边界扫描技术在含DSP电路板测试与诊断的研究与应用

针对含DSP电路板的测试与诊断问题,本文提出一种利用边界扫描技术和传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对含DSP电路板中的边界扫描器件的器件及非边界扫描器件进行了测试.测试结果表明:该测试方法对边界扫描器件及非边界扫描器件可进行有效的故障检测和故障隔离,并可将故障隔离至最小的测试单元.同时详细阐述了测试诊断方案、硬件设...     

DS电路板测试中的边界扫描技术

针对合DsP电路板的测试与诊断问题,本文提出一种利用边界扫描技术和传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对含DsP电路板中的边界扫描器件的器件及非边界扫描器件进行了测试。较大的改善了含DSP电路板的测试覆盖率和定位精度,具有非常重要的实用价值。     

基于边界扫描技术的板级测试分析

随着支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,传统的电路板测试方法如使用万用表、示波器"探针",已不能满足板级测试的需求,相反一种基于板级测试的边界扫描技术得到了迅速发展。对边界扫描测试技术的原理进行了剖析,根据边界扫描测试系统的使用规则对板级测试方法进行了分析、提出了整体测试流程,最后在通用测试的基础上进行了二次开发,提出了提高电路板测试覆盖率的方法。     

边界扫描测试技术及可测性标准IEEE1149.1

这是一篇关于可与数字专用集成电路(ASIC)的设计结合在一起的边界扫描测试技术概念的综合性文章。本文包括了IEEE可测性标准1149.1——可在设计、开发数字ASIC及系统的过程中实行的边界扫描测试技术——的特性及讨论。这些测试技术可以用于测试系统中的数字ASIC器件、装有器件的多层印刷电路板(PCB)及多芯片模块(MCM)。     

边界扫描与电路板测试技术

本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用，介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点。     

基于CPCI总线的数字板边扫设计

在数字化系统的发展中,先进FPGA和DSP等大规模集成电路得以广泛应用,其测试的困难伴随而来。以某电路板为例,进行了可测试性分析,该板应用了高端的FPGA和DSP芯片,以及CPCI总线接口,是数字化整机的典型代表。还介绍了边界扫描测试开发软件Scanworks,并通过Scanworks进行了该板的测试程序集(TPS)开发,通过开发结果来看,该TPS能有效解决CPCI总线形式下数字电路板的边扫测试,能有效覆盖该板的焊接和器件类故障,对于该电路板的批量生产检测和维护有着重要的意义。     

基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术

由BS器件和非BS器件组装的非完全BS电路板仍将在今后相当长时间内广泛存在,如何对它们应用边界扫描测试是板级边界扫描测试技术需要研究的关键问题.本文从非完全BS电路板的测试性优化设计入手,举例说明了基于边界扫描的非完全BS电路板测试诊断技术的原理和过程.     

平显/武器瞄准系统数字板的故障诊断研究

针对现役的机载平显/武器瞄准系统(HUD)数字电路板的电路原理和特点,将其分为3种故障检测与定位对象,即CPU板总线器件、CPU板非总线器件和不带CPU的普通数字板。这3类对象,可分别采用处理器仿真测试、数字集成电路的实时仿真测试和基于电路板的功能测试方法进行故障检测与定位。基于这3种对象与方法的组合,从硬件、软件上构建的平显/武器瞄准系统数字板故障诊断系统,能够适用于各种HUD数字电路板的故障检测与定位,且其故障检测与定位深度可达单个内场可更换单元。     

用边界扫描技术解决复杂电路板的测试问题

边界扫描技术通过电路板的边缘引线,就能测试和诊断电路板的制造性故障与器件的内部逻辑。这种技术特别适用于测试采用SMT电装技术和某些大规模ASIC芯片的复杂电路板。     

基于FPGA的边界扫描测试系统设计

随着集成电路技术的快速发展,传统的PCB电路板测试所采用探针的方法已经不现实,边界扫描技术解决了这一传统的PCB板测试的难题。本文设计的边界扫描测试系统可以实现对JTAG的访问以及完成对被测电路板器件IDCODE等方面的测试。实验结果表明,该系统测试方便,简单。     

Configuring a boundary scan chain for optimal testing of non-scan logic clusters

Testing of boards containing a mixture of boundary scan components and clusters of non-boundary scan logic is an interesting problem. If a tester cannot contact the non-scan logic clusters, the inputs and outputs of on board boundary scan devices may be used as virtual access points to test the clusters. In that case, the time required for testing the clusters depends on how the boundary scan chips are connected into a longer scan chain. This paper presents a technique for configuring a chain of boundary scan chips to minimize the test time for nonscan logic clusters.     

