基于试验数据的雷达系统可靠性评估

利用雷达系统研制阶段的故障数据,综合评估系统可靠性水平,可以为雷达的定型及可靠性鉴定提供依据.为了对雷达研制阶段各试验数据进行可靠性综合评估,在可靠性增长的Duane模型基础上,引入不同试验条件下的环境折合系数,建立了一种可靠性综合评估模型,并给出了相应的综合评估方法.最后,给出了所述方法与模型的一个工程应用实例.     

改进型电子装备基本可靠性综合评价方法研究

改进型电子装备研制过程的特点是没有全状态的初样机和全状态的正样机,无法采用传统的正样机进行可靠性鉴定试验对其基本可靠性进行鉴定评价.文中通过控制和收集改进型电子装备研制过程的可靠性设计、分析、系统调试、环境试验、可靠性试验和已经列装的基本型装备使用的信息,采取综合评估的方法对其基本可靠性进行综合评价,并给出改进型电子装备基本可靠性水平.改进型电子装备可靠性综合评价将对沿用部分采用统计评估、对适应性改进部分采用分析评估、对新研部分采用过程评价的方法进行考核.最后,确定了改进型电子装备基本可靠性水平综合评价工作项目、评价方法和基本原则.     

环境因子在机载电子信息系统试飞试验可靠性评估的应用

机载电子信息系统在外场试飞试验中受到空中和地面两种不同的环境应力,针对以前可靠性评估中没有引入环境因子的问题,依据相关文献,给出了环境因子的工程计算方法;利用已有的外场试飞试验数据,对该电子信息系统外场试飞试验的环境因子进行了确定,并对环境因子应用于可靠性评估前后的结果进行了比较,表明在可靠性评估中引入环境因子,可以节省试验时间.     

大型相控阵雷达可靠性评估方法

大型相控阵雷达整机外场可靠性试验可分为联调联试和验证试验两个阶段。针对现有的整机可靠性评估仅利用验证试验阶段较少的试验数据,导致整机可靠性评估结果置信度低的问题,提出一种基于改进序化关系模型的整机可靠性评估方法。该方法通过构建新的联合似然函数对传统序化关系模型进行改进,并融合联调联试数据和验证试验数据来评估整机的可靠性水平。实例表明:该方法能提高整机平均故障间隔时间在同一置信水平下的估计下限,缩短平均故障间隔时间的估计区间。     

通信产品可靠性验证试验（RDT）方法研究

靠性验证试验（RDT）具有时间周期长、样本量多和试验成本高等特点,试验方法的优劣对产品寿命评估的影响较大,本文详细介绍了通信产品可靠性验证试验方案的制定步骤和各关键因素选择策略,供产品可靠性水平评估提供参考。     

现场统计可靠性评估方法的研究

对可靠性统计试验方法进行了应用研究,介绍了现场统计可靠性评估的方法和步骤,并探讨了环境因子折算的一些实际应用问题.     

某大型电子系统可靠性指标验证方法

对于大型电子系统而言,进行全系统的可靠性鉴定试验时,存在试验能力不能满足要求的困难;同时,又因为环境应力无法人为控制、系统有效工作时间有限等因素,进行外场可靠性定量评估又存在欠试验的风险.针对某大型电子系统,通过将部分已定型设备置于试验箱外的方式对其进行了可靠性鉴定试验,并运用贝叶斯方法对其外场可靠性进行了定量的评估.结果表明,其基本可靠性和任务可靠性满足合同规定的指标要求,从而证明了该方法的有效性,对于大型电子系统的可靠性指标验证具有一定的借鉴意义.     

多技术状态产品性能可靠性仿真评估方法研究

针对某产品空投试验时多状态、小样本的特点,提出了一种基于正态环境因子的性能可靠性仿真评估方法。运用仿真技术获得了环境因子的仿真结果,利用环境因子将分散在不同空投条件下的试验数据折算到某一典型工况下,得到了较客观的产品入水可靠性评估结果。     

可靠性试验数据处理方法与工程实现

在电子装备可靠性评估过程中,通过各类试验所获得的原始数据对装备可靠性评估及可靠性设计具有重要意义,可靠性试验数据处理的效果直接影响着可靠性评估的准确性和有效性。这里介绍了可靠性试验数据的处理方法以及MATLAB和Visual C＋＋混合编程的几种方法,并综合考虑其优缺点采用其中一种方法编程实现可靠性数据处理系统,实现可靠性数据整理分析、数据处理的自动化,缩短数据处理周期,并举例说明方法的有效性和可用性。     

宇航用光纤陀螺双应力步进加速退化技术

光纤陀螺在宇航环境中会承受多种环境应力的作用,针对光纤陀螺在单一加速应力作用下的极限问题,提出双应力交叉步进加速退化试验方法,实现了寿命和可靠性评估。通过建立包含剩余标准化系数的退化轨迹模型,描述了光纤陀螺退化量与应力水平的关系。基于累积损伤模型及时间折算的模型参数估计方法进行加速退化数据的统计分析,得到光纤陀螺在使用应力水平下的寿命及可靠性信息。以光纤陀螺为对象,验证了此方法的有效性。     

舰载通信对抗设备可靠性工程管理实践

主要阐述了舰载设备可靠性工程管理实践中的可靠性设计、可靠性管理、可靠性试验等过程控制的关键.并以某舰载通信对抗设备为例,探讨舰载设备可靠性工程管理的手段和途径,为如何实现可靠性试验把握好几个重要环节.     

