环境应力筛选与产品可靠性

本文论述了环境应力筛选（ＥＳＳ）的原理及其对提高产品可靠性的作用，并简要介绍了美国三军ＥＳＳ规范和国家军标ＧＪＢ１０３２《电子产品环境应力筛选方法》及国外用于实施ＥＳＳ的设备情况。     

电子设备可靠性的加速试验

简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选试验（HASS）的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则...     

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术

文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选（HALT＆HASS）技术,重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时间与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。     

氮化感应致n-MOSFETs Si/SiO2界面应力的研究

本文借助氩离子（Ａｒ＾＋）背表面轰击技术研究不同氮化处理所导致的ｎ－ＭＯＳＦＥＴｓＳｉ／ＳｉＯ２界面附近剩余机械应力。结果表明：ＮＨ３氮化及Ｎ２Ｏ生长的氧化物－硅界央附近均存在较大的剩余应力,前者来自过多的界面氮结合,后者来自因为初始加速生长阶段。Ｎ２Ｏ氮化的氧化物表现出小得多的剩余应力,从而有优良的界面和体特性。     

新型Al金属化系统微波器件EB结的可靠性研究

对具有Ａｌ－Ｓｉ－Ｐｄ／ＴｉＮ／Ｔｉ／ＰｔＳｉ／Ｓｉ（样品Ａ）和Ａｌ－Ｓｉ－Ｐｄ／Ｔｉ／ＰｔＳｉ／Ｓｉ（样品Ｂ）两种新型金属化结构的微波管的ＥＢ结在不同温度、相同电流条件下进行了加速寿命试验，得到其中值寿命（ＭＴＦ）相差近一倍，激活能分别为０．９２和０．７９ｅＶ，并给出了在温度和电流应力下ＥＢ结反向击穿特性的变化规律     

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术研究

高加速寿命试验（HALT,highly accelerated life test）和高加速应力筛选试验（HASS,highly accelerated stress test）技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具。本文将就HALT＆HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的特点、关键保证,以及如何利用现有可靠性试验设备逐步开展该试验,以达到缩减研发时间与成本,提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。     

高加速应力筛选(HASS)概述

高加速应力筛选（HASS）是一种新兴的试验技术，用于产品的生产阶段。在暴露和剔除产品的制造和工艺缺陷，提高可靠性，降低野外失败和返修率等方面非常有效。从研究开发HASS的背景出发，介绍了HASS的目的及作用，重点探讨了高加速的基本原理，典型的HASS过程。     

用环境应力筛选试验研究SMT焊点可靠性

结合实际ＳＭＴ混装组件印制板,阐述了ＳＭＴ混装组件失效的机理,介绍了环境应力筛选试验的情况和结果,对影响可靠性的各种因素进行了分析与总结,指出了环境应力筛选是保证ＳＭＴ混装组件产品可靠性的必要手段。     

对具有内建可靠性的16M位贮存器芯片可靠性的评价

为了测试芯片的纠错电路在提高贮存器芯片可靠性方面的能力，我们已在加速条件下，对具有高缺陷的１６Ｍ贮存器芯片进行了应力试验，确定了生产性分选（或筛选）的成品率与可靠性之间的折衷方案，对于深沟电容器工艺在抗软差错方面的耐受能力，也在加速条件下，与纠错电路一起进行了评价。     

紫(外)激光作用下Si(CH3)4的MPI与Si原子的共振电离

在紫（外）激光作用下,利用平行板电极装置及飞行时间（ＴＯＦ）质谱仪,研究了Ｓｉ（ＣＨ３）４分子的多光子电离（ＭＰＩ）、多光子解离（ＭＰＤ）及由Ｓｉ（ＣＨ３）４解离产生的Ｓｉ原子的共振电离。得到了４０４－３７８ｎｍ内Ｓｉ（ＣＨ３）４的ＭＭＰＩ光谱及某些波长点处的ＴＯＦ质谱。根据实验结果,讨论了Ｓｉ（ＣＨ３）４的ＭＰＩ机理,得到了一些有意义的结论。     

移动通信系统设备可靠性筛选试验的应力条件

结合实际工作经验和体会,参考相关标准、规范,以产品实际应 用环境条件为基础,总结了移动通信系统设备可靠性筛选试验的边界条件,探讨了非加速和 加速应力筛选试验的应力选取方法和原则。在传统的可靠性筛选试验基础上,增加了电磁应 力的新研究内容。这更贴近产品实际工作的应力环境,在测试案例中取得了很好的结果。对 科学合理地激发产品缺陷提出了新的思路和方法     