一种基于边界扫描的FIFO测试方法

针对含先进先出存储器(FIFO)电路板故障检测的问题,提出一种基于边界扫描技术编写Macro对FIFO进行读写数据的测试方法,介绍边界扫描技术测试FIFO的基本原理。通过设计适配板,应用边界扫描测试工具ScanWorks,建立边界扫描链路,编写Macro测试代码,利用JTAG接口进行间接控制,实现对FIFO进行故障检测。给出了测试系统硬件框图、简述了适配板设计要点,提供FIFO电路连接图和软件流程图,并分析FIFO测试的完备性,最后还对FIFO进行了测试验证。     

基于JTAG标准的电流模A/D转换器可测试性设计

边界扫描技术是一种重要的可测试性设计（DFT）技术，该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障，还可以测试芯片的逻辑功能。JTAG标准是该技术的相关协议。以JTAG标准为基础，结合一款新型电流模A／D转换器的测试需求，提出了一种基于JTAG标准的扫描测试结构，完成对电流模A／D转换器的参数测试。     

在数字信号处理器上实现I2C接口

数字信号处理器(DSP)广泛应用于各种信息处理系统中,同时I2C也是一种广泛使用的芯片间的通讯总线,所以在实际应用中,DSP与I2C总线接口的问题十分重要。通过对DSP及I2C总线读写时序的分析,提出了一种在DSP上实现I2C主接口的方案。方案利用DSP外部存储器接口,以及锁存器和缓冲器实现I2C接口硬件,并由软件控制I2C读写流程,具有硬件设备简单、可靠性高等特点。同时给出了用TMS320C80DSP实现该方案的例子并对其可行性进行了验证。     

基于TMS320DM6437的4通道视频数据的高速传输

采用TMS320DM6437处理器和TVP5158视频解码器为主器件,在无需外加时序控制下,可实现器件的无缝连接并完成4路视频信号的采集。采集到的4通道模拟信号解码后压缩成1路复合视频数据流并输入到DSP视频前端,DSP处理器需将复合数据流分离成4个单路信号,以供显示图像信息,此过程伴随大量的数据搬移。实验结果表明:通过DSP库函数读取并搬移图像数据速度慢,图像实时性能差;而采用EDMA3传输方式能很好地实现大量视频数据的快速搬移,使得图像实时显示速度可达到23.2 f/s(帧/秒),较传统方法在系统实时性能方面提升了22.5%,从而满足视频信号处理系统的高速实时性要求。     

基于门控结构的低功耗扫描测试方案

针对芯片测试功耗过高,严重影响芯片的良率的问题,提出了门控扫描时钟方法和门控组合逻辑方法相结合的测试方案来降低芯片测试功耗。采用该测试方案,使用Synopsys公司的DFT Compiler软件,完成了一款电力网载波通信芯片的可测性设计。结果表明,该测试方案在不降低响测试覆盖率和不增加测试时间的前提下,最终将测试功耗降低了37.3%。该测试方案能够快速有效地降低芯片测试功耗,具有广泛的应用价值。     

基于帧转移CCD的超高动态循环曝光控制技术研究

提出了一种可大幅度提升高光谱成像探测动态范围的基于帧转移电荷耦合器件(CCD)的曝光控制技术。该技术采用先积分后读出的工作模式,结合CCD快速电荷倾倒时序控制方法,能够有效清除空闲时段的无效电荷,实现超短积分时间和长积分时间曝光周期的快速切换;针对同一被探测目标,在规定时间范围内通过多档积分周期之间的快速切换,实现多档曝光周期的不间断循环曝光,从而使该技术的光谱探测动态范围相较传统技术提升2个数量级以上。设计了循环曝光档数和曝光时间可动态设置方式,时序仿真与测试结果表明,该方式能够有效提升高光谱成像技术在复杂光环境下的适应性。     

DSP在嵌入式阀门控制器中的应用

DSP是高集成、高性能指令控制应用芯片,在阀门控制器中根据控制需求采用TMS320F2812作为嵌入式处理器核心单元。文中从应用角度出发设计分析了处理机电路特点,其中电路设计综合了DSP芯片特点和可靠性要求,并最终设计实现了理想的性能。