母盘刻录系统的光路介绍和分析

光盘母盘刻录系统的光路是由激光器、光学元件、声光调制器和显微物镜等构成的,本文试图通过介绍光路系统的各组成部件的基本原理和功能以及光路分析和调试,他从事光盘母盘刻录的技术人员对母盘刻录光学系统的基础知识有较好的了解。     

光盘技术中的光学基础(续)

二、物理光学的基本原理和概念(续) 在上期文章中,我们介绍了在物理光学中光的干涉和衍射的基本概念,本期继续介绍干涉和衍射原理在光盘技术中的应用和光的偏振。光盘的衍射读出原理     

GCY-1型光学传递函数测定仪

<正> 近年来,人们把电子学通信系统的频率过滤理论引深到光学成象系统,用来评定和检验成象质量的问题。用光学传递函数(OTF)或光学调制函数(MTF)来评定光学系统或镜头的质量就是基于这种理论发展起来的一种新的测量技术。这种测量手段能准确、迅速评定光学系统的优劣,在经济发达国家已应用到现代光学工业,特别是照相机工业中。光学传递函数对产品设计、加     

CD-R光盘常规检测参数和质量控制

《可记录光盘(CD-R)常规检测参数》(CY/T 38-2001)已于2001年8月由中华人民共和国新闻出版总署批准、公布,并于2002年1月开始实施。本文试图对CD-R光盘的这些常规检测参数的物理意义、对盘片质量的影响、该参数的工艺调整和检测方法等作一阐述,希望对可记录光盘复制企业的质量控制有所帮助。1,偏心 ECC(Eccentricity): 偏心是盘片中心孔的几何中心相对盘片信息道/预刻槽的几何中心的偏差。单位一般用μm表示。在驱动器中光学头读取信息时,轨道跟踪伺服机构使光学头在半径方向快速移动,跟随轨道读出信息。径向跟踪伺服机构的跟踪能力和频率响应有一定的范围,光学头的惰性又会限制伺服机构的反应速度,偏心     

光学头基本光学特性概论(续)

在上一期的文章中,我们已经对有关推挽道跟踪信号、 坑形控制、双折射率调整、光学头和驱动器机芯部件等内容 进行了介绍,相信读者已经有了一些初步的概念。本文将继 续上一篇文章的讨论,继续对光盘驱动器中的伺服信号进行 介绍,并将对有关复制与注塑速度提升的配套解决方案、测 量盘片翘曲的简单测试解决方案、工艺能力指数(Cpk)、高倍 速高密度可录光盘市场概况,以及对未来的展望,逐一进行     

线阵CCD在高精度测径系统中的应用

针对工业中用千分尺人工对工件直径测量的落后方法，文章设计了一套利用线阵CCD对直径实现精密测量的系统；该系统基于光学系统无接触性测量的基本原理，运用光学测量的理论和一般方法，设计并讨论了在实际运用中存在的问题及解决办法；实践证明，该系统运行稳定可靠，测量精度达到了微米级，可以用于实际的直径测量。     

光学头力矩器的原理与设计基础

在光盘系统中,光学头是复杂而精密的光、机、电集成器件,它的功能是精确地读取并输出光盘所记录的数字信息。光学头主要由半导体激光器、物镜、力矩器(Actuator)和光电转换器(PDIC)等部件组成,而力矩器则是光学头的核心组件。当光盘处于高速旋转的工作状态时,由于各种误差的存在(如光盘的制作工艺或主轴与盘片的轴孔配合等问题),盘片总是会产生一定的上下起伏、倾斜以及轨道偏移,从而导致信息轨道的读取产生一定的偏差。这种偏差将导致信号读出误码率的增加,甚至使光学头停     

用微型计算机进行光学自动设计

光学系统的设计,因光路(光线的轨迹)和象差要反复进行计算,工作量相当大。在用计算机代替人工作光路象差计算后,虽然大大提高了设计效率,但设计的方针方法仍停留在手工设计阶段,在设计中修改结构参数还是带有很大的盲目性与试探性,因此设计周期较长,一般要几个星期到几个月。为了进一步提高设计质量与设计效率便提出了自动设计的问     

光学表面面形的计算机仿真

光学表面的变形包含刚体位移和表面畸变,它们将对光学系统的成像质量产生不同的影响.通过数值方法可以求得刚体位移,但还没有专门的可视化软件对镜面面形情况进行仿真分析.提出了镜面面形的可视化仿真方法,它利用Zernike多项式与Seidel象差之间的对应关系,对有限元数据进行后处理,并采用PV值和RMS等数值解、表面畸变云图及理论干涉图等形式对镜面面形进行模拟.利用VC 和OpenGL混合编程实现了光学表面面型的计算机仿真系统.仿真试验和实际应用表明了方法的可行性及其在光机集成有限元分析中的重要作用.     