具有多优先级的输入／输出排队ATM交换机性能分析

本文分析了Ｎ×Ｎ内部无阻塞的输入／输出排队ＡＴＭ交换机在多优先级负载输入下，交换机平均延时、吞吐量与加速因子Ｓ的关系。交换机按时隙（ＳＬＯＴ）同步工作，输入端口的到达过程为贝努利（Ｂｅｒｎｏｕｌｉ）过程，各优先级业务在每个输入端口拥有各自不同的队列，其服务规则都是先来先服务（ＦＣＦＳ）。输入缓冲容量很大，分析时假定为∞；输出缓冲容量为Ｂ（Ｂ≥Ｓ），并有反压（Ｂａｃｋｐｒｅｓｓｕｒｅ）机制保证输出缓冲器不溢出。本文研究了多优先级交换机性能与加速因子Ｓ（１≤Ｓ≤Ｎ）的关系。计算机仿真结果表明理论分析是正确的     

国外点滴

国外点滴美国联邦通信委员会加强对ＬＥＯ卫星的管制美国联邦通信委员会（ＦＣＣ）为了加速对低地球轨道（ＬＥＯ）移动通信卫星系统（ＭＳＳ）拟议中的管制，准备在１９９４年５月前接纳公众对ＭＳＳ的评论意见。ＦＣＣ的此项管制会立即影响５家正向它申请办理ＭＳＳ的公...     

电子设备环境应力筛选方法探讨

电子设备环境应力筛选是产品研制生产的一种工艺手段,筛选效果取决于旌加于产品的环境应力和电应力水平以及检测仪表的能力.施加应力的大小决定了能否在预定的时间内加速地将潜在的缺陷变为故障;检测能力的大小决定了能否将已被应力激发变成故障的潜在缺陷找出来,以便加以排除.因此,环境应力筛选又可看作是产品质量控制检查和测试过程的延伸.探讨了如何根据标准和产品的具体情况来选取筛选应力、进行电子设备环境应力筛选的方法.     

电源的环境应力筛选

１概述有大量的数据清楚表明，使电子硬件经受热循环和随机振动是消除制造工艺和元件失效、提供最终用户非常可靠的设备的很有效的方法，这一过程被定义为环境应力筛选。本文主要介绍（美国）海军电源的环境应力筛选，包括低压电源（电压小于３００Ｖ）和高压电源（电压大...     

飞行时间质谱法研究四甲基硅的多光子电离

飞行时间质谱法研究四甲基硅的多光子电离施德恒（空军第一航空学院基础部，信阳４６４０００）利用分子束与ＴＯＦ质谱技术相结合，检测了Ｓｉ（ＣＨ３）４分子在某些波长点处的ＴＯＦ质谱分布，讨论了该分子可能的ＭＰＩ机理。１实验飞行时间（ＴＯＦ）质谱检测是在分子...     

加速寿命试验中修正阿伦尼斯加速因子的研究

阿伦尼斯(Arrhenius)加速因子常用于可靠性加速寿命试验(ALT)或环境应力筛选(ESS)的温度应力加速寿命模型中,但事实上Arrhenius方程和由其得出的Arrhenius加速因子之间存在着矛盾.本文首先提出这一矛盾,接着从激活能的定义及物理意义进行分析,说明了引起矛盾的原因,并最终得出修正Ar-rhenius加速因子.     

ITU－T SG13宽带网络技术标准的研究进展（2）

ＩＴＵ－Ｔ　ＳＧ１３宽带网络技术标准的研究进展（２）邮电部赴日内瓦ＳＧ１３专家组５采用加速程序通过的建议（１）建议Ｇ．８１０（修订草案）同步网的定义及术语本建议给出用于定时和同步建议中的定义和缩略语。（２）建议Ｇ．８２１（修订草案）工作于基群以下速率...     

指数分步场合分组数据下简单步加试验的极大似然估计

对指数分布场合下的寿命分布进行研究,简单步进应力加速寿命试验中,在观察时间间隔不相等的条件下,对所获得的分组数据为寿命数据,给出加速方程中未知参数的极大似然估计（MLE）,从而计算出常应力下产品的平均寿命。     

通用串行总线面面观

１．导言１９９６年，业界的一批头面人物预言，微机体系结构的主宰芯片将为：ＡＧＰ（加速图形接口）、ＳＤＲＡＭ（同步ＤＲＡＭ）、１３９４固件和ＵＳＢ（ＵｎｉｖｅｒｓａｌＳｅｒｉａｌＢｕｓ，通用串行总线）。图１进一步发展后的ＰＣ机后面板配置Ｉｎｔｅｌ公司与...