集成电路动态参数测试技术

数字集成电路动态参数的测试是集成电路的生产厂家和广大用户共同关心的问题。国外已有完全自动化的测试仪器,但价格高昂且难以购置。国内虽有厂家研制,也由于造价太高及功能的局限性,尚未大量投产。本文提出一种新的测试技术,可能使研制中的仪器具有性能优异、结构简单、造价较低的优点。对于中小规模的CMOS、TTL、ECL电路的动态参数测试,可以做成小型台式的自动测试仪。动态参数,也称交流参数。对于中小规模的数字集成电路,主要包括传输延迟时间     

WANG VS/CAT MOS LSI测试码生成系统

本文介绍了一个在WANG VS计算机上实现的MOS大规模集成电路测试码生成系统。该系统用经扩展的D算法生成测试码,并采用四值平行模拟算法进行故障模拟。该系统具有描述电路方便,操作简单,灵活以及易于扩充等特点。用该系统对5212和5G8255等芯片进行的测试码生成工作取得了较满意的结果。     

XJC-1集成电路群控测试仪

XJC-1集成电路群控测试仪是由主机(附一个测试盒)和三个测试台组成的TTL中、小规模集成电路直流参数测试设备。该仪器根据部标规定的测试原理将测试所需要的各种指令,包括测试参数、测试管脚、输入管脚的条件、设置电源数据、合格判别的基准值等等均预先编好,存入固定内存贮器(ROM)中,其容量完全能满足对TTL中、小规模数字集成电路各品种的测试要求。     

基于FPGA的IRIG-B(DC)解码编码器设计

针对机载测试系统以IRIG-B（DC）码作为整个系统的时间源,提出一种基于FPGA的解码编码器设计。该设计采用FPGA为主控制器,实现IRIG-B（DC）码的解码、秒脉冲生成、IRIG-B码编码等功能,当外部IRIG-B码输入中断时,可按系统时间产生IRIG-B码输出。主要阐述了IRIG-B（DC）码的格式,详细介绍了IRIG-B（DC）码解码编码器的软硬件设计,在实验室搭建测试环境对该设计进行了测试验证,结果表明该设计能够稳定可靠运行。     

探索科研新模式北京IC测试联合实验室成立

集成电路(IC)测试是集成电路产业的重要一环。设计、制造、封装、测试四业并举,是国际集成电路产业发展的主流趋势。北京集成电路测试技术联合实验室的成立,开创了科研运作的新模式。集成电路(IC)测试是集成电路产业的重要一环。设计、制造、封装、测试四业并举,是国际集成电路产业发展的主流趋势。在我国,早期的测试只是作为集成电路生产中的一个工序存在,测试产业的概念尚未形成。随着人们列集成电路品质的日益重视,测试目前正在成为集成电路产业中一个     

功耗约束下的3D多核芯片芯核级测试调度算法

三维堆叠集成电路测试中的一个关键的挑战是在功耗约束下,在绑定前测试和绑定后测试中,协同优化测试应用时间和测试硬件开销。将传统的二维芯片的绑定前和绑定后测试调度方法运用于三维堆叠集成电路的测试调度会导致测试应用时间的延长。我们分别针对未堆叠的集成电路和N(N≥2)层芯片堆叠的3D-SICs,提出了一种功耗约束下的测试调度优化算法。在ITC’02基准电路的实验结果表明,算法在功耗约束下,测试应用时间和测试数据寄存器个数分别减少多达33.8%和28.6%,证明算法能有效地权衡测试应用时间和硬件开销。     

MSI优化测试码生成系统

本文简单介绍了一个SN74系列中规模集成电路优化测试码生成系统。该系统由三部分构成。测试码生成部分——生成电子的全部测试码;故障模拟部分——得出故障字典(测试码与所测故障的对应关系);优化部分——从全部测试码中挑出能复盖电路中全部故障且个数最少的测试集。该系统已可提供使用。     

一种新型计数式积算器

本文阐述了采用MOS中规模集成电路构成的新型计数式积算器的设计思想、电路原理及主要技术关键,并着重分析了目前国产计数式积算器产生丢码与漏计的原因,对此提出了行之有效的解决途径。     

X波段上变频器设计研究

针对微波上变频器进行研究与设计。主要采用微带电路的形式完成电路的设计。采用HMC412MS8G微波单片集成电路完成微波上变频器研究,重点是利用ADS软件完成了中心频率为11.5 GHz的平行耦合线微带带通滤波器设计和测试。完成了上变频电路板的设计、安装与测试。     

基于IS014443 TYPE B 协议的实用型射频卡读写器设计

介绍了基于ISO／IEC14443 TYPE B协议的13．56MHz的RFID阅读器的设计。给出了设计的硬件电路和防冲撞算法的软件实现，最后给出了示波器测试的实验结果。本文所用的阅读器芯片为瑞士μEM公司生产的模拟前端集成电路芯片EM4094，微控制器使用了ARM7芯片LPC2104，防冲撞算法使用传统的基于ALOHA的算法。     

基于ISO14443 TYPE B协议的实用型射频卡读写器设计

介绍了基于ISO/IEC14443 TYPE B协议的13.56MHz的RFID阅读器的设计.给出了设计的硬件电路和防冲撞算法的软件实现,最后给出了示波器测试的实验结果.本文所用的阅读器芯片为瑞士μEM公司生产的模拟前端集成电路芯片EM4094,微控制器使用了ARM7芯片LPC2104,防冲撞算法使用传统的基于ALOHA的算法.     