用于测试薄型光学头力矩器的小型振动传感器

1．引言光学头是一个安装在光学记录／再现设备(驱动器或者播放机)上的关键部件,它以非接触方式沿径向从放置在转台上的CD/DVD光盘上读取或者再现信息。光学头是通过力矩器来驱动物镜沿着盘片的道跟踪和聚焦方向进行调整,以便能够使激光束在指定的光盘轨道位置处聚焦形成满足要求的激光斑点。近来,随着高密度存储光盘和高数据传输率系统的兴起,高性能光     

BD蓝光光盘的复制方法及关键技术

光盘(Optical disc)从CD到DVD,直到现在发展到蓝光光盘(在本文中,将以Blu-ray Disc为例),都是为了在同样尺寸的光盘上存储或记录更大容量的信息。其中最有效的方法是缩短记录／读取的激光的波长和增大记录／读取光学头系统物镜的数值孔径(NA)。从     

可兼容HD DVD/DVD/CD的新型光学头模型

1.引言下一代光盘系统中所采用的蓝紫激光二极管(蓝色激光器)正在实践应用中蓬勃发展。与DVD/CD系统兼容的HD DVD系统是必要的,而在光学头设计领域中,研究人员已经提出了几种类型的兼容光学头[1-4]。作为兼容光学头,要解决的主要问题包括激光二极管的配置、物镜的规格以及伺服信号的检测。此外,最关键的是要保证光学头作为消费类产品的小体积和低成本。本文提出了一种小体积、低成本的兼容光学头模型,它集成了多光束激光器单元和一个光轴补偿器。2.兼容光学头HD DVD、DVD和CD光盘在外形上都是相同的,但是从光学角度来看,它们的特征…     

基于Ross Thick—LiSparseR及Ross Thick—LiTransit的核驱动BRDF计算与评价

核驱动BRDF模型是MODIS传感器用于计算全球地表反照率的AMBRALS算法系统所使用的模型。目前AMBRALS算法系统的几何光学散射核为LiSparseR核,它不能完全避免反射率为负的情况,并在遥感像元尺度应用互易原理的理论依据不充足。几何光学核LiTransit核兼有LiSparse核向LiDense核过渡的优点,比LiSparseR核更符合几何光学模型的基本原理。本文研究了基于LiSparseR核及LiTransit核驱动的方向反射率计算方法,并进行了比较验证。     

光盘——一种新式的高容量存储器

光盘系统具有储存容量大、寿命长、成本低等优点,可以代替或补充磁盘和磁带存储装置。光学存储技术的能力和优点(一个12英寸光盘最少可以存储1千兆字节的数据)已经驱使一些初始设备制造厂家(OEM)和系统设计员考虑把它合并到未来1-2年将全面投产的新计算机系统中。受到最大影响的可能是那些通常要处理大量资料档案和要长期保存数据资料的用户,诸如图书馆、办公室、医院等附加技术并将被它们要求能够高效地存取资料数据。光学存储系统于目前一些专用的计算机系统上,这些系统主要用在设计及     

我国光存储技术基础研究的进展(续)

三、超分辨率存储在光学领域中,凡是能使分辨率高于光学衍射极限的技术被通称超分辨率技术,其主要机理在于两个方面:通过对光学系统进行改进实现超分辨率,或者采用新的存储介质结构来实现超分辨率。超分辨率技术应用在光存储领域,可以有效提高存储密度,增大存储容量。近来,在光存储领域中得到应用的主要有近场存储技术和超分辨率光盘。近场存储在光学超分辨率技术中,能显著提高分辨率方法就     

BD光盘的覆盖层检测

一、前言蓝光光盘(BD:Blu-ray Disc)采用了0.1mm厚度的覆盖层,这使得BD光盘显得格外与众不同。为了更好的说明这一点,我们先简要的回顾一下光盘的发展历程。每一代光盘标准都有一些关键性的参数,例如道间距、激光波长和光学头物镜的数值孔径,如表1所示。另一个需要定义的重要参数是“覆盖层厚度(Cover Thickness)”,入射激光必须穿过这一厚度才能读出记录层上的信息。对于CD光盘而言,它对应着1.2mm的盘基厚度,而在DVD光盘中,该参数是指每个盘基(半片)的厚度0.6mm。表1光盘格式中的关键参数*外形比例(Aspect Ratio)是指直径同覆盖层厚…     

星载双天线干涉SAR基线高精度测定

星载干涉合成孔径雷达(InSAR)基线的高精度测定是获取地面数字高程信息的关键技术,针对双天线InSAR系统,采用光学系统测量和激光测距联合法。其中,光学系统用于测量基线指向,根据3点T型标志点,给出近似解析解确定算法;由于光学成像测量在相机视轴方向精度不高,需采用激光测距方法,通过信号混频FFT检测相位,最终确定基线长度。模拟结果显示,光学测量与激光测距相联合可高精度确定干涉基线矢量。     

DaTARIUS光盘检测系统的校准原理和方法

一、前言光盘检测系统的校准方法是光盘检测技术的重要内容,正确理解和掌握该方法是在光盘检测中取得正确测量数据、保证和提高产品质量的前提条件。本文就DaTARIUS光盘检测系统的校准原理和校准方法进行一些探讨。二、光盘检测系统的校准原理在CD-DA/CD-ROM国际标准中,国际上通用Phillips 5B3光盘作为CD-DA/CD-ROM中参数I3,111,RN和Jitter的基准盘(ReferenceDisc)。为了保证光盘检测系统的检测结果的统一性和正确性,国际上大多数的光盘检测系统普遍采用Phillips 5B3光盘作为光盘检测系统的基准盘。下面我们介绍DaTARIUS光盘检测系统的校准原理。     

成像微光度计光学设计与实现中几个问题的探讨

通过分析成像微光度计图像采集与处理系统对光学系统的要求，确定光学设计的依据和计算光学基本参数，构建成像微光度计光学系统，实际光学系统的设计满足了系统图像采集的基本要求，取得较好效果。最后对设计与实现中的问题进行讨论。     

用于空间的三反射镜光学系统设计

现代空间光学的发展需要很大的线视场、像质接近衍射极限或很大相对口径的无中心遮拦反射系统。能满足这些要求的非三反射系统莫属,虽然现在已有功能十分齐全的光学系统自动优化软件,但求出一个合理的初始结构尺寸还是十分重要的。文章主要探讨了用于空间的三反射镜光学系统设计方法。