一款SoC的功能测试系统的设计

针对一款基于ARM7TDMI处理器核的SoC(片上系统),设计了一个经济实用的功能测试系统,该系统采用宿主机/目标机结构.文中分析了该系统的Host程序和Monitor程序,然后以片外存储器接口模块测试、片上eSRAM(增强型SRAM)模块测试和USB客户端控制器模块测试为例,介绍SoC片上模块的测试方法.该系统符合模块化的构建思想,对于设计其他SoC功能测试系统具有一定的借鉴作用.     

SoC测试的发展趋势及挑战--安捷伦科技93000 SoC测试系统的解决方案

1前言随着半导体科技的进步,我们已经可以把越来越多的电路设计在同一个芯片中,这里面可能包含有中央处理器(CPU)、嵌入式内存(Embeddedmemory)、数字信号处理器(DSP)、数字功能模块(Digitalfunction)、模拟功能模块(Analogfunction)、模拟数字转换器(ADC,DAC)以及各种外围配置(USB,MPEG,…)等等,这就是我们所说的SoC(系统单芯片)技术。目前,很多具有中央处理器功能的消费性电子产品,如视频转换器(Set-topbox)、移动电话(mobilephones)和个人数字助理(PDA)等等,都可称之为SoC芯片。这类产品不仅在市场上占有重要地位,且其销售量…     

PON系统测试用光功率计

介绍了一种无源光网络(PON)系统中测试用的光功率计,该功率计通过特殊设计的光路和电路结构来实现PON系统中对信号光功率测试的特殊要求,即要满足线路上3种光信号波长的同时测试、在线测试和1310nm信号的突发测试功能,从而大大方便PON系统的安装、管理和维护。     

PON系统测试用光功率计

文章介绍了一种无源光网络(PON)系统中测试用的光功率计,该功率计通过特殊设计的光路和电路结构来实现PON系统中对信号光功率测试的特殊要求,即要满足线路上3种光信号波长的同时测试、在线测试和1 310 nm信号的突发测试功能,从而大大方便PON系统的安装、管理和维护.     

高速遥感卫星数传地面自动化测试系统设计

在现今星基遥感探测技术高速发展的大环境下,为更加有效地检测大容量、高速率的卫星数据传输系统的各项功能、性能指标,设计了基于空间数据系统咨询委员会(CCSDS)建议的高级在轨系统(AOS)高速遥感卫星数据传输地面自动化测试系统.该系统包含遥测数据判读、射频自动化测试与基带自动化测试三个测试子系统,本测试平台的建立可基本满足现有国内星基遥感数传系统的测试要求,且具有平台通用性.     

一种基于BFT型拓扑结构片上网络低费用测试方法

随着集成电路制作工艺的进步,多核与众核系统是片上系统的发展趋势.传统的二维网格(2D-mesh)型拓扑结构通信效率低、功耗高和时延长等缺点变得越来越明显.本文首先分析对比了几种常用拓扑结构在多核与众核情况下的性能,进而采用布线复杂度较低、性能较好的蝴蝶型胖树(BFT)拓扑结构来解决片上系统的设计和测试问题.随后,本文针...     

SRTC实现国内首次提供SAR测试系统校准服务

国家无线电监测中心检测中心(SRTC)最近获得电磁暴露(SAR)测试系统校准的国家CNAS认可资质,成为国内第一家也是目前唯一一家可以提供SAR测试系统(DASY测试系统)的第三方校准服务的专业机构.     

实现测试复用的SOC设计中的测试结构

在系统芯片SOC(system on a chip)设计中实现IP核测试复用的芯片测试结构一般包含两个部分：1)用于传送测试激励和测试响应的片上测试访问机制TAM;2)实现测试控制的芯片测试控制器。文章分析了基于测试总线的芯片测试结构,详细阐述了SOC设计中测试调度的概念,给出了一种能够灵活实现各种测试调度结果的芯片测试控制器的设计。     

数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展

IC制造工艺的发展，持续增加着VLSI电路的集成密度，亦日益加大了电路故障测试的复杂性和困难度。作者在承担相应研究课题的基础上，综述了常规通用测试方法和技术，并分析了其局限性。详细叙述了边界扫描测试(BST)标准、可测性设计(DFT)思想和内建自测试(BIST)策略。针对片上系统(SoC)和深亚微米(VDSM)技术给故障测试带来的新挑战，本文进行了初步的论述和探讨。     