“首届集成电路测试技术论坛”在京成功举办

随着科技进步和技术创新，集成电路产业已成为引领现代科技的重要组成部分，推动着国民经济的发展。测试技术的发展是集成电路产业的重要环节，但是在人们的传统观念中，测试只是作为集成电路生产过程中的一个工序，测试产业的概念尚未形成。随着对集成电路品质的重视日益凸显，人们开始意识到集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一；集成电路测试正逐步成为集成电路产业中一个不可或缺的独立行业。     

东方集成与苏州工业园合作，建立“集成电路研发与生产相关测试仪器设备租赁服务中心”

北京东方中科集成科技有限公司（东方集成）日前与苏州工业园合作，正式与园区内主要基础科技服务平台之一的：中科集成电路设计中心合作，共同成立了“集成电路研发与生产相关测试仪器设备租赁服务中心”。该租赁中心将配合“江苏省集成电路测试服务中心”的建设与发展，依托测试中心以集成电路测试平台为核心的集成电路测试服务协作网，充分发挥东方集成公司以其战略合作伙伴（ORIX Rentec全球最大的科技租赁公司）的实力，依靠5万种50万台件的高科技测试仪器设备库存以及公司长期专业化的本地服务经验，     

LSI／MSI数字电路功能测试仪的研制

本文介绍一种新型的通用大、中、小规模数字集成电路功能测试仪的组成、工作原理及主要软硬件的设计.该仪器具有很高的性能/价格比,适宜在我国推广使用.     

基于FPGA的脉冲变换器测试系统设计

针对脉冲变换器特殊的测试任务,以FPGA为核心,详细介绍了脉冲变换器测试系统的设计方案。该系统通过USB实现与计算机的通信,能够产生7路28V脉冲信号,完成4路模拟信号的采集,并能以PCM码的格式发送和接收数据。测试系统完成了对脉冲变换器各项功能的测试,是脉冲变换器在生产、调试过程中的唯一评价手段。     

器件的失效与DC参数测试系统的关系

本文叙述集成电路测试中遇到的几个主要问题，分析了器件测试中经济使用的ＤＣ参数测试系统的结构、与其失效参数的关系及改进的方法。对集成电路生产、测试与使用者均有一定参考作用。     

内存测试方法的研究和实现

本文主要讲述内存芯片的测试方法,并在国产集成电路测试系统上完成测试。通过硬件算法图形产生器模块弥补自动测试系统数字通道图形深度不足的问题,该模块具有24位独立地址输出,具有地址装载、保持、加一和减一等功能。采用新March算法,增加多种故障模型,优化编写图形向量,减少其图形深度,提高其故障覆盖率。不仅能加快内存芯片测试的速率,还能保证功能测试的故障覆盖率,对我国内存芯片的测试产生积极的影响。     

在电子测试技术工程教育中,使用NI LabVIEW和NI ELVIS进行IC参数测试

1引言 将NILabVIEW、NI教学实验室虚拟仪器套件II（NIELVISII）与易于使用、自定义的即插即用IC测试板结合,创建了一个用户界面友好且可编程配置的IC直流参数测试平台,为高等教育提供了测试中小规模集成电路芯片直流参数的动手实践平台。     

产生完全测试集的一种算法

提出了一种算法，用来产生组合逻辑电路中每个“总是０”和“总是１”故障的完全测试集。该算法已编成程序用来处理大规模集成电路，它以布尔差分的某特性为基础，能有效地产生完全测试试集。对透彻了解不可检测故障，可检测单故障的测试以及电路冗余性三者之间的关系，作了讨论。     

一种变游程编码的测试数据压缩方法

随着集成电路制造工艺水平的提升和芯片面积的增加,测试需要越来越多的测试数据。测试压缩能够有效地减少测试数据量,降低测试数据存储容量和测试设备数据传输通道的要求,减少测试时间,降低测试成本。提出了一种有效的测试数据压缩编码,称之为AFDR码。该码直接对测试序列中连续的0、连续的1以及交替变化位的长度进行编码,对测试序列没有要求,更加直接有效。实验结果显示,这种编码能够有效地压缩测试数据。