共查询到20条相似文献,搜索用时 53 毫秒
1.
星用微波组件低气压放电与真空微放电效应研究 总被引:2,自引:0,他引:2
低气压放电效应与真空微放电效应(亦被称为电子二次倍增效应)是装载在航空器或航天器上的星用微波组件在上天过程中与正常定轨后工作所要经历的两个阶段,经历发射至定轨工作的全过程(亦被称为入轨)的星用微波组件要经历低气压放电的考验,而对定轨后运行的星用微波组件则要经受真空微放电的考验。其放电机理和环境条件各异,两种环境试验不具有互换性,对此进行了研究;并对低气压放电与真空微放电提出了相应的防护措施。 相似文献
2.
微波组件产品被广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素.高加速寿命试验能够在产品开发的早期识别出产品的设计缺陷和薄弱环节,从而改善产品的可靠性.因此,对微波组件产品的高加速寿命试验方法进行了详细的介绍,对于其高加速寿命试验的正确开展具有一定的指导意义. 相似文献
3.
针对微波组件壳体内部裸芯片出现不同程度裂纹的现象,从微波组件的工艺材料、工装设计、装配工艺过程、试验过程等逐一进行机理分析,找出了微波组件内部裸芯片开裂的真正原因。并提出了类似于该微波组件的结构在试验安装方面的控制要点。 相似文献
4.
5.
星载固态功率放大器低气压放电和微放电研究 总被引:1,自引:0,他引:1
论述了低气压放电与微放电的产生机理。以要求在低气压和真空环境下能正常工作的某星载微波固态功率放大器为例,详细介绍了在设计和生产中对低气压放电和微放电所采取的预防措施,重点从放气孔设计、多余物和污染物的控制、结构件设计和表面处理等方面进行了详细论述。对C波段20 W固态功率放大器进行了低气压实验和真空实验,并进行了性能测试。结果表明,产品在实验过程中其幅频特性、频谱和电流与常压状态相同,无异常情况。该产品在卫星实际环境中工作正常,也证实了星载微波固态功率放大器在设计和生产中采取措施的有效性和必要性。 相似文献
6.
7.
介绍了激光焊接机理和特点,分析了铝合金的激光焊接工艺特性,设计了激光焊接密封接头结构.通过对铝合金封装壳体的激光焊接密封工艺试验和分析,研究了装配间隙、材料表面状态、焊接工艺参数和工装夹具等因素对焊接密封质量的影响,成功实现了良好焊缝质量的焊接,达到微波组件氦气泄漏率低于1×10-8 Pa·m3/s的密封要求. 相似文献
8.
9.
本文介绍了某微波组件芯片剪切力和键合强度的改进案例,通过正交试验优化了粘片和键合两个关键工序,保证了产品批量生产的可靠性和工艺一致性。 相似文献
10.
主镜组件作为空间相机的关键部件,对其进行充分的随机振动试验是必不可少的,而试验环境仿真预示可以为试验条件的合理制定提供参考依据.本文对空间相机主镜组件结构建立仿真模型,通过随机振动试验仿真计算,预示了主镜组件在随机振动环境下的加速度及应力响应,验证了结构设计方案的可靠性,为相机结构设计初始阶段的力学环境条件提供合理的参... 相似文献
11.
Andrew Flint 《Journal of Electronic Testing》1997,10(1-2):65-76
Chip test practices such as functional test and Bist, and their relevance to MCM testing are summarized. Drawbacks of using these techniques, for some MCMs, are presented.Board test practices such as in-circuit test andboundary-scan, are summarized; the advantages of incorporating boardtest techniques for certain MCMs are given. Test strategies arecategorized and compared. Appropriate MCM test equipment isdiscussed. Examples of using chip, board, and hybrid test approachesare then given. 相似文献
12.
参照ISO9646介绍了一致性测试的一些基本概念和过程,分析了它的一些缺陷和不足,对互扣作性测试的概念,分类,测试方法等各方面也进行了介绍和分析,并将互操作性测试和一致性测试进行了比较,从而能在理解一致性测试的基础更好地理解互操作性测试。 相似文献
13.
汽车传感器质量直接影响汽车整体性能,本文提出利用柔性测试技术帮助汽车厂商在传感器出厂或安装到整车前,对传感器进行评价和验证。 相似文献
14.
15.
Markus Seuring 《Journal of Electronic Testing》2006,22(3):297-299
For digital chips containing functional logic and embedded memories, these are usually tested separately: Scan test is used
for testing functional logic; Memory Built-in Self Test (MBIST) is run for embedded memories. A new approach is proposed to
exercise scan test and MBIST in parallel in order to reduce production test time and improve stress tests. It requires only
small additional logic and allows to simultaneously run both test modes. In general, the approach can be used to control simultaneously
scan test and any Built-in Self Test (BIST) providing a simple pass/fail result. 相似文献
16.
17.
RFID测试标准和测试技术研究 总被引:2,自引:1,他引:1
作为RFID技术体系中的一项关键支撑技术,RFID测试对于RFID技术的进一步推广应用有着重要的意义,因此国内外相关组织和单位都纷纷推出了相应的测试标准.这些测试标准中采用的测试依据不同.测试的对象和方法也有所差别.文章就现行的一些RFID设备的测试标准进行研究,并分析了RFID测试技术的一些基本要素,对未来RFID测试技术的发展进行了展望. 相似文献
18.
19.
20.
《Spectrum, IEEE》2006,43(11):16-18
This paper describes how vascular patterns can provide a new means of identification and authentication. The new type of biometric identification device takes advantage of the fact that the network of vessels in each person's hand forms a pattern that can be distinguished from anyone else's. Unlike fingerprint scanners, vascular recognition systems do not require users to touch the sensors and remain unaffected by a user's blood pressure. With a strong combination of usability and accuracy, vascular recognition systems have the potential to be used in a wide range of applications 相似文献