程控交换机外线测试系统故障实例简析

下面针对HJD-04交换机的外线测试系统的原理和部分故障进行简要分析。1外线测试系统的功能和原理(1)外线测试系统的结构HJD-04交换机中的外线测试系统由模块处理机(MP)、外测处理机(OTP)和测量台微机3部分构成。它们之间的关系如图1所示。HJD-04测量台系统在硬件上主要由测量台微机与外测子模块构成。测量台微机通过一个2B+D端口(STI板)与模块通信处理机(CP)相连。外测处理机(OTP)则是每个模块必备的资源,它负责这个模块上所有用户线的外线测试。(2)外线测试系统的工作流程外线测试系统的工作流程如图2所示。由测试台微机将请求测…     

数字电路测试程序设计

为了更好地满足生产质量要求,严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上,文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高,功能更加强大,测试向量越来越大,测试时间也越来越长。为了降低测试成本,Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点,顺应测试行业的发展,在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例,对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。     

基于8852的雷达领域可测性技术的探究

雷达领域插件级设计的模块化、软件化、标准化、继承性的推广使得针床测试台的性能价格比得以提高,我们基于美国TERADYNE公司的"Spectrum 8852"自动测试设备,完成了6个品种插件的测试夹具、软件开发.夹具开发的自动化程度高、价格低;软件上运用4种测试理念对插件进行全方位测试,互相覆盖、互相补充,提高了故障覆盖率和准确率,具有推广使用价值.同时也给出了一些我们在开发过程中遇到的、有关可测试性设计考虑的建议.     

Structural Fault Based Specification Reduction for Testing Analog Circuits

Specification reduction can reduce test time, consequently, test cost. In this paper, a methodology to reduce specifications during specification testing for analog circuit is proposed and demonstrated. It starts with first deriving relationships between specifications and parameter variations of the circuit-under-test (CUT) and then reduces specifications by considering bounds of parameter variations. A statistical approach by taking into account of circuit fabrication process fluctuation is also employed and the result shows that the specification reduction depends on the testing confidence. A continuous-time state-variable benchmark filter circuit is applied with this methodology to demonstrate the effectiveness of the approach.     

国外运营商认证测试要求

介绍了不同层面的终端测试,即强制性测试、终端一致性测试和运营商认证测试。对国外运营商认证测试、运营商认证流程以及欧洲和北美运营商的测试要求和测试内容进行了阐述,并给出了一个运营商定义的测试例。     

Performance Comparison of VLV, ULV, and ECR Tests

It has been shown that Very-Low-Voltage and Minimum-Voltage tests can detect defects that escape tests applied at normal voltages. Energy Consumption Ratio test, a recently developed current-based test, has shown its ability to reduce the impact of process variations and detect various types of defects. These tests may be used as supplements to traditional tests to ensure high quality product. In this paper, Very-Low-Voltage, Ultra-Low-Voltage (a modified version of Minimum-Voltage), and Energy Consumption Ratio tests are applied as supplemental tests along with existing traditional tests to a biomedical IC product. The effectiveness and efficiency of these supplemental tests are evaluated and compared with some major traditional tests. The effectiveness analysis indicates that Ultra-Low-Voltage and Energy Consumption Ratio tests identified potentially defective devices from the good devices. The efficiency analysis shows that Energy Consumption Ratio test is much more efficient than Very-Low-Voltage, Ultra-Low-Voltage, and major traditional tests.     

移动智能网中SCP的性能测试

移动智能网建设中,需要对SCP系统的性能进行测试,以保证最终的系统能够符合设计要求.在SCP性能测试中,压力测试和故障切换测试是两个主要方面,本文从测试需求、测试原理、测试方法等方面对这两类测试分别进行了简要的介绍.     

浅谈产品的可靠性与可靠性实验

本文对可靠性工程中可靠性和故障的基本概念、可靠性参数指标体系等可靠性相关理论进行了简要介绍,并重点对可靠性试验进行了详细的分类和说明.由于可靠性试验直接影响到产品质量的好坏,因此可靠性试验是产品可靠性工作的重要组成部分.     

测试接口原理与电源芯片应用案例

基于对IC测试接口原理和系统结构的阐释,具体针对型号为SL431L的电源芯片,提出改进测试电路的方法,电压测试值的波动范围小于3mV。     

Web网站功能及性能测试探析

目前,测试应用正处在新的发展时期,众多软件企业已开始重视测试这个环节。现分析Web网站测试要点,着重介绍了如何设计黑盒测试用例用于网站功能测试,并提出了网站性能测试方案。结果表明,测试方案符合网站实际测试要求。     

关于蓄电池几种容量测试的比较

比较了蓄电池离线容量测试、在线容量测试、电导容量测试三种容量测试的优缺点,并给出了具体案例。从实际出发,电源维护人员所需要的最适合的容量测试方式为电导容量测试。