舰载雷达系统装备环境试验与可靠性技术应用

舰栽雷达电子设备的耐环境试验是验证产品可靠性指标的一个重要途径。本文简要介绍了电子产品可靠性设计及可靠性增长试验,着重论述了舰栽雷达电子产品环境试验以及环境试验防护技术要点,并提出了提高雷达电子装备耐环境适应性必须重视有效的可靠性增长环境试验防护技术。结合舰栽雷达电子装备的特点,给出了部分环境试验防护技术及环境应力筛选的具体应用措施。     

Effects of Test Capability on System Reliability and Availability

The impact, on system reliability and availability, of periodic testing with imperfect test equipment is analyzed. The proportion of the system tested, the frequency of testing, the accuracy of the tests, and the reliability of the test equipment are considered. The bivariate normal probability distribution is used to assess the effects of test equipment accuracy. A recursion model is developed to assess the impact of test equipment unreliability.     

基于MATLAB和VC＋＋实现可靠性试验原始数据处理系统

在电子装备的可靠性评估过程中,通过各类试验所获得的原始可靠性数据对装备可靠性评估及可靠性设计具有重要的意义。介绍了可靠性试验数据的处理方法以及MATLAB和Visual C＋＋混合编程的几种方法,并综合考虑其优缺点,然后采用其中一种方法来编程实现可靠性数据处理系统,进行可靠性数据整理分析,实现数据处理的自动化,缩短数据处理周期,并举例说明该方法的有效性和可用性。     

小子样不可修武器装备的Bayes可靠性增长分析

现有的可靠性增长模型大多是针对可修系统建立的,而现实中大多存在的是不可修产品,即产品投入可靠性增长试验出现故障后,很难修复如新再次投入试验.针对武器装备小子样、不可修的特点,提出了Bayes可靠性增长分析方法.首先利用多台产品异步增长理论得到各阶段试验数据的似然函数,然后构造了增长模型参数的Gamma-均匀验前分布并给出了模型参数估计的ML-II方法,通过Bayes统计推断对装备研制全过程的可靠性增长规律进行分析,最后通过仿真示例说明了该方法在工程上的应用.     

军用电子设备可靠性试验方法的确定及研究

可靠性试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段。针对目前可靠性试验中的薄弱环节,文章对可靠性试验进行了研究,阐述了军用电子设备如何制定可靠性的试验方案及程序,介绍了可靠性试验的制定原则和试验方法。     

熔断电阻自动测试设备研究

为了解决熔断电阻器测试过程中人工因素影响大,测试结果离散性大的问题,提出一种熔断电阻器自动测试设备的设计方案,通过采用智能化设计,让设备自动地测量待测电阻的阻值,并加载所要求的测试电流,有效地解决了以上问题。与传统测试设备相比,熔断电阻自动测试设备具有测试精度高,重复性好,操作简便,可靠性高等多种优势。     

Automatically Controlled 2-Vessel Pressure-Cooker Test-Equipment

A highly accelerated humidity test for plastic encapsulated IC reliability short-term evaluation has been studied. 2-Vessel pressure cooker test (PCT) equipment capable of controlling relative humidity and temperature independently, and of keeping specimens free from water droplet condensation, has been designed. This equipment consists of a test chamber and a vapor chamber. Humidity conditions are set by controlling the temperature difference between the test chamber and the vapor chamber. Humidity levels are controlled with the direct pressure adjustment. The whole test chamber is heated in an oven, thereby obtaining temperature stability and uniformity. Using this equipment, humidity tests were carried out on plastic molded ICs. As a result, good test reproducibility and excellent correlation in test results between PCT and conventional humidity test such as 85°C/85%RH, were obtained. As a consequence, it was found possible, in a short time, to evaluate plastic molded IC reliability quantitatively in humidity ambients using this 2-vessel PCT equipment. This equipment can be used for quality assurance testing of plastic-encapsulated ICs in a short time.     

基于加速退化的电子设备可靠性分析

提出了电子设备在退化状态下的可靠性分析问题,通过建立电子设备退化失效模型与失效阈值,解决了有正常退化数据的电子设备可靠性问题。在此基础上,研究了加速退化时的电子设备退化问题,利用加速试验来分析电子设备在非加速状态下的退化失效,从而解决了非加速状态时退化数据不足以进行可靠性分析的问题。最后,给出了计算实例。