔对页岩总孔隙度贡献最大;粒间孔和粒内孔的大量发育与矿物含量高有关,其中含量最高的黏土矿物的粒间孔和粒内孔与微裂隙伴生,并在页岩中呈条带状分布.氩离子抛光-场发射环境扫描电镜结合JMicroVision定量分析技术精度可达纳米级,能够为页岩微孔隙研究提供直观可靠的资料. 相似文献
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一、前言:电子能量损失谱学(EELS或ELS)是研究电子激发的一次过程。一幅电子能量损失谱大致可分为三个区域:零损失区、低能损失区(5~50eV)和高能损失区(>50eV)。对各谱区进行细致的分析研究、可获得与样品化学成分或电子结构有关的信息。利用电子能量损失谱低能区研究固体的电子结构、引起物理和电子显微学界的关注。因为它不仅能提供固体的电子结构信息、还能在同一台仪器上研究固体的微区晶体结构、成分和形貌。但在电子能量损失谱5~50eV的低能区很难直接确定有关电子结构方面的信息。这是由于在该区等离子激发占主导地位、而外 相似文献
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研制了一种简单的采用选通微通道板(MCP)像增强器并与CCD摄像机配合使用的荧光寿命成像系统。在脉冲光激发下,可以直接检测试样纳秒级的时间分辨荧光像。应用多选通检测的快速寿命测量方法,可以即时显示荧光寿命图像。在该系统中,利用光纤延迟线使试样的激光激发过程与你增强器的开关动作完全同步。为了补偿激发光源的强度起伏,设计了简单的强度监视电路。给出了仪器各部分的细节和两种成分试样的验证测试结果。 相似文献
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尺寸在μm或小于μm的微颗粒样品X射线定量分析的困难不仅表现在理论计算方面,要在电子探针或X射线能谱等电子束显微分析仪上做成功微颗粒定量分析实验也不是一件容易的事。由于颗粒尺寸小(甚至小于电子束直径),束斑位置的稳定性、聚焦程度的好坏及仪器的稳定度都对测量精度带来影响,颗粒越小这种影响越大。 相似文献